Thermo Scientific Orion3  静电放电测试仪设计用于测试 ESD 的潜在破坏性作用,以便在全规模生产之前识别和硬化防护结构。考虑到集成电路生产的成本极高,再加上客户要求组件交货的进度安排精准,因此 Orion3 在时间、材料以及错失的机会(上市时间)方面节省了大量成本。通过高分辨率双摄像头能够在测试计划设置程序期间轻松快速地对齐放电销。同时显示 x 轴和 y 轴。在测试过程中,摄像头可能会保持打开状态,以监测销对齐情况。无论器件类型和尺寸如何,真空固定均可对器件进行测试。

Orion3 能够按照所有常用的行业标准进行 FICDM(场诱导或空气放电)测试。事件检测器确保每次放电按预期进行,确保器件和系统放电销之间正确对齐和接触。测试完成后记录并报告事件,提供销放电确认和需要重新测试的未受力销指示。测试还可使用我们的 LI-CCDM 接触测试方法进行,此方法通过受控的阻抗环境对器件进行充电和放电,消除了在使用空气放电方法时遇到的测试问题。

主要特点

支持所有常用的测试标准

JS-002、JEDEC、ESDA、AEC 和 LI-CCDM 方法。

人机工效学工作流程

工作台高度测试区域可进行人机工效学工作流程。

高分辨率双摄像头

通过高分辨率双摄像头能够在测试计划设置期间轻松对齐放电销。

湿度水平控制

测试区域内的环境监测器可实现在测试期间利用用户供应的干燥空气或氮气淹没该区域,从而控制湿度水平。

事件检测器

事件检测器确认 ESD 放电,并在销未受力时报告。

自动波形采集

用于校准或器件测试的自动波形采集。存储每个采集波形的 I峰值和下限值/上限值

可调整固定装置

由一个内部真空泵固定被测器件 (DUT);通过可调整固定装置确保对齐。

Thermo Scientific Scimitar 软件平台

使用 Thermo Scientific Scimitar 软件平台进行直观的测试设置和测试执行。

集成的封装外形编辑器

集成的封装外形编辑器可创建任何器件,包括脱离网器件。

多器件定义格式

器件定义可以从传统应用程序、其他 Scimitar 应用程序和以基于文本 (x, y) 的格式导入。


规格

产品表格规范样式表

电气要求

  • 120 或 240 VAC,15 A 50/60 Hz

测试电压范围

  • ±25 至 ±2000 V(±1 V 步进值)

电压

  • 120 或 240 VAC,15 A

描述

  • 静电放电测试仪(带电器件模型)

湿度范围

  • 30% 至 60%,非冷凝(推荐的测试箱湿度范围低于 20%)

物品描述

  • 测试仪;带电器件模型

移动系统

  • x、y 轴 - 步进尺寸下限为 0.001,准确度为 0.00025 in.(x、y 轴 - 步进尺寸下限为 25.4 µm,准确度 6 µm);z 轴 - 垂直行程达 1.5,准确度为 0.00025 in.(z 轴 - 垂直行程达 38.1 mm,准确度为 6 µm)

规格

  • 客户提供的真空:≥ 16 in. Hg

详细信息

  • 干燥空气/氮气:60 psi 下最多为 0.25 scfm

温度范围

  • 操作温度:+15°C 至 +30°C(+59°F 至 +86°F);非工作温度:+4°C 至 +60°C(+40°F 至 +140°F)

赫兹

  • 50/60 Hz

单位规格

  • 单件
 

英制

公制

测试面积

  • 4 x 4 in.
  • 10.16 x 10.16 cm

尺寸

  • 26D x 23W x 48H in
  • 66D x 59W x 122H cm

深度 

  • 26 in
  • 66 cm

高度

  • 48 in
  • 122 cm

宽度

  • 23 in
  • 59 cm

重量

  • 300 lb
  • 112 kg

应用

ESD半导体鉴定

ESD 半导体鉴定

每个静电放电 (ESD) 控制计划都必须识别对 ESD 敏感的器件。我们提供一整套ESD测试系统,帮助满足您的器件鉴定要求。


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技术

ESD 合规性测试

静电放电(ESD)会损坏半导体和集成电路中的小功能和结构。我们提供一套全面的测试设备,用以验证您的设备是否符合目标 ESD 合规标准。

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