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サーモフィッシャーは電子顕微鏡の技術・製品を常に進化させ、世界のユーザー様への提供を続けています。このウェブセミナーシリーズを通して、そのことをもっと知っていただき、私たちの技術を日々のご研究にどのようにお役立ていただけるか、ニーズを満たす最適な技術と製品を見出していただける機会となれば幸いです。
現在ご視聴いただけるウェブセミナーを製品群ごとの一覧で以下にご案内しております。すべて日本語でご覧いただくことができ（一部、日本語字幕付き対応を含む）、今後も随時追加していく予定です。
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ご視聴後のご感想・ご意見・ご要望なども承っております。ぜひ、お気軽にご登録ください！
電子顕微鏡ウェブセミナーシリーズにようこそ！（2020年/6月）8分、日本語このウェビセミナーシリーズの簡単な紹介です。 言語: 日本語 |
材料科学向け電子顕微鏡 e-learningの動画を視聴する
Talos F200 S/TEM の特長（2020年/4月）28分、日本語STEM TEM EDS 速い、使いやすい 材料科学向けの高スループット S/TEM 装置 Talos F200 のご紹介です。本装置では中低倍だけでなく高分解能像においても高品質な TEM、STEM 像および EDX データを短時間で取得することが可能です。本ウェブセミナーでは Talos 独自の強力、柔軟かつ操作性に富んだ高速技術のキーファクターをご説明します。 発表者：Alex Bright 言語：日本語 |
Spectra 200/300 次世代収差補正S/TEM（2020年/5月）44分、日本語STEM 超高分解能 収差補正 高感度検出 X-CFEG 安定性と空間分解能 (50 pm) が向上した 新型収差補正 S/TEM 装置 Spectra 200 および Spectra 300 のご紹介です。革新的な X-CFEG 冷陰極電界放出銃、 超高感度 STEM 検出器、iDPC 機能などを搭載する本装置では簡便な操作で超高分解能観察および最高レベルの EDX と EELS データをご提供します。 発表者：Alex Bright 言語：日本語 |
The History of TEM（2020年/4月）35分、日本語字幕STEM TEM 90年の歴史 収差補正 電子銃 TEM の歴史は 75年の歴史を誇る Philips, FEI から現在に至る Thermo Fisher Scientific の TEM 技術や製品開発と密接に関連しています。1931年から 2020 年までの透過型電子顕微鏡の歴史への冒険にご参加ください。 発表者：Eric Van Cappellen 言語：英語（日本語字幕） |
S/TEMおよびEDS取得・解析統合ソフトウェアVeloxの概要 (2020/9月）20分、日本語ソフトウェア STEM EDS ユーザーインターフェース 使いやすさ Thermo Scientific VeloxソフトウェアユーザーインターフェースはTalosおよびSpectra S/TEM機の使いやすさを決める重要な要素となっています。本ソフトウェアはTEM、STEMおよびEDSの取得と解析を統合したインターフェースで、フレーム積算、自動ドリフト補正、EDS定量やDPCイメージングといった高性能な機能も充実しています。本ウェブセミナーではこれらの詳細をご紹介します。 発表者：中西伸登 言語：日本語 |
DualBeam の紹介: DualBeam をまだご存知ない方のために（2020年/5月）24分デュアルビーム FIB 技術紹介 基本 弊社 Dualbeam システムをまだご存知ない皆様へ、DualBeam とはどういうものなのか, FIB と SEM を組み合わせるデュアルビーム装置の基本、技術およびアプリケーションを例に、簡単にご紹介します。 発表：河野佳世子 言語：日本語 |
Thermo Scientific の最新デュアルビームのラインアップのご紹介（2020年/5月）43分DualBeam ラインアップ FIB-SEM 基本最新装置の説明 Thermo Scientificのデュアルビーム (FIB-SEM) のラインアップ、各システムの特長と独自の技術を簡単にご説明します。Ga-FIBシリーズとして幅広い材料に適するScios 2と低加速でもFIB、SEM共に高分解能を特長とする Helios 5を、プラズマイオン源を利用する FIBとしてHelios PFIBとHydra、および桁違いに高速加工を可能にする新型フェムト秒レーザー搭載の Helios PFIB Laser を取り上げ、それらの技術と主なアプリケーション例を紹介します。 発表者：村田薫 言語：日本語 |
Scios 2 デュアルビームの紹介（2020年/6月）30分FIB DualBeam 断面SEM 三次元構造解析 試料作製 当社で最も汎用性に富んだデュアルビーム (FIB-SEM) システムを ご紹介します。革新的なテクノロジー、優れたスループット、操作性、高精度 FIB 加工と高コントラスト SEM 像検出、幅広い材料の TEM 試料作製とさまざまなデュアルビームのアプリケーションを可能にする Scios 2 DualBeam の特長をご説明します。 発表者：村田薫 言語：日本語 |
Helios プラズマ FIB デュアルビームの紹介（2018年/5月）37分Plasma FIB Xe+ プラズマ DualBeam 大容量加工 Gaフリー 2500nA 電流 Xe+ プラズマイオンカラムを搭載した高速加工を可能にする新型高性能 FIB-SEM デュアルビームシステムのご紹介です。Ga+ に比べて40倍以上の電流量が利用でき、広域の断面観察や三次元観察、そしてガリウムフリーの TEM 試料作製に有効です。 発表者：村田薫 言語：日本語 |
イオン源切換え型プラズマ FIB-SEM - Helios Hydra DualBeam のご紹介（2020年/6月）34分Plasma FIB Ar Xe N O プラズマイオン源 大容量加工 Gaフリー プラズマイオンを使用した全く新しい高速処理型高性能（FIB-SEM）デュアルビームです。イオン源として Xe+, Ar+, N+, O+ の４種を１台のカラムに搭載し、イオンのスイッチングは素早く簡単に行えます。どのガスにおいても2500nA のイオン電流量を利用できるため、Ga＋に比べて40倍以上の加工速度および領域が実現し、広域の断面観察や三次元観察、Arイオンによる高品質TEM試料作製等のアプリケーションに有効です。 発表者：村田薫 言語：日本語 |
フェムト秒レーザー加工付きFIB-SEM「Helios 5 Laser PFIB」のご紹介 (2020/9月）26分フェムト秒レーザー加工 高速断面加工 三次元データ取得 熱ダメージ無しの加工 1mm幅の断面 フェムト秒レーザーを完全に統合させたHelios 5 Laser PFIB は、超高速の加工でありながら高品質の切断面を提供します。 レーザーは、FIB加工が困難な材料でも、保護膜を必要とせずに簡単に加工できます。 SEM、FIB、レーザーとも一つの試料室内で試料上の同じ個所に焦点を持つため、精度の高い切断の位置決めやレーザーによる3Dデータの取得を実現します。また、レーザー加工面のプラズマFIBによる仕上げも可能です。 発表者：大西有紀子 言語：日本語 |
幅広い要望にお応えするサーモフィッシャーの SEM ラインアップ（2020年/5月）18分SEM ラインアップ ESEM 卓上型 SEM in-situ 実験 高分解能 SEM Thermo Scientific の全 SEM ラインアップ、各 SEM の特長、独自の技術と観察例を簡単にご説明します。世界中で注目を浴びている Phenom シリーズ卓上型 SEM の 初 FEG システム「Pharos] 、ESEM を含む in-situ・汎用シリーズの PrismaE と Quattro、高分解能 SEM の Apreo, Verios と新技術のColorSEMイメージングを紹介します。 発表者：小松恵理 言語：日本語 |
ColorSEM: SEM イメージングと分析技術の革新（2020年/6月）12分ColorSEM SEM+EDS 元素分布 新技術 Prisma E 2019年に発表された革新的なカラーイメージング技術、ColorSEMの紹介です。元素分布表示の速さ、簡便さおよび像質に驚きます。数十年の経験に基づいた信頼性の高いライブ定量化も実現しています。イメージングはカラーの時代です。Prisma E SEM, Quattro SEM, Apreo SEMでご使用になれます。 発表者：小松恵理 言語：日本語 |
Phenom卓上SEMシリーズのご紹介（2021年/2月）12分卓上SEM EDS 観察＋αの解析 簡単 スピーディ もっと美しく、もっと速く、もっと多才に。「見る」、「操る」、「測る」を極めたPhenom卓上SEMシリーズは、豊富なラインナップであらゆる「もっと」にお応えします。CeB6電子銃を搭載した究極のスタンダードモデル、大きな試料室で多才なモデル、全自動粒子解析モデル、FE電子銃を搭載した最高峰モデル。最適な1台が見つかります！ 発表者：和田祥子（ジャスコインタナショナル株式会社） 言語：日本語 |
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