Search Thermo Fisher Scientific
K-Alpha X-ray Photoelectron Spectrometer
The Thermo Scientific K-Alpha X-ray Photoelectron Spectrometer (XPS) System brings a new approach to surface analysis. Focused on delivering high-quality results using a streamlined workflow, the K-Alpha XPS System makes XPS operation simple and intuitive, with no sacrifice in terms of performance or capabilities.
State-of-the-art performance, reduced cost of ownership, increased ease of use, and high sample throughput make the K-Alpha XPS System ideal for a multi-user environment. The K-Alpha XPS System gives more researchers around the world access to surface analysis.
Webinar: Thermo Scientific K-Alpha XPS System
Style Sheet to change H2 style to p with em-h2-header class
High-performance X-ray source
The X-ray monochromator allows selection of analysis area from 50 µm to 400 µm in 5 µm steps, fitting it to the feature of interest to maximize the signal.
Optimized electron optics
The high-efficiency electron lens, hemispherical analyzer, and detector allow for superb detectability and rapid data acquisition.
Sample viewing
Bring sample features into focus with the K-Alpha XPS System's patented optical viewing system and XPS SnapMap, which helps you pinpoint areas of interest quickly.
Insulator analysis
The patented dual-beam flood source couples low-energy ion beams with very low energy electrons (less than 1 eV) to prevent sample charging during analysis, which eliminates the need, in most cases, for charge referencing.
Depth profiling
Go beyond the surface with the EX06 ion source. Automated source optimization and gas handling ensure excellent performance and experimental reproducibility.
Digital Control
Intuitive operation—guided by the Avantage data system—makes the K-Alpha XPS System ideal for both multi-user, shared facilities and XPS experts who place a premium on efficient operation and high-throughput analysis.
Optional sample holders
Specialist sample holders for angle-resolved XPS, sample bias measurements, or for inert transfer from a glove box are available.
Folha de estilo para especificações de tabela de produtos
| Analyzer type |
|
| X-ray source type |
|
| X-ray spot size |
|
| Depth profiling |
|
| Maximum Sample area |
|
| Maximum sample thickness |
|
| Vacuum system |
|
| Optional accessories |
|
Style Sheet to change H2 style to p with em-h2-header class
Style Sheet for Komodo Tabs
Pesquisa de baterias
O desenvolvimento de baterias tornou-se possível pela análise em várias escalas com microTC, SEM e TEM, espectroscopia Raman, XPS e visualização e análise 3D digital. Saiba como essa abordagem fornece as informações estruturais e químicas necessárias para construir baterias melhores.
Pesquisa de metais
A produção efetiva de metais requer um controle preciso de inclusões e precipitações. Nossas ferramentas automatizadas podem executar uma série de tarefas críticas para a análise de metais, incluindo: contagem de nanopartículas, análise química de EDS e preparação de amostras de TEM.
Pesquisa de polímeros
A microestrutura de polímero determina as características e o desempenho do material em massa. A microscopia eletrônica permite uma análise abrangente micrométrica da morfologia e da composição do polímero para aplicações de Pesquisa e Desenvolvimento e de controle de qualidade.
Pesquisa geológica
A geociência depende da observação consistente e precisa em várias escalas de recursos em amostras de rochas. A SEM-EDS, combinada com software de automação, permite a análise direta e em larga escala da textura e da composição mineral para a pesquisa da petrologia e da mineralogia.
Petróleo e gás
À medida que a demanda por petróleo e gás continua, há uma necessidade contínua de extração eficiente e eficaz de hidrocarbonetos. A Thermo Fisher Scientific oferece uma variedade de soluções de microscopia e espectroscopia para diferentes aplicações de ciência do petróleo.
Nanopartículas
Os materiais têm propriedades fundamentalmente diferentes nanometricamente e macrometricamente. Para estudá-las, a instrumentação S/TEM pode ser combinada com a espectroscopia de raios X por energia dispersiva para obter dados de resolução nanométrica ou até mesmo subnanométrica.
Forênsica
Os microtraços de evidências de cena de crime podem ser analisados e comparados usando a microscopia eletrônica como parte de uma investigação forense. As amostras compatíveis incluem fragmentos de vidro e de tinta, marcas de ferramentas, drogas, explosivos e resíduo de disparo de arma de fogo.
Pesquisa de catálise
Os catalisadores são essenciais para a maioria dos processos industriais modernos. Sua eficiência depende da composição e da morfologia microscópicas das partículas catalíticas. A EM com EDS é a técnica ideal para estudar essas propriedades.
Fibras e filtros
O diâmetro, a morfologia e a densidade das fibras sintéticas são parâmetros fundamentais que determinam a vida útil e a funcionalidade de um filtro. A microscopia eletrônica de varredura (SEM) é a técnica ideal para investigar essas características de forma rápida e fácil.
Materiais 2D
A pesquisa de materiais inovadores está cada vez mais interessada na estrutura de materiais de baixa dimensão. A microscopia eletrônica de transmissão de varredura com correção de sonda e monocromação permite a formação de imagens de alta resolução de materiais bidimensionais.
Teste de materiais automotivos
Cada componente em um veículo moderno é projetado para segurança, eficiência e desempenho. A caracterização detalhada dos materiais automotivos pela microscopia eletrônica e pela espectroscopia informa as decisões críticas do processo, as melhorias do produto e os novos materiais.
Style Sheet to change Sample H3 to p with em-h3-header class
Style Sheet to change H3 to p with em-h3-header class
Espectroscopia fotoeletrônica de raios X
A espectroscopia fotoeletrônica de raios X (XPS) permite analisar a superfície, fornecendo a composição elementar, bem como o estado químico e eletrônico dos 10 nm superiores de um material. Com a criação de perfil de profundidade, a análise XPS se estende a informações de composição de camadas.
Espectroscopia fotoeletrônica de raios X
A espectroscopia fotoeletrônica de raios X (XPS) permite analisar a superfície, fornecendo a composição elementar, bem como o estado químico e eletrônico dos 10 nm superiores de um material. Com a criação de perfil de profundidade, a análise XPS se estende a informações de composição de camadas.
Folha de estilo para Rodapé de suporte e serviço
Folha de estilo para Fontes
Folha de estilo para Cartões