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Talos F200i 透射电子显微镜 

Thermo Scientific Talos F200i (S)TEM 是一款 20-200 kV 场发射(扫描)透射电子显微镜,专为各种材料科学样品和应用要求的性能和生产率而设计。其标准的 X-Twin 极靴间隙在应用中具有较高的灵活性,且与高重现的电子镜筒相结合时,可用于为高分辨 2D 和 3D 表征、原位动态观察和衍射应用。

Talos F200i 透射电子显微镜优势

Talos F200i  (S)TEM 专为多用户和多学科环境设计,也是初级用户的理想选择。它配备了在所有 Thermo Scientific TEM 平台上共享、能够快速熟悉的 Thermo Scientific Velox 用户界面。所有透射电镜的日常调整均自动完成,以提供最佳的、可重现性最高的设置。 Align Genie 自动化软件简化了新手操作员的学习曲线,缓解了多用户环境中的紧张关系,并缩短了经验丰富的操作员的数据获取时间。 此外,可在配置中添加侧面插入的可伸缩能量色散 X 射线光谱 (EDS) 监测器来进行化学分析。

紧凑型设计

Talos F200i 的占地面积和尺寸较小,可适应更具挑战性的空间。此外,这种紧凑型设计降低了维修时的接触难度,同时也降低了基础设施和支持的成本。

适用于所有用户的生产率

为进一步提高生产率,尤其是在多用户多材料环境中,恒定功率物镜、低滞后设计以及使用 SmartCam 相机进行的远程操作可实现直接可重现的模式和高张力切换。Talos F200i  (S)TEM 还提供在线学习帮助。将鼠标指针悬停在控制面板上后,只需按 F1 即可快速打开相关信息。

 

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Talos F200i 透射电子显微镜功能

大面积快速采集 金-镍纳米颗粒

Gold-Nickel Nanoparticles - 20
Gold-Nickel Nanoparticles - 21

使用 Dual-X 在金-镍纳米颗粒上进行大面积、高分辨率 EDS 映射的示例,在不到一分钟的时间内获得结果。样品由 Brno 材料物理研究所的 J. Bursik 提供。

揭示银镍核壳纳米颗粒的细节

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AgNi 纳米颗粒的高分辨率 EDS 谱图的实例。这种颗粒可有效地用作还原硝基化合物(例如 4-硝基苯酚,4-硝基苯胺)和有机染料降解的催化剂。各个 EDS 图显示,系统 Ag0.6Ni0.4 对硝基化合物和有机染料的还原和降解反应表现出最高的催化活性。针对 AgNi 纳米颗粒作为氢生成的催化剂也进行了研究 。在此使用案例中,与相似大小的 Ag 和 Ni 纳米颗粒相比,AgNi 纳米颗粒的氢生成速率要高得多。 此外,在一张图中揭示了其中一个壳实际上是硫而不是镍。样品由 Brno 材料物理研究所的 J. Bursik 提供。

Co-g-C3N4/Pt 上的射束敏感性分析

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用于光催化析氢的 射束敏感材料的高分辨率 EDS 谱图实例。小纳米颗粒 (Pt) 充当光催化反应的活性位点。研究这些纳米颗粒时,观察了加载铂纳米颗粒的 Co-g-C3N4 的结构,并发现了钴原子与铂纳米颗粒位置之间的关系,以分析该样品光催化活性提高的原因。在该实验中,假设钴应该原子分散或位于直径小于 1 nm(单原子分散)的 g-C3N4 表面上,而铂纳米颗粒应沉积 在 Co-g-C3N4 的表面上。元素映射数据的结果证实了这一点。样品由中国西安交通大学的 ShengChun Yang 教授提供。

用于材料科学的 Talos F200i

用于材料科学的 Talos F200i

Thermo Scientific Talos F200i S/TEM 是一款 20-200 kV 场发射(扫描)透射电子显微镜,专为各种材料科学样品和应用要求的性能和生产率而设计。其标准的 X-Twin 极靴间隙在应用中具有较高的灵活性,且与高重现的电子镜筒相结合时,可用于高分辨 2D 和 3D 表征、原位动态观察和衍射应用。

产品信息

 

大面积快速采集 金-镍纳米颗粒

Gold-Nickel Nanoparticles - 20
Gold-Nickel Nanoparticles - 21

使用 Dual-X 在金-镍纳米颗粒上进行大面积、高分辨率 EDS 映射的示例,在不到一分钟的时间内获得结果。样品由 Brno 材料物理研究所的 J. Bursik 提供。

揭示银镍核壳纳米颗粒的细节

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AgNi 纳米颗粒的高分辨率 EDS 谱图的实例。这种颗粒可有效地用作还原硝基化合物(例如 4-硝基苯酚,4-硝基苯胺)和有机染料降解的催化剂。各个 EDS 图显示,系统 Ag0.6Ni0.4 对硝基化合物和有机染料的还原和降解反应表现出最高的催化活性。针对 AgNi 纳米颗粒作为氢生成的催化剂也进行了研究 。在此使用案例中,与相似大小的 Ag 和 Ni 纳米颗粒相比,AgNi 纳米颗粒的氢生成速率要高得多。 此外,在一张图中揭示了其中一个壳实际上是硫而不是镍。样品由 Brno 材料物理研究所的 J. Bursik 提供。

Co-g-C3N4/Pt 上的射束敏感性分析

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用于光催化析氢的 射束敏感材料的高分辨率 EDS 谱图实例。小纳米颗粒 (Pt) 充当光催化反应的活性位点。研究这些纳米颗粒时,观察了加载铂纳米颗粒的 Co-g-C3N4 的结构,并发现了钴原子与铂纳米颗粒位置之间的关系,以分析该样品光催化活性提高的原因。在该实验中,假设钴应该原子分散或位于直径小于 1 nm(单原子分散)的 g-C3N4 表面上,而铂纳米颗粒应沉积 在 Co-g-C3N4 的表面上。元素映射数据的结果证实了这一点。样品由中国西安交通大学的 ShengChun Yang 教授提供。

用于材料科学的 Talos F200i

用于材料科学的 Talos F200i

Thermo Scientific Talos F200i S/TEM 是一款 20-200 kV 场发射(扫描)透射电子显微镜,专为各种材料科学样品和应用要求的性能和生产率而设计。其标准的 X-Twin 极靴间隙在应用中具有较高的灵活性,且与高重现的电子镜筒相结合时,可用于高分辨 2D 和 3D 表征、原位动态观察和衍射应用。

产品信息

 

主要特点

可搭配众多高分辨率场发射枪 (FEG)

选择 S-FEG、高亮度 X-FEG 或超高亮度冷场发射枪 (X-CFEG)。X-CFEG 将极佳 (S)TEM 成像及极佳能量分辨率相结合。 

可提供双 EDS 技术

从单个 30 mm² 检测器到用于高通量(或低剂量)分析的双 100 mm² 检测器,选择最适合您需求的 EDS 检测器。

高质量 STEM/TEM 图像和准确的 EDS

创新且直观的 Velox 软件用户界面非常简单易用,从而能够轻松获得高质量的 TEM 或 STEM 图像。Velox 软件中独特的 EDS 吸收校正功能可实现最准确的定量。

最佳原位圆形能力

添加断层扫描或原位样品架。快速相机、智能软件和我们的宽 X-TWIN 物镜间隙可在尽可能不降低分辨率和分析功能的情况下实现 3D 成像和原位采集。

提高了生产率

超稳定的色谱柱、借助 SmartCam 相机的远程操作和恒定功率物镜,可进行快速模式和高电压 (HT) 切换。多用户环境的快速轻松切换。

可重复性最高的数据

所有日常 TEM 调整、例如聚焦、共心高度、电子束移位、冷凝器光阑、电子束倾斜枢轴点和旋转中心都是自动进行的,确保您始终从最佳成像条件开始工作。实验可重现,使您可以专注于研究而不是工具。

高速提供大视野成像

4k × 4k Ceta CMOS 相机及其大视野使得可以在整个高张力范围内以高灵敏度和高速进行实时数字缩放。

紧凑型设计

更小的占地面积和尺寸有助于在更具挑战性的空间中使用此工具,同时降低基础设施和支持成本。


性能数据

产品表格规范样式表
TEM
  • 线分辨率: ≤0.10 nm
操作 系统XX 单元
  • 控制器:Windows® 10 
  • 远程控制:是  
真空系统
  • 气锁抽气:无油和无振动
  • 冷阱:标准
  • 长时间杜瓦瓶:可选配 - 至少 4 天待机时间(两次重新补充之间)
STEM 成像
  • STEM 分辨率:  
    • ≤0.16 nm (S-FEG/X-FEG) 
    • ≤0.14 nm ,100pA (X-CFEG)
  • 检测器: HAADF 和/或同轴 Panther BF/DF
能量色散 X 射线光谱 (EDS)
  • 检测器尺寸 (Bruker X-flash):30、100 或 双 100 mm2
  • 可伸缩: 是,电动
电子能量损失谱 (EELS)
  •  ≤0.8 eV (S-FEG/X-FEG)
  •  ≤0.3 eV (X-CFEG)
枪亮度 200 kV
  • 4×108 A /cm2 srad (S-FEG) 
  • 1.8×109 A /cm2 srad (X-FEG) 
  • 2.4×109 A /cm2 srad (X-CFEG)

相关资源

Dual-X 技术介绍。

Dual-X 技术介绍。

应用

采用电子显微镜进行过程控制

采用电镜进行过程控制

现代工业需求高通量、质量卓越、通过稳健的工艺控制维持平衡。SEM扫描电镜TEM透射电镜工具结合专用的自动化软件,为过程监控和改进提供了快速、多尺度的信息。

使用电子显微镜进行质量控制和故障分析

质量控制和故障分析

质量控制和保证对于现代工业至关重要。我们提供一系列用于缺陷多尺度和多模式分析的 EM电子显微镜和光谱工具,使您可以为过程控制和改进做出可靠、明智的决策。

使用电镜进行基础材料研究

基础材料研究

越来越小的规模研究新型材料,以最大限度地控制其物理和化学特性。电子显微镜为研究人员提供了对微米到纳米级各种材料特性的重要见解。


技术

能量色散谱EDS

能量色散谱(EDS)可采集详细的元素信息以及电子显微镜图像,为电镜观察提供关键的组成背景。利用EDS可通过快速、整体的表面扫描至各个原子以确定化学成分。

了解更多 ›

3D EDS断层扫描

现代材料研究越来越依赖于三维的纳米级分析。3D电镜和能量色散X射线光谱可以3D表征包括整个化学和结构背景下的组分数据。

了解更多 ›

使用EDS进行原子级元素映射

原子分辨率EDS通过区分单个原子的元素特性,为材料分析提供无与伦比的化学环境。当与高分辨率透射电镜TEM结合时,可以观察样品中原子的精确组织。

了解更多 ›

EDS元素分析

EDS为电子显微镜观察提供重要的组分信息。尤其是我们独特的Super-X和Dual-X检测器系统添加了提高通量和/或灵敏度的选项,使您可以优化数据采集以满足您的研究优先级。

了解更多 ›

电子能量损失谱

材料科学研究借助高分辨率EELS得以进行广泛的分析应用。这包括高通量、高信噪比元素映射,以及氧化状态和表面声子的探测。

了解更多 ›

原位实验

需要通过电子显微镜直接实时观察微观结构变化,以便了解在加热、冷却和润湿过程中的动态过程(如再结晶、晶粒生长和相变)的基本原理。

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颗粒分析

颗粒分析在纳米材料研究和质量控制中发挥着重要作用。纳米级分辨率和卓越的电子显微镜成像可以与专用软件相结合,以快速表征粉末和微粒。

了解更多 ›

多尺度分析

必须在更高分辨率下分析新材料,同时保留较大的样品背景。多尺度分析允许多种成像工具和模态(如X射线microCT、DualBeam、激光PFIB、SEM和TEM)关联。

了解更多 ›

自动化颗粒工作流程

自动化纳米颗粒工作流程(APW)是一种用于纳米颗粒分析的透射电子显微镜工作流程,提供纳米级大面积、高分辨率的纳米级成像和数据采集,并进行即时处理。

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能量色散谱EDS

能量色散谱(EDS)可采集详细的元素信息以及电子显微镜图像,为电镜观察提供关键的组成背景。利用EDS可通过快速、整体的表面扫描至各个原子以确定化学成分。

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3D EDS断层扫描

现代材料研究越来越依赖于三维的纳米级分析。3D电镜和能量色散X射线光谱可以3D表征包括整个化学和结构背景下的组分数据。

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使用EDS进行原子级元素映射

原子分辨率EDS通过区分单个原子的元素特性,为材料分析提供无与伦比的化学环境。当与高分辨率透射电镜TEM结合时,可以观察样品中原子的精确组织。

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EDS元素分析

EDS为电子显微镜观察提供重要的组分信息。尤其是我们独特的Super-X和Dual-X检测器系统添加了提高通量和/或灵敏度的选项,使您可以优化数据采集以满足您的研究优先级。

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电子能量损失谱

材料科学研究借助高分辨率EELS得以进行广泛的分析应用。这包括高通量、高信噪比元素映射,以及氧化状态和表面声子的探测。

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原位实验

需要通过电子显微镜直接实时观察微观结构变化,以便了解在加热、冷却和润湿过程中的动态过程(如再结晶、晶粒生长和相变)的基本原理。

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颗粒分析

颗粒分析在纳米材料研究和质量控制中发挥着重要作用。纳米级分辨率和卓越的电子显微镜成像可以与专用软件相结合,以快速表征粉末和微粒。

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多尺度分析

必须在更高分辨率下分析新材料,同时保留较大的样品背景。多尺度分析允许多种成像工具和模态(如X射线microCT、DualBeam、激光PFIB、SEM和TEM)关联。

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自动化颗粒工作流程

自动化纳米颗粒工作流程(APW)是一种用于纳米颗粒分析的透射电子显微镜工作流程,提供纳米级大面积、高分辨率的纳米级成像和数据采集,并进行即时处理。

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