48ab - 应用/样品/产品/资源/联系人

原位分析

随着材料研究持续发展,不仅在材料最初和最终状态,而且在其多种应用中能够观察到材料的实时状态变得越来越重要。在将金属原料通过加热来实现增材制造或润湿和干燥其功能化的纳米粒子的过程中,也需要对金属原料进行成像,以了解其在实际条件下的行为。表征这些行为对关键研究领域(如清洁能源、运输、催化、纳米电子器件甚至人类健康)至关重要。

原位电镜

虽然电子显微镜 (EM) 传统上是一种静态成像方法,但样品处理和快速成像方面的进展使得该技术可用于现场观察。电镜EM的高分辨率使您可以研究纳米级退火行为、金属的相位变化、结构变化、催化剂中的烧结现象、分离/扩散现象等。

材料的原位 电镜分析要求仪器提供快速定量的数据采集,并具有动态高分辨率成像。当所研究的工艺依赖于温度或湿度等快速变化的变量时,这一点尤为重要。对于这种动态实验,样品成像的灵活性、使用不同光束和真空条件的能力以及组分数据的快速收集是必不可少的。

在扫描电子显微镜内直接加热和冷却的一段焊料。(视频)

来自赛默飞世尔科技的原位电镜

Thermo Scientific 环境扫描电子显微镜 (ESEM) 和 DualBeam(聚焦离子束 SEM)系统可在原位实验中的各种实时条件下运行。特别是,基于 MEMS 的 Thermo Scientific μHeater Holder 以及 原位样品制备可在高温下实现高质量的表征。


原位电镜相关资源

直接在环境 SEM 的低真空模式中观察到的氯化钠晶体溶解和重结晶。
在环境 SEM 的低真空模式中直接观察到的组织纤维润湿和干燥。
金属纳米粒子在加热时聚结。
直接在环境 SEM 的低真空模式中观察到的氯化钠晶体溶解和重结晶。
在环境 SEM 的低真空模式中直接观察到的组织纤维润湿和干燥。
金属纳米粒子在加热时聚结。

应用

使用电子显微镜进行质量控制和故障分析

质量控制和故障分析

质量控制和保证对于现代工业至关重要。我们提供一系列用于缺陷多尺度和多模式分析的 EM电子显微镜和光谱工具,使您可以为过程控制和改进做出可靠、明智的决策。

使用电镜进行基础材料研究

基础材料研究

越来越小的规模研究新型材料,以最大限度地控制其物理和化学特性。电子显微镜为研究人员提供了对微米到纳米级各种材料特性的重要见解。


样品


电池研究

通过使用 microCT、SEM扫描电镜和TEM透射电镜、拉曼光谱、XPS和数字3D可视化与分析进行多尺度分析、实现电池开发。了解该方法如何提供构建更好电池所需的结构和化学信息。

了解更多 ›


聚合物研究

聚合物微观结构决定了材料的整体特性和性能。显微CT能够对聚合物形态和成分进行全面的微量分析,适用于R&D和质量控制应用。

了解更多 ›


金属研究

金属的有效生产需要精确控制夹杂物和沉淀物。我们的自动化工具能够执行金属分析需要的各种任务,包括纳米粒计数、EDS元素分析TEM样品制备

了解更多 ›


催化研究

催化剂对于大多数现代工业工艺至关重要。其效率取决于催化颗粒的微观组成和形态;EDS电镜是研究这些性质的理想选择。

了解更多 ›


纳米粒

在纳米技术领域,材料的性质与宏观技术领域中有本质的不同。为了研究它们,S/TEM仪器可以与能量色散X射线光谱仪结合使用,以获得纳米、甚至亚纳米级的分辨率数据。

了解更多 ›


原位电镜产品

仪器卡片原件样式表

Helios 5 激光 PFIB 系统

  • 快速、毫米级交叉截面
  • 统计学相关的深度亚表面和 3D 数据分析
  • 共享 Helios 5 PFIB 平台的所有功能

Helios Hydra DualBeam

  • 4 个快速切换离子种类(Xe、Ar、O、N),用于对种类最丰富的材料进行优化 PFIB 处理
  • Ga-free TEM 样品制备
  • 极高分辨率 SEM 成像

Helios 5 DualBeam

  • 全自动、高质量、超薄 TEM 样品制备
  • 高通量、高分辨率的亚表面和 3D 表征
  • 快速纳米原型设计能力

Helios 5 PFIB DualBeam

  • 无镓 STEM 和 TEM 样品制备
  • 多模式亚表面和 3D 信息
  • 新一代 2.5 μA 氙气电浆 FIB 色谱柱

Scios 2 DualBeam

  • 完全支持磁性及不导电样品
  • 高通量亚表面和 3D 表征
  • 先进的易用性和自动化功能

Spectra Ultra

  • 适用于大多数电子束敏感材料的新成像和光谱分析功能
  • 利用 Ultra-X 进行 EDX 检测的飞跃
  • 色谱柱旨在保持样品完整性。

Quattro ESEM

  • 超高通用性高分辨率 FEG SEM 、具有独特的环境能力( ESEM )
  • 在各种操作模式下均可通过同时进行 SE 和 BSE 成像观察所有样品的所有信息

Apreo 2 SEM

  • 高性能 SEM、适用于纳米或纳米以下的所有圆分辨率
  • 用于敏感电视率材料对比度的列内 T1 反向散射检测器
  • 长工作距离 (10 mm) 下性能出色

PRISMA E SEM

  • 入门级 SEM 具有出色的图像质量
  • 轻松、快速地加载和导航多个样品
  • 由于专用真空模式、兼容多种材料

Verios 5 XHR SEM

  • 在 1 keV - 30 keV 全能量范围内可实现亚纳米分辨率的单色化 SEM
  • 可轻松访问低至 20 eV 的射束降落能量
  • 优良的稳定性、压电陶瓷样品台作为标准配置

AutoScript 4

  • 更高的重现性和回收率
  • 无人值守的高通量成像和模式
  • 支持 Python 3.5 脚本环境

μHeater

  • 用于原位高分辨率成像的超快速加热解决方案
  • 全集成:
  • 温度最高可达 1200 °C

Auto Slice 和 View 4.0 软件

  • DualBeam 自动连续切片
  • 多模式数据采集(SEM、EDS、EBSD)
  • 实时编辑功能
  • 基于边缘的剪切放置

Style Sheet for Komodo Tabs

联系我们

需要获取更多原位电镜的相关资料? 请填写下面的表格,我们会尽快与您联系!

支持和服务页脚样式表
字体样式表
卡片样式表

用于材料科学的
电子显微镜服务

为实现理想的系统性能,我们为您提供了由现场服务专家、技术支持部门和认证备件组成的全球网络支持。