枪射残留物 (GSR) 分析在确定是否在犯罪中使用了枪支方面发挥了重要作用。成熟的 GSR 分析技术来自于扫描电子显微镜 (SEM) 的使用,其用于扫描样品,并找到疑似的 GSR 微粒。如果发现疑似颗粒,则使用能量色散谱 (EDS) 技术来识别该颗粒中的元素。 

Thermo Scientific Phenom Perception GSR Desktop SEM  是唯一一款专为枪射残留物分析而设计的 SEM。由于系统是自动化的,您可以加快分析过程。无需每次更改您的设置,您可以仅关注手头的任务。 

高亮度  CeB6  源是台式 Phenom 系统的核心。这意味着您可以确信它将提供可靠、持久的日常使用,并且无需意外地更换。Phenom Perception GSR Desktop SEM 可实现前所未有的按需求、更快、更简单和更可靠的枪射残留物留分析。非常适合每个希望节省时间和地面空间的繁忙实验室。

  • 专用枪射残留物分析解决方案
  • 只需要一个小的实验室空间
  • 24/7 全天候稳定运行
  • 长寿命的 CeB6  源

主要特点

高通量,结果可靠

得益于全电动平台, Phenom Perception GSR Desktop SEM 可以处理 100 mm x 100 mm 扫描区域。该软件使用 SEM 的内部扫描控制。这可以实现更精确的射束定位,这在 GSR 验证阶段重新访问颗粒时尤其有用。标准 GSR 样品架可容纳 30 个 12mm GSR 针脚、以及必要的校准样品。

完全集成的 EDS

专用软件包元件识别 (EID) 用于控制完全集成的 EDS 检测器。此 EID 软件标配随 Phenom Perception GSR 产品一起提供。


性能数据

产品表格规范样式表
样本尺寸
  • 最大 100 mm x 100 mm(最大 30 x 12 mm 针脚)
  • 最大 40 mm (h)
软件规格
  • 符合 ASTM E1588-17 要求 
  • Plano 人造 GSR 样品命中率 ≥ 98%
  • 支持对无 Pb 弹药类型进行分类
  • 自动校准可获得可重现结果
检测器类型
  • 硅漂移探测器 (SDD)
  • 热电冷却(不含 LN2)
报告工作流程
  • 颗粒迁移,验证和定制报告生成
成像模块
  • 316(宽)x 587(深)x 625(高)mm,75 kg
分析计算机
  • 标准工作站包括:24” 宽屏显示器
  • 169(宽)x 445(深)x 432(高)mm,11 kg
电源
  • 单相 AC 110 - 240 伏,50/60 Hz,300 W(最大)
媒体标签样式表

台式扫描电镜博客

是否想在不影响可用性的前提下释放扫描电子显微术的强大功能?在我们的 Phenom Desktop SEM 博客中,加深您对台式扫描电子显微术的了解,并了解台式 SEM 如何为您的研究提供最佳支持。

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网络讲座

按需网络讲座:介绍 Phenom Perception Gunshot Residue (GSR) Desktop SEM

在本次网络讲座中,我们将详细介绍符合 ASTM 和 ENFSI 指南的 Phenom Perception GSR 软件工作流程。该网络讲座涵盖了仪器的准确性,并概述了进行枪射残留物分析的有效 SEM 的关键需求。

 


网络讲座:扫描电子显微镜:选择适合您需求的技术

这一应要求举办的网络讲座旨在帮助您确定哪一款 SEM 最符合您的独特需求。我们概述了 Thermo Fisher Scientific SEM 技术适合多用户研究实验室,重点介绍这些广泛的解决方案如何实现性能、多功能性、原位动力学以及更快得出结果。如果您有兴趣,请观看该网络讲座:

  • 如何满足不同微区分析模式的需求(EDX、EBSD、WDS、CL 等)。
  • 如何自然状态下表征样品,从而无需进行样品制备。
  • 先进的自动化技术如何使研究人员节省时间并提高生产率。

网络讲座

按需网络讲座:介绍 Phenom Perception Gunshot Residue (GSR) Desktop SEM

在本次网络讲座中,我们将详细介绍符合 ASTM 和 ENFSI 指南的 Phenom Perception GSR 软件工作流程。该网络讲座涵盖了仪器的准确性,并概述了进行枪射残留物分析的有效 SEM 的关键需求。

 


网络讲座:扫描电子显微镜:选择适合您需求的技术

这一应要求举办的网络讲座旨在帮助您确定哪一款 SEM 最符合您的独特需求。我们概述了 Thermo Fisher Scientific SEM 技术适合多用户研究实验室,重点介绍这些广泛的解决方案如何实现性能、多功能性、原位动力学以及更快得出结果。如果您有兴趣,请观看该网络讲座:

  • 如何满足不同微区分析模式的需求(EDX、EBSD、WDS、CL 等)。
  • 如何自然状态下表征样品,从而无需进行样品制备。
  • 先进的自动化技术如何使研究人员节省时间并提高生产率。

应用

采用电子显微镜进行过程控制

采用电镜进行过程控制

现代工业需求高通量、质量卓越、通过稳健的工艺控制维持平衡。SEM扫描电镜TEM透射电镜工具结合专用的自动化软件,为过程监控和改进提供了快速、多尺度的信息。

使用电子显微镜进行质量控制和故障分析

质量控制和故障分析

质量控制和保证对于现代工业至关重要。我们提供一系列用于缺陷多尺度和多模式分析的 EM电子显微镜和光谱工具,使您可以为过程控制和改进做出可靠、明智的决策。

使用电镜进行基础材料研究

基础材料研究

越来越小的规模研究新型材料,以最大限度地控制其物理和化学特性。电子显微镜为研究人员提供了对微米到纳米级各种材料特性的重要见解。

EDS元素分析

EDS为电子显微镜观察提供重要的组分信息。尤其是我们独特的Super-X和Dual-X检测器系统添加了提高通量和/或灵敏度的选项,使您可以优化数据采集以满足您的研究优先级。

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3D EDS断层扫描

现代材料研究越来越依赖于三维的纳米级分析。3D电镜和能量色散X射线光谱可以3D表征包括整个化学和结构背景下的组分数据。

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使用EDS进行原子级元素映射

原子分辨率EDS通过区分单个原子的元素特性,为材料分析提供无与伦比的化学环境。当与高分辨率透射电镜TEM结合时,可以观察样品中原子的精确组织。

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颗粒分析

颗粒分析在纳米材料研究和质量控制中发挥着重要作用。纳米级分辨率和卓越的电子显微镜成像可以与专用软件相结合,以快速表征粉末和微粒。

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EDS元素分析

EDS为电子显微镜观察提供重要的组分信息。尤其是我们独特的Super-X和Dual-X检测器系统添加了提高通量和/或灵敏度的选项,使您可以优化数据采集以满足您的研究优先级。

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3D EDS断层扫描

现代材料研究越来越依赖于三维的纳米级分析。3D电镜和能量色散X射线光谱可以3D表征包括整个化学和结构背景下的组分数据。

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使用EDS进行原子级元素映射

原子分辨率EDS通过区分单个原子的元素特性,为材料分析提供无与伦比的化学环境。当与高分辨率透射电镜TEM结合时,可以观察样品中原子的精确组织。

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颗粒分析

颗粒分析在纳米材料研究和质量控制中发挥着重要作用。纳米级分辨率和卓越的电子显微镜成像可以与专用软件相结合,以快速表征粉末和微粒。

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