Talos F200C Transmission Electron Microscope

The Thermo Scientific Talos F200C TEM is a 20-200 kV thermionic (scanning) transmission electron microscope uniquely designed for performance and productivity across a wide range of samples and applications, such as 2D and 3D imaging of cells, organelles, asbestos, polymers, and soft materials, both at ambient and cryogenic temperatures.

It elevates the imaging quality of beam-sensitive materials with its optional, motorized, retractable cryo-box and low-dose technique. Additionally, a side-entry retractable energy dispersive spectroscopy (EDS) detector can be added to the configuration to enable chemical analysis. The large C-Twin pole piece gap, which provides high application flexibility, combined with a reproducibly performing electron column, opens new opportunities for high-resolution 3D characterization, in situ dynamic observations, and diffraction applications, with a special emphasis on high-contrast imaging and cryo-TEM. The Talos F200C TEM is equipped with the fast 4k × 4k Thermo Scientific Ceta 16M Camera, which provides a large field-of-view and fast imaging, with high sensitivity, on a 64-bit platform.

Thermo Scientific Maps Software enables intuitive image-based navigation over a whole sample and easy correlation of results across imaging platforms. In order to retrieve large-area imaging at high-resolution Maps Software automatically acquires and stitches images to document the entire area of interest with exceptional quality. Maps Software can be used across tools and within the tool. It supports image import, overlay and alignment from other microscopes, such as SEM and light microscopy. This enables digital zoom from correlated low-magnification TEM and/or SEM to high-resolution TEM (HRTEM), which provides valuable contextual information.


Talos F200C Transmission Electron Microscope features

Superior images

High-contrast, high-quality TEM and STEM imaging with simultaneous, multiple signal detection with up to four-channel integrated STEM detectors.

Auto-alignments

All daily TEM tunings, such as focus, eucentric height, center beam shift, center condenser aperture, and rotation center are automated.

Improved productivity and reproducibility

Ultra-stable column and remote operation with SmartCam and constant power objective lenses for quick mode and HT switches. Fast, easy switching for multi-user environments.

Chemical composition data

Flexible EDS analysis reveals chemical information.

Space for more

Large analytical pole piece gap, 180° stage tilt range, and large z-range allow you to add tomography holders, in situ sample holders, and more.

Ceta CMOS Camera

The large field-of-view of the 4k × 4K Ceta CMOS Camera enables live digital zooming with high sensitivity and high speed over the entire high-tension range.


Specifications

产品表格规范样式表

TEM information limit

  • 0.18

TEM point resolution (nm)

  • 0.30

STEM resolution (nm)

  • 0.20

Applications

采用电子显微镜进行过程控制

采用电镜进行过程控制

现代工业需求高通量、质量卓越、通过稳健的工艺控制维持平衡。SEM扫描电镜TEM透射电镜工具结合专用的自动化软件,为过程监控和改进提供了快速、多尺度的信息。

使用电子显微镜进行质量控制和故障分析

质量控制和故障分析

质量控制和保证对于现代工业至关重要。我们提供一系列用于缺陷多尺度和多模式分析的 EM电子显微镜和光谱工具,使您可以为过程控制和改进做出可靠、明智的决策。

使用电镜进行基础材料研究

基础材料研究

越来越小的规模研究新型材料,以最大限度地控制其物理和化学特性。电子显微镜为研究人员提供了对微米到纳米级各种材料特性的重要见解。


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Techniques

能量色散谱EDS

能量色散谱(EDS)可采集详细的元素信息以及电子显微镜图像,为电镜观察提供关键的组成背景。利用EDS可通过快速、整体的表面扫描至各个原子以确定化学成分。

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3D EDS断层扫描

现代材料研究越来越依赖于三维的纳米级分析。3D电镜和能量色散X射线光谱可以3D表征包括整个化学和结构背景下的组分数据。

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EDS元素分析

EDS为电子显微镜观察提供重要的组分信息。尤其是我们独特的Super-X和Dual-X检测器系统添加了提高通量和/或灵敏度的选项,使您可以优化数据采集以满足您的研究优先级。

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使用EDS进行原子级元素映射

原子分辨率EDS通过区分单个原子的元素特性,为材料分析提供无与伦比的化学环境。当与高分辨率透射电镜TEM结合时,可以观察样品中原子的精确组织。

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电子能量损失谱

材料科学研究借助高分辨率EELS得以进行广泛的分析应用。这包括高通量、高信噪比元素映射,以及氧化状态和表面声子的探测。

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原位实验

需要通过电子显微镜直接实时观察微观结构变化,以便了解在加热、冷却和润湿过程中的动态过程(如再结晶、晶粒生长和相变)的基本原理。

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颗粒分析

颗粒分析在纳米材料研究和质量控制中发挥着重要作用。纳米级分辨率和卓越的电子显微镜成像可以与专用软件相结合,以快速表征粉末和微粒。

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多尺度分析

必须在更高分辨率下分析新材料,同时保留较大的样品背景。多尺度分析允许多种成像工具和模态(如X射线microCT、DualBeam、激光PFIB、SEM和TEM)关联。

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自动化颗粒工作流程

自动化纳米颗粒工作流程(APW)是一种用于纳米颗粒分析的透射电子显微镜工作流程,提供纳米级大面积、高分辨率的纳米级成像和数据采集,并进行即时处理。

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能量色散谱EDS

能量色散谱(EDS)可采集详细的元素信息以及电子显微镜图像,为电镜观察提供关键的组成背景。利用EDS可通过快速、整体的表面扫描至各个原子以确定化学成分。

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3D EDS断层扫描

现代材料研究越来越依赖于三维的纳米级分析。3D电镜和能量色散X射线光谱可以3D表征包括整个化学和结构背景下的组分数据。

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EDS元素分析

EDS为电子显微镜观察提供重要的组分信息。尤其是我们独特的Super-X和Dual-X检测器系统添加了提高通量和/或灵敏度的选项,使您可以优化数据采集以满足您的研究优先级。

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使用EDS进行原子级元素映射

原子分辨率EDS通过区分单个原子的元素特性,为材料分析提供无与伦比的化学环境。当与高分辨率透射电镜TEM结合时,可以观察样品中原子的精确组织。

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电子能量损失谱

材料科学研究借助高分辨率EELS得以进行广泛的分析应用。这包括高通量、高信噪比元素映射,以及氧化状态和表面声子的探测。

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原位实验

需要通过电子显微镜直接实时观察微观结构变化,以便了解在加热、冷却和润湿过程中的动态过程(如再结晶、晶粒生长和相变)的基本原理。

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颗粒分析

颗粒分析在纳米材料研究和质量控制中发挥着重要作用。纳米级分辨率和卓越的电子显微镜成像可以与专用软件相结合,以快速表征粉末和微粒。

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多尺度分析

必须在更高分辨率下分析新材料,同时保留较大的样品背景。多尺度分析允许多种成像工具和模态(如X射线microCT、DualBeam、激光PFIB、SEM和TEM)关联。

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自动化颗粒工作流程

自动化纳米颗粒工作流程(APW)是一种用于纳米颗粒分析的透射电子显微镜工作流程,提供纳米级大面积、高分辨率的纳米级成像和数据采集,并进行即时处理。

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