下一代 Thermo Scientific Phenom XL G2 台式扫描电子显微镜 (SEM)  可实现质量控制过程的自动化,提供准确、可重现的结果,同时节省时间以实现增值工作。 

采用直观、自动化的解决方案来满足质量标准,无需手动、重复任务:

  • 获得发现故障所需的高质量信息,并在需要时快速调整您的生产流程。
  • 自动化质量控制可以处理大量样品,可以减少人类错误。
  • 易于使用的全新界面,适合各种应用,速度更快。

Phenom XL G2 Desktop SEM 可实现全屏成像和 60 秒平均时间成像。独特的 CeB6 电子源,使用寿命长,维护更少。体积小巧,占用的实验室空间很小,因此您可以将显微镜精确地放置在需要的地方。

Download Phenom XL G2 Argon-Compatible Desktop SEM Datasheet

主要特点

自动化

 Phenom XL G2 Desktop SEM 通常可通过 Phenom 编程接口 (PPI) 实现标准访问 ,这是一种通过 Python 脚本控制 Phenom XL G2 Desktop SEM 的强有力方法。如果用户具有需要重复工作来分析颗粒、孔隙、纤维或较大 SEM 图像的 SEM 工作流程 ,仪器就可以自动完成。 

长使用寿命 CeB₆  源

长使用寿命 CeB₆ (cerium hexaboride) 源具有几个优点。首先,它提供的高亮度可以与钨相比,使许多用户可以轻松获得高质量图像。第二,放射源的寿命很长,维护间隔长。 

Eucentric 样品架

在许多 SEM 应用中,如果样品可以倾斜和旋转,用户可以更深入地了解样品特性。选配 eucentric  样品架可使 eucentric 倾斜和旋转,使研究和分析更快速、更准确。 

元素鉴定 (EID)

 Phenom XL G2 Desktop SEM 可配备可选能量色散 X 射线光谱 (EDS) 检测器、以通过 X 射线分析获得更多材料见解和元素鉴定。 

逐步数据收集

专用软件包 元素鉴定软件包 (EID) 用于控制完全集成的 EDS 检测器。EID 软件中直观的分步过程可帮助用户以有组织和结构化的方式收集所有 X 射线结果。

性能数据

产品表格规范样式表
电子光学
  • 长寿命的热电子源 (CeB6)
  • 多射束电流
电子光学放大率范围
  • 160 - 200,000x
光学放大率
  • 3–16x
分辨率
  • <10 nm
图像分辨率选项
  • 960 x 600、1920 x 1200、3840 x 2400 和 7680 x 4800 像素
加速电压
  • 默认: 5 kV、10 kV 和 15 kV
  • 高级模式:可在 4.8 kV 至 20.5 kV 成像与分析模式之间调节范围
真空水平
  • 低 - 中 - 高
检测器
  • 背散射电子检测器(标配)
  • 二级电子检测器(可选)
  • 能量色散型 X 射线光谱 (EDS) 检测器(可选)
样本尺寸
  • 最大 100 mm x 100 mm(最大 36 x 12 mm 针脚)
  • 最大 40 mm (h)
样品加载时间
  • 光学 <5 秒 
  • 电子光学 <60 秒
媒体标签样式表

网络讲座: 自动化您的质量控制

此按需网络讲座展示了如何通过下一代自动化桌面分析来改善质量控制流程。 观看网络讲座,您将学习如何进行以下操作:

  • 获得发现故障所需的高质量信息,并在需要时快速调整您的生产流程。
  • 自动化质量控制可以处理大量样品,可以减少人类错误。(我们可以根据需求提供定制和标准解决方案。)
  • 易于使用的全新界面,适合各种应用,速度更快。

网络讲座:扫描电子显微镜:选择适合您需求的技术

这一应要求举办的网络讲座旨在帮助您确定哪一款 SEM 最符合您的独特需求。我们概述了 Thermo Fisher Scientific SEM 技术适合多用户研究实验室,重点介绍这些广泛的解决方案如何实现性能、多功能性、原位动力学以及更快得出结果。如果您有兴趣,请观看该网络讲座:

  • 如何满足不同微区分析模式的需求(EDX、EBSD、WDS、CL 等)。
  • 如何自然状态下表征样品,从而无需进行样品制备。
  • 先进的自动化技术如何使研究人员节省时间并提高生产率。

网络讲座: 自动化您的质量控制

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  • 获得发现故障所需的高质量信息,并在需要时快速调整您的生产流程。
  • 自动化质量控制可以处理大量样品,可以减少人类错误。(我们可以根据需求提供定制和标准解决方案。)
  • 易于使用的全新界面,适合各种应用,速度更快。

网络讲座:扫描电子显微镜:选择适合您需求的技术

这一应要求举办的网络讲座旨在帮助您确定哪一款 SEM 最符合您的独特需求。我们概述了 Thermo Fisher Scientific SEM 技术适合多用户研究实验室,重点介绍这些广泛的解决方案如何实现性能、多功能性、原位动力学以及更快得出结果。如果您有兴趣,请观看该网络讲座:

  • 如何满足不同微区分析模式的需求(EDX、EBSD、WDS、CL 等)。
  • 如何自然状态下表征样品,从而无需进行样品制备。
  • 先进的自动化技术如何使研究人员节省时间并提高生产率。

应用

采用电子显微镜进行过程控制

采用电镜进行过程控制

现代工业需求高通量、质量卓越、通过稳健的工艺控制维持平衡。SEM扫描电镜TEM透射电镜工具结合专用的自动化软件,为过程监控和改进提供了快速、多尺度的信息。

使用电子显微镜进行质量控制和故障分析

质量控制和故障分析

质量控制和保证对于现代工业至关重要。我们提供一系列用于缺陷多尺度和多模式分析的 EM电子显微镜和光谱工具,使您可以为过程控制和改进做出可靠、明智的决策。

使用电镜进行基础材料研究

基础材料研究

越来越小的规模研究新型材料,以最大限度地控制其物理和化学特性。电子显微镜为研究人员提供了对微米到纳米级各种材料特性的重要见解。

使用扫描电镜(SEM)进行部件清洁度检测时发现铝矿物颗粒

组件清洁度检测

现今比以往任何时候都更需要可靠、高质量的组件。借助扫描电镜,可以实现备件清洁度分析,获得多种分析数据,从而缩短生产周期。

EDS元素分析

EDS为电子显微镜观察提供重要的组分信息。尤其是我们独特的Super-X和Dual-X检测器系统添加了提高通量和/或灵敏度的选项,使您可以优化数据采集以满足您的研究优先级。

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3D EDS断层扫描

现代材料研究越来越依赖于三维的纳米级分析。3D电镜和能量色散X射线光谱可以3D表征包括整个化学和结构背景下的组分数据。

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使用EDS进行原子级元素映射

原子分辨率EDS通过区分单个原子的元素特性,为材料分析提供无与伦比的化学环境。当与高分辨率透射电镜TEM结合时,可以观察样品中原子的精确组织。

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多尺度分析

必须在更高分辨率下分析新材料,同时保留较大的样品背景。多尺度分析允许多种成像工具和模态(如X射线microCT、DualBeam、激光PFIB、SEM和TEM)关联。

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EDS元素分析

EDS为电子显微镜观察提供重要的组分信息。尤其是我们独特的Super-X和Dual-X检测器系统添加了提高通量和/或灵敏度的选项,使您可以优化数据采集以满足您的研究优先级。

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3D EDS断层扫描

现代材料研究越来越依赖于三维的纳米级分析。3D电镜和能量色散X射线光谱可以3D表征包括整个化学和结构背景下的组分数据。

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使用EDS进行原子级元素映射

原子分辨率EDS通过区分单个原子的元素特性,为材料分析提供无与伦比的化学环境。当与高分辨率透射电镜TEM结合时,可以观察样品中原子的精确组织。

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多尺度分析

必须在更高分辨率下分析新材料,同时保留较大的样品背景。多尺度分析允许多种成像工具和模态(如X射线microCT、DualBeam、激光PFIB、SEM和TEM)关联。

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