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X 光繞射儀 (XRD) 是高效的、非破壞性的工具之一,可用以鑑定和分析多晶形材料,特別是針對其結晶學、多形性結構、晶相與結晶性變化進行分析。依據 Bragg's law 測量主要 X 光光束的繞射角度 (λ = 2d sinθ,其中 λ: 波長,d:d 間距,θ:繞射角度),可在許多研究和產業應用中進行多種多晶形材料的特性分析及鑑定。
XRD是應用於應用材料、地質樣本、製藥、奈米材料等多種產業的常規儀器。有時,部分例行品質保證和原物料 (水泥、金屬等) 管控的特性分析比較適合使用整合式儀器,例如 X 光繞射及螢光光譜儀 (XRF-XRD)。
如果您想要深入瞭解 XRD 或 XRF-XRD 儀器在您領域的應用,請洽詢我們的團隊成員。
X 光繞射儀 (XRD) 是固態科學的基礎技術,可為結晶樣本的成分和結構排列提供獨到見解。根據 Bragg's law (布拉格定律),藉由測量主要 X 光光束的繞射強度和繞射角度來獲取相關資料。在符合此定律的情況下,可在透射或反射模式中安排不同的設定來分析樣本。
X 光繞射是X光與晶體原子作用的一種現象,晶體原子間距一致性產生 X 光入射光束中的波干涉譜圖。該晶體的原子對 X 光的作用就如同刻劃光柵對光束的作用一樣 (請參見極化)。每種物質皆有專屬的干涉譜圖,可提供關於晶體內原子或分子的結構資訊。
在 XRD 測量中,樣本會放置於樣本室中,然後以相關繞射幾何所定義的角度,使用主要 X 光光束進行撞擊。Bragg-Brentano 幾何是最常用於粉末 XRD 的方法之一,又稱為 XRPD。其仰賴多個可移動部零件來偵測樣本中的次要散射 X 光,並取得完整的繞射譜圖。
若滿足 Bragg's law (布拉格定律),當主要 X 光光束與樣本作用互動時,便會繞射並產生可由偵測器擷取到的次要波束。如此便會產生繞射圖形,這便是樣本獨特結晶結構的特性分析。
與需要可移動部件及測角器的 Bragg-Brentano 幾何相比,使用 Thermo Scientific PSD (定位感應式偵測器) 可取得即時完整譜圖而無需任何可移動部件。此類幾何的圖解顯示於此。
XRD 譜圖可用於多種晶體結構分析,例如點陣常數的精密測定,晶粒尺寸的計算,結晶度計算等。這是在許多科學研究和工業產業中,最為廣泛接受的晶相控制 (包括多形性) 和定量分析的方法之一。
Thermo Fisher Scientific 粉末 X 光繞射儀,包含輕巧緊湊的桌上型 XRD 和全功能的落地型 XRD。
ARL EQUINOX 粉末 X 光繞射儀可以根據您的需求搭配各種附件使用,透過快速偵測器進行即時數據擷取。
ARL EQUINOX 100 採用完全整合式水冷系統,使用標準電源,在空間優先的情況下,可作為快速數據擷取的完美工具。其卓越的效能,是專為符合成本效益的解決方案所設計,可用於產業實驗室的例行 QC/QA,或是為 R&D 科研實驗室或教學提供結構和晶相分析。
ARL EQUINOX 1000 桌上型全功率XRD是縮減空間佔用的理想儀器,可為產業實驗室提供快速測量和高解析度的例行 QC/QA,或是為 R&D 科研實驗室或教學提供結構和晶相分析。提供各式試樣架:可用於粉末透射和反射模式、塊狀、薄膜或原位研究,以及自動樣本交換器。
Thermo Scientific ARL EQUINOX 3000 是一款易於使用的多用途 X 光繞射儀,採用獨特的曲線定位感應式 (CPS) 偵測器,非常適合用於快速測量。本產品提供研究等級解析度和包括偵測器、X 光源,光學部件,樣本附件在內的全方位多功能選項,其特殊設計使其特別適用於原位研究。
ARL EQUINOX 100:輕巧、經濟實惠、可移動的桌上型 XRD 系統,可用於 QA/QC、學術及例行應用
ARL EQUINOX 3000:高解析度偵測器、大樣本和多種X 光源選項,可進行快速準確測量,科學研究等級繞射系統
ARL EQUINOX 100 XRD 示範
Analysis of polymorphism in pharmaceuticals using XRD technique
Analysis of advanced layers and coatings using XRD technique
End-to-end polymer formulation and analysis with XRD and extrusion techniques
Analysis of high-value forensic and geological samples using XRD technique