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新型 Thermo Scientific Iliad 300 (S)TEM 是一个高分辨率像差校正扫描透射电子显微镜,适用于多种材料科学应用。
完全集成的 Iliad 300 扫描透射电子显微镜配备了新型 Iliad EELS 能损谱仪和能量过滤器、NanoPulser (我们新的静电阀门)、可选择的 Dual-X 或 Super-X EDX 检测器系统,并可将电压从 30 提高到 300kV。Thermo Scientific Velox 软件便于您访问所有显微镜功能,而 Thermo Scientific AutoScript 软件可提供对平台的自由控制。Iliad 300 (S)TEM 具有前所未有的硬件和软件集成能力,同时可灵活选择探测器、样品杆和其他组件,有助于对先进材料进行精准分析研究。
具备先进的光学元件和高稳定性的新型 Iliad EELS 能损谱仪和能量过滤器可提供独特的集成透射电镜光学系统,以改善 EELS 数据采集体验。
为了优化 EELS 实验,必须通过显微镜和能损谱仪从样品到检测器同时传输多达数千 eV 宽的各种电子能量,而不会引入色差所导致的模糊或失真。如果使用其他硬件来实现这一目标,操作员必须持续调整显微镜和能损谱仪设置以保持正确的实验条件。Iliad 300 (S)TEM 中显微镜电子光学器件与能损谱仪之间的紧密集成使色差变焦与能损谱谱焦点相匹配,有助于确保整个实验条件范围内的准确性。
LMnO3/LaFeO3 界面的原子分辨 EELS 元素分布
在电子显微镜中使用静电阀门优化电子剂量。它有选择性地阻挡或消隐电子束,从而以高频率有效地在样品上打开和关闭电子束。TEM 通常使用磁偏转线圈,其响应时间为毫秒,并且不像静电偏转器那样具有可重复性。Nanopulser 使得对送入样品的电子量的精准时间控制成为可能,使其具有从束量高效成像到时间分辨实验的广泛应用。
适用于透射电子显微镜的先进 Thermo Scientific Velox 软件可提供完整的实验控制。它便于使用扫描透射电子显微镜 (STEM 和 TEM) 光学元件和探测器,从而提高了重复性﹑产量以及对定量 STEM 和 TEM 材料分析的支持。
Velox 软件具有集成的符合人机工效学的用户界面和易用性,可提供良好质量的成像和成分分布图。集成的 SmartCam 可实现实验的高效设置。此外,它还具有交互式探测器布局界面,可用于优化实验控制和多探测器工具上的记录。Velox 软件支持对轻元素和重元素进行高衬度原子成像,可实现针对动态研究的灵活 STEM 和 TEM 视频记录。
Velox 软件配备了独特的软件包,适用于 Thermo Scientific 电子能量损失谱和能谱。这款稳健的映射引擎集成了多种针对透射电子显微镜检查进行了优化的技术,可确保以高产量采集出色的谱图。该软件还在采集和快速后处理 EELS 和 EDX 数据期间提供实时反馈。
总体而言, Velox 软件是一款强大的工具,可在透射电子显微镜中提供出色的控制﹑高质量和多功能性,使其成为科学研究生态系统的重要组成部分。
For Research Use Only. Not for use in diagnostic procedures.