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现代尖端金属越来越多的采用纳米级设计,提高了耐用性、可靠性和成本。即使是传统工艺,现在也需要进行显微镜检查,以确定所得到的材料的元素和结构组成。

尤其是,金属的有效生产需要精确控制夹杂物和沉淀物。根据它们的一致性和分布,这些可能会增加材料强度或成为污染物,从而严重影响质量和使用寿命。这些微观性质可包括:

  • 在滚动、退火或热压过程中形成的纳米沉淀物
  • 纳米级形态变化(不对位、起始位点开裂)
  • 晶粒边界
  • 可导致炼钢生产中断的氧化夹杂物

以往,研究人员一直使用光学显微镜来评估夹杂物的大小和数量,但该方法不提供任何元素信息。即使是可确定夹杂物的元素比例的光学发射谱也不能准确表征单个夹杂物的形状和成分。电子显微镜技术已被用于金属分析,其中扫描电子显微镜 (SEM) 能够可视化较大的夹杂氧化物,而在对小于 100 nm 的特征进行研究时,通常需要使用透射电子显微镜 (TEM)。但是,过去的 TEM 分析需要人工颗粒计数和分析,因而每天只能采集到几十个颗粒的数据。

Stainless steel medical device sample prepared by PFIB milling.
由 PFIB CXe 制成不锈钢医疗设备样品,总尺寸为 55 x 70 μm。红色框指示可使用典型镓 FIB 在相同时间内制备的面积。

赛默飞世尔科技提供一系列电子显微镜解决方案,不仅使金属分析的信息量更丰富,而且速度更快。借助我们独特的自动化功能,能够在一小时内对几百(甚至几千)的沉淀物进行元素和结构组成综述,而人工分析一天只能发现几十种。除了块体的统计信息,还可以非常详细地看到单独的沉淀物,从而能够对金属进行多尺度概述。

我们可靠的自动化仪器可执行多种关键任务,包括:

Zirconium alloy sample, analyzed with electron backscatter diffraction to produce a 3D microstructural reconstruction.
由 400 个切片重建的锆合金样本的电子背散射衍射 (EBSD) 提供的 3D 微观结构信息。样品由曼彻斯特大学提供。

相关资源

通过 APW 对氮化钛纳米颗粒进行表征的镍基高温合金样品。

通过 APW 定量的高强度低合金钢沉淀物的碳复型。

AlMgSi 合金中沉淀物的 3D EDS TEM 断层扫描。

在增材制造的不锈钢中显示复合物特征的高分辨率 APW。

Maps and Avizo2D recordings (left and right) running side by side during an acquisition.

网络讲座

网络讲座:通过自动化 TEM 表征纳米颗粒。

网络讲座:航空航天和国防工业相关显微镜

TEM 文章

Ti\\Al 系统中 Ti3Al 定向沉淀的纳米级起源

Hao Wu, Guohua Fan, Lin Geng, Xiping Cui, Meng Huang

DOI 链接


热处理对增材制造和锻造 17-4PH 不锈钢显微结构演变的影响

Yu Sun, Rainer J. Hebert, Mark Aindow

DOI 链接


H 相沉淀物的相干应变及其对镍钛铪形状记忆合金功能特性的影响

Behnam Amin-Ahmadi,⁎, Joseph G. Pauza, Ali Shamimi, Tom W. Duerig, Ronald D. Noebe, Aaron P. Stebner

DOI 链接


激光扫描长度对增材制造的 17-4PH 不锈钢薄壁零件显微结构的影响

Yu Sun, Rainer J. Hebert, Mark Aindow

DOI 链接


选择性激光熔化技术生产的 17-4PH 不锈钢零件中的非金属夹杂物

Yu Sun, Rainer J. Hebert, Mark Aindow

DOI 链接


SDB 文库网络讲座来源(仅供参考)

Joachim Mayer, RWTH Aachen

“滚动接触疲劳下 SAE 52100 轴承钢中白蚀区的形成 - 扩散氢的影响”
M. Oezel, A. Schwedt, T. Janitzky, R. Kelley, C.Bouchet-Marquis, L. Pullan, C. Broeckmann, J. Mayer
Wear, Volumes 414-415, November 2018, Pages 352-365.

DOI 链接


Philip Withers, University of Manchester

“工业齿轮油:摩擦学性能和次表面变化”
Aduragbemi Adebogun, Robert Hudson, Angela Breakspear, Chris Warrens, Ali Gholinia, Allan Matthews, Philip Withers Tribology Letters (2018) 66:65.

DOI 链接


Jun Tan, Shenyang National Laboratory for Materials Science

“通过与高分辨率 TEM 相关的双束 FIB/SEM 系统了解碳素钢的大气腐蚀”
Corrosion Science 152 (2019) 226–233.

DOI 链接


Yu-Lung Chiu, University of Birmingham

“焊接涡轮盘高温合金的微拉伸强度”
K.M.Oluwasegun, C. Cooper, Y. L. Chiu, I.P. Jones, H. Y. Li, G. Baxter
Materials Science & Engineering A 596 (2014) 229–235.

DOI 链接


Chris Pistorius, Carnegie Mellon University

“等离子体 FIB 在钢中单氧化物夹杂物分析中的应用”
D. Kumar, N.T.Nuhfer, M.E.Ferreira and P.C.Pistorius
Metallurgical and Materials Transactions B, Volume 50B, June 2019, Pages 1124-1127.

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应用

采用电子显微镜进行过程控制

采用电镜进行过程控制

现代工业需求高通量、质量卓越、通过稳健的工艺控制维持平衡。SEM扫描电镜TEM透射电镜工具结合专用的自动化软件,为过程监控和改进提供了快速、多尺度的信息。

使用电子显微镜进行质量控制和故障分析

质量控制和故障分析

质量控制和保证对于现代工业至关重要。我们提供一系列用于缺陷多尺度和多模式分析的 EM电子显微镜和光谱工具,使您可以为过程控制和改进做出可靠、明智的决策。

使用电镜进行基础材料研究

基础材料研究

越来越小的规模研究新型材料,以最大限度地控制其物理和化学特性。电子显微镜为研究人员提供了对微米到纳米级各种材料特性的重要见解。

使用扫描电镜(SEM)进行部件清洁度检测时发现铝矿物颗粒

组件清洁度检测

现今比以往任何时候都更需要可靠、高质量的组件。借助扫描电镜,可以实现备件清洁度分析,获得多种分析数据,从而缩短生产周期。


Style Sheet for Komodo Tabs

技术

(S)TEM 样品制备

DualBeam显微镜可制备用于(S)TEM分析的高质量、超薄样品。借助先进的自动化技术,任何经验水平的用户都可以获得各种材料的专家级结果。

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3D 材料表征

材料开发通常需要多尺度3D表征。DualBeam仪器可实现大体积连续切片和随后纳米级的SEM成像,可用于样品的高质量3D重建。

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能量色散谱EDS

能量色散谱(EDS)可采集详细的元素信息以及电子显微镜图像,为电镜观察提供关键的组成背景。利用EDS可通过快速、整体的表面扫描至各个原子以确定化学成分。

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EDS元素分析

EDS为电子显微镜观察提供重要的组分信息。尤其是我们独特的Super-X和Dual-X检测器系统添加了提高通量和/或灵敏度的选项,使您可以优化数据采集以满足您的研究优先级。

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3D EDS断层扫描

现代材料研究越来越依赖于三维的纳米级分析。3D电镜和能量色散X射线光谱可以3D表征包括整个化学和结构背景下的组分数据。

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ColorSEM

通过实时采集SEM和EDS信息以及实时定量功能,ColorSEM技术将SEM图像转化为彩色图像。现在任何用户都可以实时获取元素信息,得到比以往任何时候更多的完整信息。

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交叉切片

交叉切片通过揭示亚表面信息提供额外的剖析。DualBeam仪器配备卓越的聚焦离子束色谱柱,可实现高质量的交叉切片。借助自动化技术,可实现无人参与的高通量样品处理功能。

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原位实验

需要通过电子显微镜直接实时观察微观结构变化,以便了解在加热、冷却和润湿过程中的动态过程(如再结晶、晶粒生长和相变)的基本原理。

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颗粒分析

颗粒分析在纳米材料研究和质量控制中发挥着重要作用。纳米级分辨率和卓越的电子显微镜成像可以与专用软件相结合,以快速表征粉末和微粒。

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X射线光电子能谱

X射线光电子能谱 (XPS) 能够进行表面分析,提供材料最上面10 nm的元素组成以及化学和电子状态。借助深度剖析,XPS分析可以扩展到各层的组成部分。

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自动化颗粒工作流程

自动化纳米颗粒工作流程(APW)是一种用于纳米颗粒分析的透射电子显微镜工作流程,提供纳米级大面积、高分辨率的纳米级成像和数据采集,并进行即时处理。

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(S)TEM 样品制备

DualBeam显微镜可制备用于(S)TEM分析的高质量、超薄样品。借助先进的自动化技术,任何经验水平的用户都可以获得各种材料的专家级结果。

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3D 材料表征

材料开发通常需要多尺度3D表征。DualBeam仪器可实现大体积连续切片和随后纳米级的SEM成像,可用于样品的高质量3D重建。

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能量色散谱EDS

能量色散谱(EDS)可采集详细的元素信息以及电子显微镜图像,为电镜观察提供关键的组成背景。利用EDS可通过快速、整体的表面扫描至各个原子以确定化学成分。

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EDS元素分析

EDS为电子显微镜观察提供重要的组分信息。尤其是我们独特的Super-X和Dual-X检测器系统添加了提高通量和/或灵敏度的选项,使您可以优化数据采集以满足您的研究优先级。

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现代材料研究越来越依赖于三维的纳米级分析。3D电镜和能量色散X射线光谱可以3D表征包括整个化学和结构背景下的组分数据。

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ColorSEM

通过实时采集SEM和EDS信息以及实时定量功能,ColorSEM技术将SEM图像转化为彩色图像。现在任何用户都可以实时获取元素信息,得到比以往任何时候更多的完整信息。

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交叉切片

交叉切片通过揭示亚表面信息提供额外的剖析。DualBeam仪器配备卓越的聚焦离子束色谱柱,可实现高质量的交叉切片。借助自动化技术,可实现无人参与的高通量样品处理功能。

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原位实验

需要通过电子显微镜直接实时观察微观结构变化,以便了解在加热、冷却和润湿过程中的动态过程(如再结晶、晶粒生长和相变)的基本原理。

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颗粒分析

颗粒分析在纳米材料研究和质量控制中发挥着重要作用。纳米级分辨率和卓越的电子显微镜成像可以与专用软件相结合,以快速表征粉末和微粒。

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X射线光电子能谱

X射线光电子能谱 (XPS) 能够进行表面分析,提供材料最上面10 nm的元素组成以及化学和电子状态。借助深度剖析,XPS分析可以扩展到各层的组成部分。

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自动化颗粒工作流程

自动化纳米颗粒工作流程(APW)是一种用于纳米颗粒分析的透射电子显微镜工作流程,提供纳米级大面积、高分辨率的纳米级成像和数据采集,并进行即时处理。

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产品

仪器卡片原件样式表

Talos F200S TEM

  • 精确的化学成分数据
  • 用于动态显微镜的高性能成像和精确成分分析
  • 配有 Velox 软件、可实现快速、轻松的获取和分析多模态数据

Talos F200X TEM

  • 高质量、高分辨率的(S)TEM成像和精确的EDS
  • 可提供高分辨率、高亮度(冷)场发射枪
  • 可提供具有终极清洁度的柱内Super-X G2 EDS

Talos F200C TEM

  • 灵活的 EDS 分析可提供化学信息
  • 高对比度、高质量 TEM 和 STEM 成像
  • Ceta 16 Mixel CMOS 相机提供了宽视野和高读取速度

Talos F200i TEM

  • 高质量、高分辨率的(S)TEM成像和灵活的EDS
  • 可使用高分辨率、高亮度(冷)场发射枪
  • 可提供双EDS,以获得最高的分析产量

Helios 5 DualBeam

  • 全自动、高质量、超薄 TEM 样品制备
  • 高通量、高分辨率的亚表面和 3D 表征
  • 快速纳米原型设计能力

Helios 5 PFIB DualBeam

  • 无镓 STEM 和 TEM 样品制备
  • 多模式亚表面和 3D 信息
  • 新一代 2.5 μA 氙气电浆 FIB 色谱柱

Scios 2 DualBeam

  • 完全支持磁性及不导电样品
  • 高通量亚表面和 3D 表征
  • 先进的易用性和自动化功能

Apreo 2 SEM

  • 高性能 SEM、适用于纳米或纳米以下的所有圆分辨率
  • 用于敏感电视率材料对比度的列内 T1 反向散射检测器
  • 长工作距离 (10 mm) 下性能出色

Phenom Pharos G2 Desktop FEG-SEM

  • 1 至 20 kV 加速电压范围的 FEG 源
  • <2.0 nm (SE) 和 3.0 nm (BSE) 分辨率(20 kV 时)
  • 可选的完全集成 EDS 和 SE 检测器

Phenom 微粒 X TC 台式扫描电镜

  • 功能多样的桌面 SEM ,带有自动化软件,可用于技术清洁
  • 分辨率 <10 nm;放大率高达 200,000 倍
  • 可选 SE 检测器

Nexsa G2 XPS

  • 微焦点 X 射线源
  • 独特的多技术选项
  • 用于单原子和簇离子深度剖析的双模式离子源

K-Alpha XPS

  • 高分辨率 XPS
  • 快速、高效、自动化的工作流程
  • 用于深度剖析的离子源

ESCALAB QXi XPS

  • 高光谱分辨率
  • 多技术表面分析
  • 丰富的样品制备和扩展选项

Avizo 软件
材料科学

  • 支持多数据/多视图、多通道、时间序列、超大数据
  • 先进的多模式 2D/3D 自动配准
  • 伪影消除算法

Athena 软件
成像数据管理

  • 确保图像、数据、元数据和实验工作流程的可追溯性
  • 简化您的成像工作流程
  • 促进协作
  • 保护和管理数据访问​

AutoTEM 5

  • 全自动原位 S/TEM 样品制备
  • 支持上下、平面和翻转几何结构
  • 高度可配置的工作流程
  • 易于使用、直观的用户界面

Maps 软件

  • 获得大面积的高分辨率图像
  • 轻松发现感兴趣区
  • 自动化图像采集过程
  • 关联不同来源的数据

3D 重构

  • 直观的用户界面、可最大限度提高用户使用能力
  • 直观的全自动用户界面
  • 基于 " 阴影形状 " 技术、无需阶段倾斜

Metallurgical样品支架

  • 旨在支持树脂安装样品
  • 用于冶金和与刀片配合使用时的首选解决方案
  • 样品尺寸最大至 32 mm 直径和 30 mm 高度

μHeater

  • 用于原位高分辨率成像的超快速加热解决方案
  • 全集成:
  • 温度最高可达 1200 °C

Tensile 样品支架

  • 确定批次质量
  • 确定生产一致性
  • 帮助设计流程

Velox

  • 处理窗口左侧的实验面板。
  • 活细胞定量分析
  • 交互式探测器布局界面用于可重复的实验控制和设置

用于将 H2 样式更改为具有 em-h2-header 类 p 的样式表

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