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颗粒的形态、结构、形状和大小在其化学和物理特性中起着重要作用。这对于纳米粒子尤其如此，它与散装的相应材料（在宏观层面）具有根本不同的物理特性。例如，半导体纳米粒子的尺寸可以改变其发射的光的频率和波长，使其尺寸的精确控制对于实用光学应用至关重要。了解这些微粒的结构和化学性质，以及如何进行改性，都需要通过电子显微镜等工具才能实现精确分析。
另一个例子是增材制造，此流程利用金属进料粉末生产出设计精细的组件。进料粉末颗粒的质量和一致性直接影响生产部件的质量。由于颗粒的形态和化学特性的变化可能导致不均匀的分层、缺陷增加以及灾难性的故障，因此分辨颗粒的化学和物理特性非常必要。另一方面，这些粉末的精确可视化研究有利于工艺创新，以及改进产品的设计、开发和质量控制。
另一个例子是增材制造，此流程利用金属进料粉末生产出设计精细的组件。进料粉末颗粒的质量和一致性直接影响生产部件的质量。由于颗粒的形态和化学特性的变化可能导致不均匀的分层、缺陷增加以及灾难性的故障，因此分辨颗粒的化学和物理特性非常必要。另一方面，这些粉末的精确可视化研究有利于工艺创新，以及改进产品的设计、开发和质量控制。
钴颗粒聚合物的扫描电镜（SEM ）图像。此类 SEM 图像可用多种赛默飞世尔科技软件工作流程分析和参数化。
从粉末样品中分离出的两种钴颗粒的扫描电镜（SEM） 图像。
在低放大倍数下使用扫描电镜（SEM） 成像的分散于基质上的玻璃颗粒。
使用扫描电镜（SEM）成像的粉末样品中颗粒的分组。
自动化的大面积 STEM -EDS 数据可揭示单个纳米颗粒的元素组成。使用 Avizo 软件进行数据处理。样品由 Brno 材料物理研究所 J. Bursik 提供。
通过谱图、Velox 和 Avizo 软件的组合，Talos TEM 可自动生成和分析大面积 TEM 数据，例如此纳米颗粒集合。此处，颜色对应微粒尺寸；该数据随后可定量和分析。样品由科罗拉多矿业学院的 B. Gorman 教授和 R. Richards 教授提供。
技术文件
Watch on-demand: Particle Analysis Applications Using Desktop SEM Webinar Series
In each on-demand webinar, our expert will focus on one particular analysis application and how the Phenom ParticleX Desktop SEM overcomes some of the most common challenges. See the abstracts for individual sessions below.
- How to certify your NCM powder quality with SEM+EDS
- Electron-microscope-grade cleanliness in electronics
- Speed up your automated gunshot residue analysis
- Technical cleanliness analysis with an SEM: Why?
- Understand your steel with automated inclusion analysis
- One tool for complete AM powder characterization
钴颗粒聚合物的扫描电镜（SEM ）图像。此类 SEM 图像可用多种赛默飞世尔科技软件工作流程分析和参数化。
从粉末样品中分离出的两种钴颗粒的扫描电镜（SEM） 图像。
在低放大倍数下使用扫描电镜（SEM） 成像的分散于基质上的玻璃颗粒。
使用扫描电镜（SEM）成像的粉末样品中颗粒的分组。
自动化的大面积 STEM -EDS 数据可揭示单个纳米颗粒的元素组成。使用 Avizo 软件进行数据处理。样品由 Brno 材料物理研究所 J. Bursik 提供。
通过谱图、Velox 和 Avizo 软件的组合，Talos TEM 可自动生成和分析大面积 TEM 数据，例如此纳米颗粒集合。此处，颜色对应微粒尺寸；该数据随后可定量和分析。样品由科罗拉多矿业学院的 B. Gorman 教授和 R. Richards 教授提供。
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- Electron-microscope-grade cleanliness in electronics
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- Technical cleanliness analysis with an SEM: Why?
- Understand your steel with automated inclusion analysis
- One tool for complete AM powder characterization
采用电镜进行过程控制
现代工业需求高通量、质量卓越、通过稳健的工艺控制维持平衡。SEM扫描电镜和TEM透射电镜工具结合专用的自动化软件，为过程监控和改进提供了快速、多尺度的信息。
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