(S)TEM 技术 | EELS 光谱 | EDX 分析 | Iliad (S)TEM

使用 Iliad (S)TEM 实现多种集成 TEM 技术

Thermo Scientific Iliad (S)TEM 具有原子化成像和光谱分析功能，可为纳米级材料的结构和特性提供宝贵的见解。

透射电镜对于表征各种材料的局部结构和缺陷具有宝贵价值。高分辨率的 STEM 和 TEM 可提供有关材料原子结构的信息。

使用 HAADF (DCFI) STEM 在 300 kV宽极靴 (S-TWIN)下看到了氮化镓 [212]40.5 pm 的镓-镓哑铃形，通过快速傅立叶变换显示其39 pm 的分辨率。

现代电子研究依赖于纳米级的电性和磁性性质分析。差分相位对比 (S)STEM (DPC-STEM) 可以对样品中磁场的强度和分布进行成像，并显示磁畴结构。

DPC-STEM 可提供磁性结构中磁场方向的定量信息。此处，六铁氧体的场方向以彩色车轮表示。样品由大阪府立大学的 H. Nakajima 和 S. Mori 提供。

Lorentz (S)TEM 模式可对磁性材料进行成像，同时保留样品的磁性结构。可在高分辨率 TEM 或 STEM 模式下进行，在整个样品中具有真正的无磁场条件。它还可以通过改变磁场来触发磁现象进行原位磁化实验。

由康奈尔大学的 D. Muller 教授提供，由 130 mt 的残留磁场采集的 FeGe 薄片的洛伦兹叠层成像。刻度条等于 50 nm。

原子分辨率 STEM-EDX 提供关于化学成分的信息，能够在小局部范围内提供信息，从而帮助您将结构和化学信息相关联。

能谱 (EDS) 可提供当局部范围元素组成的信息。

现代材料研究依赖于纳米尺度下的三维分析。电子断层扫描与能谱结合可以三维表征包括整个化学和结构背景下的组分数据。

存在元素的纳米粒子的分段表面渲染：银核，铂壳（为了增加可见度，铂壳已着色为半透明）。

材料科学和半导体研究借助 EELS 得以进行广泛的分析应用。它提供高通量、高信噪比元素分布、轻元素检测、化学键信息以及氧化状态和表面声子的探测。

LMnO3/LaFeO3 界面的原子分辨 EELS 元素分布。

需要通过电子显微镜直接实时观察微观结构变化，以便了解在加热、冷却和润湿过程中的动态过程（如再结晶、晶粒生长和相变）的基本原理。

Thermo Scientific 自动化颗粒工作流程 (APW) 是一种用于纳米颗粒分析的透射电子显微镜工作流程，提供纳米级大面积、高分辨率的纳米级成像和数据采集，并进行即时处理。

For Research Use Only. Not for use in diagnostic procedures.