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X-ray photoelectron spectroscopy
The Thermo Scientific Nexsa G2 X-Ray Photoelectron Spectrometer (XPS) System offers fully automated, high-throughput surface analysis, delivering the data to advance research and development or to solve production problems. The integration of XPS with ion scattering spectroscopy (ISS), UV photoelectron spectroscopy (UPS), reflected electron energy loss spectroscopy (REELS), and Raman spectroscopy, allows you to conduct true correlative analysis. The system now includes options for sample heating and sample biasing capabilities to increase the range of experiments now possible. The Nexsa G2 Surface Analysis System unlocks the potential for advances in materials science, microelectronics, nanotechnology development, and many other applications.
High-performance X-ray source
A new, low-power X-ray monochromator allows selection of the analysis area from 10 µm to 400 µm in 5 µm steps, ensuring data is collected from the feature of interest while maximizing the signal.
Optimized electron optics
The high-efficiency electron lens, hemispherical analyzer, and detector allow for superb detectability and rapid data acquisition.
Sample viewing
Bring sample features into focus with the Nexsa XPS System's patented optical viewing system and XPS SnapMap, which helps you pinpoint areas of interest quickly using a fully focused XPS image.
Insulator analysis
The patented dual-beam flood source couples low-energy ion beams with very low-energy electrons (less than 1 eV) to prevent sample charging during analysis, which eliminates the need for charge referencing, making the analysis of the data from insulating samples easy and reliable.
Depth profiling
Go beyond the surface with a standard ion source or MAGCIS, the optional dual-mode monatomic and gas cluster ion source; automated source optimization and gas handling ensure excellent performance and experimental reproducibility.
Optional sample holders
Specialist sample holders for angle-resolved XPS, sample bias measurements, or for inert transfer from a glove box are available.
Digital Control
Instrument control, data processing, and reporting are all controlled from the Windows Software-based Avantage data system.
NX sample heater module
Fully software-controlled sample heating option, enabling temperature-dependent studies.
Animation: Thermo Scientific Nexsa surface analysis system
Folha de estilo para especificações de tabela de produtos
| Analyzer type |
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| X-ray source type |
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| X-ray spot size |
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| Depth profiling |
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| Maximum Sample area |
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| Maximum sample thickness |
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| Vacuum system |
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| Optional accessories |
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Style Sheet for Komodo Tabs
Watch on-demand: Thermo Scientific Nexsa G2 Surface Analysis System Demo
You will learn how the Nexsa G2 XPS System can be used to investigate a wide range of materials using XPS, supported by the additional analysis techniques on the system: UV photoelectron spectroscopy (UPS), ion scattering spectroscopy (ISS), reflected electron energy loss spectroscopy (REELS), Raman spectroscopy, and more.
Watch on-demand: Thermo Scientific Nexsa G2 Surface Analysis System Demo
You will learn how the Nexsa G2 XPS System can be used to investigate a wide range of materials using XPS, supported by the additional analysis techniques on the system: UV photoelectron spectroscopy (UPS), ion scattering spectroscopy (ISS), reflected electron energy loss spectroscopy (REELS), Raman spectroscopy, and more.
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Pesquisa de baterias
O desenvolvimento de baterias tornou-se possível pela análise em várias escalas com microTC, SEM e TEM, espectroscopia Raman, XPS e visualização e análise 3D digital. Saiba como essa abordagem fornece as informações estruturais e químicas necessárias para construir baterias melhores.
Pesquisa de metais
A produção efetiva de metais requer um controle preciso de inclusões e precipitações. Nossas ferramentas automatizadas podem executar uma série de tarefas críticas para a análise de metais, incluindo: contagem de nanopartículas, análise química de EDS e preparação de amostras de TEM.
Pesquisa de polímeros
A microestrutura de polímero determina as características e o desempenho do material em massa. A microscopia eletrônica permite uma análise abrangente micrométrica da morfologia e da composição do polímero para aplicações de Pesquisa e Desenvolvimento e de controle de qualidade.
Pesquisa geológica
A geociência depende da observação consistente e precisa em várias escalas de recursos em amostras de rochas. A SEM-EDS, combinada com software de automação, permite a análise direta e em larga escala da textura e da composição mineral para a pesquisa da petrologia e da mineralogia.
Petróleo e gás
À medida que a demanda por petróleo e gás continua, há uma necessidade contínua de extração eficiente e eficaz de hidrocarbonetos. A Thermo Fisher Scientific oferece uma variedade de soluções de microscopia e espectroscopia para diferentes aplicações de ciência do petróleo.
Nanopartículas
Os materiais têm propriedades fundamentalmente diferentes nanometricamente e macrometricamente. Para estudá-las, a instrumentação S/TEM pode ser combinada com a espectroscopia de raios X por energia dispersiva para obter dados de resolução nanométrica ou até mesmo subnanométrica.
Forênsica
Os microtraços de evidências de cena de crime podem ser analisados e comparados usando a microscopia eletrônica como parte de uma investigação forense. As amostras compatíveis incluem fragmentos de vidro e de tinta, marcas de ferramentas, drogas, explosivos e resíduo de disparo de arma de fogo.
Pesquisa de catálise
Os catalisadores são essenciais para a maioria dos processos industriais modernos. Sua eficiência depende da composição e da morfologia microscópicas das partículas catalíticas. A EM com EDS é a técnica ideal para estudar essas propriedades.
Fibras e filtros
O diâmetro, a morfologia e a densidade das fibras sintéticas são parâmetros fundamentais que determinam a vida útil e a funcionalidade de um filtro. A microscopia eletrônica de varredura (SEM) é a técnica ideal para investigar essas características de forma rápida e fácil.
Materiais 2D
A pesquisa de materiais inovadores está cada vez mais interessada na estrutura de materiais de baixa dimensão. A microscopia eletrônica de transmissão de varredura com correção de sonda e monocromação permite a formação de imagens de alta resolução de materiais bidimensionais.
Teste de materiais automotivos
Cada componente em um veículo moderno é projetado para segurança, eficiência e desempenho. A caracterização detalhada dos materiais automotivos pela microscopia eletrônica e pela espectroscopia informa as decisões críticas do processo, as melhorias do produto e os novos materiais.
Espectroscopia fotoeletrônica de raios X
A espectroscopia fotoeletrônica de raios X (XPS) permite analisar a superfície, fornecendo a composição elementar, bem como o estado químico e eletrônico dos 10 nm superiores de um material. Com a criação de perfil de profundidade, a análise XPS se estende a informações de composição de camadas.
Espectroscopia fotoeletrônica de raios X
A espectroscopia fotoeletrônica de raios X (XPS) permite analisar a superfície, fornecendo a composição elementar, bem como o estado químico e eletrônico dos 10 nm superiores de um material. Com a criação de perfil de profundidade, a análise XPS se estende a informações de composição de camadas.
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