Iliad 扫描透射电子显微镜资源

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Iliad (S)TEM 电子书

用于推进材料分析的完全集成式 Iliad (S)TEM。


Iliad (S)TEM 技术资源

Iliad Ultra (S)TEM 数据表

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Iliad 300 (S)TEM 数据表

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Iliad 扫描透射电子显微镜出版物

在纳米尺度上,使用EELS和EDX对催化剂进行多模态的2D和3D分析

使用EELS 表征 Cu:CeOx 的表面还原:Cu:CeOx 纳米颗粒的EELS面扫分析,其中 Ce3+ 显示为绿色,Ce4+ 显示为红色,以及从 Ce3+ 和 Ce4+ 区域提取的相应谱图。

这项综合研究由 Maria Meledina、Dileep Krishnan、Cigdem Ozsoy-Keskinbora、Hamed Heidari、Xiochao Wu、Ulrich Simon、Sorin Lazar、Peter Tiemeijer 和 Paolo Longo 共同完成。文章探讨了在纳米尺度下,使用先进的多模态谱技术从 2D 和 3D 来理解纳米尺度下掺杂铜的氧化铈催化剂的结构。该研究在催化应用中具有广泛的相关性。

多元素化合物的准瞬时ELNES面扫成像

2D 图转换成线图,该图上显示了低能损失和不同的精细结构。可以关联来自不同 ELNES 的信息,因为它们是几乎瞬时获得的。

本研究由 Daen Jannis、Nicolas Gauquelin、Maria Meledina、Yuchen Zhao、Yunzhong Chen 以及 Jo Verbeeck 共同完成。它提出了一种新方法,克服了对异源化合物中多种元素同时进行ELNES 数据采集的挑战。该小组采用了一种简洁的方法,在不增加探测器死时间的情况下使用任意数量的偏移值,成功地实现了不同 ELNES 和低能损失结构的轻松关联。

超高能量损失EELS:为X射线吸收光谱(XAS)提供补充信息

扣除背底的EELS谱揭示了下Cu-K电离边(8.9789 keV)的ELNES和EXELFS结构。

这项研究由 Sorin Lazar、Maria Meledina、Claudia Schnohr、Thomas Hoeche、Peter Tiemeijer、Paolo Longo 和 Bert Freitag 共同完成,在 9 keV 能量下,对 X 射线吸收光谱与 ELNES 和 EXELFS 进行定量比较。该研究展示了如何使用 EELS 研究材料的结构和性能关系,并且展示了新实验装置的出色性能,它可在大幅度缩短采集时间的同时实现高能量分辨率和高收集效率。

电子能量损失谱线性背景模型的凸性约束

模拟的C元素谱图从 400 - 1400 eV 范围提取背景。

本研究论文由 Wouter Van den Broek、Daen Jannis 和 Jo Verbeeck 共同完成,提出了一个新的电子能量损失谱线性背景模型。该模型采用凸性约束,与传统的幂指数模型相比,可以更好地描述模拟和实际测量,特别是在宽能量范围内这种开发改善了元素定量结果,并提供了一个快速线性配合,保证了独特的解决方案,从而减少了用户输入的需求。 

将 EELS 推进到无人监督的定量方法

Jo Verbeeck、Daen Jannis、Wouter Van den Broek、Arno Annys、Zezhong Zhang 和 Sandra Van Aert 的这项研究侧重于开发一个完全自主的电子能量损失谱数据处理工作流程。作者提出了如何改进物理模型和背景建模过程,并引入自动功能检测以识别给定数据集中的元素。 此方法可产生更精确、准确以及用户友好的定量 EELS 谱方法。这种创新方法不仅提高了 EELS 数据处理的可靠性,还扩大了其应用范围,使其成为即使对于非专业用户也是必不可少的分析工具。