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用于扫描/透射电子显微镜 (S/TEM) 分析的样品制备仍被认为是材料表征实验室中最关键但又具有挑战性和耗时的任务之一。用于制备 S/TEM 所需的超薄样品的传统方法非常耗时,通常需要经过大量培训的人员付出数小时甚至数天的努力。各种不同的材料以及现场的特定需求使这一过程更加复杂化。

赛默飞世尔科技在 DualBeam(FIB-SEM,聚焦离子束 - 扫描电子显微镜)技术的使用方法拥有 25 年以上的专业知识,可为您提供易用、稳固且可靠的、最前沿样品制备工具。这始于高度稳定的镜筒和高品质的源,甚至在低电压条件下也能保证优异的性能。使用低至 500 V 的能量对薄片进行最终抛光可极大地减少损坏,甚至可用于电子束敏感材料,而且可获得无与伦比的样品质量。对于无镓样品的制备,赛默飞世尔科技提供了多种等离子 FIB 产品组合,包括可在氙、氩、氧和氮等四种离子束间快速切换的 Thermo Scientific Helios Hydra DualBeam

此外,使用 Thermo Scientific SmartAlign 技术时,用户无需对准电子镜筒,不仅能最大限度地减少维护,还能提高生产率。嵌入到用户界面的自动调节工具进一步提高了您获取高质量图像的能力,图像调节速度比标准手动对齐最多快 10 倍。

优质硬件也有一整套软件解决方案支持,可优化和简化样品的制备。Thermo Scientific AutoTEM 5 软件可实现全自动 原位 薄片制备和提取,即使初级用户也可以生产出高质量的样品。这极大地扩展了仪器的可用性,由于样品制备不再依赖于专家操作,样品制备量大大提升。此外,可实现全自动的无人值守通宵操作,最大程度地利用了系统时间,从而显著提高生产率。

使用 DualBeam 仪器进行 S/TEM 样品制备

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Introducing Helios 5 DualBeam

介绍 Helios 5 DualBeam

了解 Helios 5 和 AutoTEM 5 软件的先进自动化功能、加强的稳固性和稳定性如何通过无人照看甚至过夜运行而显著提高样品制备的通量。

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Toward “Damage-Free” TEM specimen preparation by Focused Ion Beam without Gallium

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应用

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基础材料研究

越来越小的规模研究新型材料,以最大限度地控制其物理和化学特性。电子显微镜为研究人员提供了对微米到纳米级各种材料特性的重要见解。


样品


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通过使用 microCT、SEM扫描电镜和TEM透射电镜、拉曼光谱、XPS和数字3D可视化与分析进行多尺度分析、实现电池开发。了解该方法如何提供构建更好电池所需的结构和化学信息。

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聚合物研究

聚合物微观结构决定了材料的整体特性和性能。显微CT能够对聚合物形态和成分进行全面的微量分析,适用于R&D和质量控制应用。

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金属的有效生产需要精确控制夹杂物和沉淀物。我们的自动化工具能够执行金属分析需要的各种任务,包括纳米粒计数、EDS元素分析TEM样品制备

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催化研究

催化剂对于大多数现代工业工艺至关重要。其效率取决于催化颗粒的微观组成和形态;EDS电镜是研究这些性质的理想选择。

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用于将 H2 样式更改为具有 em-h2-header 类 p 的样式表
Style Sheet for Komodo Tabs

产品

仪器卡片原件样式表

Helios Hydra DualBeam

  • 4 个快速切换离子种类(Xe、Ar、O、N),用于对种类最丰富的材料进行优化 PFIB 处理
  • Ga-free TEM 样品制备
  • 极高分辨率 SEM 成像

Helios 5 DualBeam

  • 全自动、高质量、超薄 TEM 样品制备
  • 高通量、高分辨率的亚表面和 3D 表征
  • 快速纳米原型设计能力

Helios 5 PFIB DualBeam

  • 无镓 STEM 和 TEM 样品制备
  • 多模式亚表面和 3D 信息
  • 新一代 2.5 μA 氙气电浆 FIB 色谱柱

Helios 5 激光 PFIB 系统

  • 快速、毫米级交叉截面
  • 统计学相关的深度亚表面和 3D 数据分析
  • 共享 Helios 5 PFIB 平台的所有功能

Spectra 300

  • 获得原子水平的最高分辨率结构和化学信息
  • 30-300 kV 的灵活高张力范围
  • 三个透镜冷凝器系统

Spectra 200

  • 用于 30-200 kV 加速电压的高分辨率和对比度成像
  • 宽间隙极片设计为 5.4 mm 的对称 S-TWIN/X-TWIN 物镜
  • 60 kV-200 kV 范围的亚埃 STEM 成像分辨率

Themis ETEM

  • 精确控制并了解样品温度
  • 通过 x 、 y 和 z 轴改进了样品稳定性、导航和辅助样品漂移校正
  • 推进高质量成像和电影采集功能

Talos F200i TEM

  • 高质量、高分辨率的(S)TEM成像和灵活的EDS
  • 可使用高分辨率、高亮度(冷)场发射枪
  • 可提供双EDS,以获得最高的分析产量

Talos F200S TEM

  • 精确的化学成分数据
  • 用于动态显微镜的高性能成像和精确成分分析
  • 配有 Velox 软件、可实现快速、轻松的获取和分析多模态数据

Talos F200X TEM

  • 高质量、高分辨率的(S)TEM成像和精确的EDS
  • 可提供高分辨率、高亮度(冷)场发射枪
  • 可提供具有终极清洁度的柱内Super-X G2 EDS

Scios 2 DualBeam

  • 完全支持磁性及不导电样品
  • 高通量亚表面和 3D 表征
  • 先进的易用性和自动化功能

AutoTEM 5

  • 全自动原位 S/TEM 样品制备
  • 支持上下、平面和翻转几何结构
  • 高度可配置的工作流程
  • 易于使用、直观的用户界面

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