差相对比成像

DPC 成像

现代电子研究往往依赖于纳米级的电性和磁性特性表征。差相对比 STEM (DPC-STEM) 用于执行此类任务、使您能够对样品中和样品周围磁场的强度和分布进行成像、并直接显示磁性域结构。这项技术如此有价值的是其能够直接对数据存储和电子设备所用的复杂材料进行成像。

差相对比显微镜

DPC-STEM 应用于多个研究领域。在自旋电子学领域、通常需要确定亚微米级阵列磁性材料的微磁场状态。在光电设备中、非中心对称材料中的量子孔会导致可修改这些设备的频带结构的强压电场。这些电子器件和光电材料需要全面了解，而这是 DPC-STEM 所独有的功能。

该技术不仅限于磁性样品。极化材料和薄膜会对电子束产生类似的影响，因为电子束的材料含有固有的电场。DPC-STEM 可以在接口和表面上揭示有关键的电荷分布的关键信息，这可能会导致发现材料物理特性的新方面。

DPC-STEM 采用 (Panther) STEM 四段检测器设计，适用于 Thermo Scientific Talos S/TEM 和 Spectra S/TEM 平台。与 Thermo Scientific Velox 软件结合使用时，这些仪器允许您选择完全集成到用户界面中的实时 DPC 采集。

相关资源

应用

产品