Thermo Scientific Maps 软件是一款成像和关联工作流程软件套件,兼容整个 Thermo Scientific SEM、DualBeam (FIB SEM) 和 TEM 平台产品线。

科学家和研究人员日益依赖纳米级观测来为研究和分析领域的最新科技进步提供依据。但在缺少更广阔宏观背景的情况下,高分辨率观测结果显然失去了其大部分效用。必须将多个来源的观测结果联系起来,从而为真正有价值的数据提供必要的多尺度和多模态见解。

Maps 软件在易用且可靠的平台内提供了强大的成像工作流程自动化软件包。只需点击几下鼠标,即可收集有效数据,同时保留您的观测结果的背景。

多尺度成像自动化

无论是在 SEM 和 DualBeam 工具还是在透射电子显微镜检查 (TEM) 中进行扫描电子显微分析,Maps 软件都能实现各种应用的自动 2D 成像,从采集大型图像镶嵌到安排非工作时间(夜间、周末)例行成像任务,无所不包。

  • 自动获取多达四个同时信号 (STEM/SEM)
  • 串联运行多个样品以提高系统生产率
  • 为映射采集选择矩形、圆形或自定义形状 (STEM/SEM)
Diatom identified in sand with multi scale microscopy.
使用 Maps 软件中的多尺度分析进行砂子中的硅藻鉴定。

关联显微镜检查

Maps 软件能够关联光学和电子显微镜数据以及在 SEM 和 TEM 之间轻松切换,让您可以获得推动您的研究和开发工作所需的背景信息。利用多模态数据来帮助解读和导航,从而确保始终从正确位置收集正确的数据。

  • 从任何来源导入 2D 和 3D 数据
  • 快速生成整个样品网格或目标感兴趣区域的背景信息
  • 注册来自其他模态(例如能量色散谱、次级电子信号、电子背散射衍射等)的图像
  • 将观测结果集成到一个多尺度的多层可视化环境中
  • 将数据与使用任何 Thermo Scientific EM 平台的系统载物台校准

集成分析

Maps 软件支持在 STEM 平台上进行集成 EDS 图谱采集,以进行化学表征和元素分析以及高分辨率成像。

  • 利用 Thermo Scientific Super-X 和 Dual-X 探头系统实现自动化的大面积、高通量 EDS 采集
  • 支持与电子成像层进行原生关联
  • 采用内置缝合和多尺度可视化
  • 可以使用 Maps 软件选配的脱机版本,在远离显微镜的情况下方便地查看 EDS 图谱

直观的可视化和脱机协作

Maps 软件的选配脱机版本方便您不在实验室时随身携带显微镜。

  • 从您自己的 PC 查看数据
  • 随时随地完整利用 Maps 软件强大的关联功能
  • 在前往实验室前规划好您的下一次成像工作
  • 方便地与同事分享您的多尺度观测结果

Avizo 软件集成

新增的 Thermo Scientific Avizo 软件可自动完成您的图像处理和统计数据生成工作。Avizo 软件提供了丰富的集成式用户体验,将采集与高级分析相融合,并能在采集图像时在后台进行图像处理工作。

  • 通过完整的自动化成像和分析解决方案即时访问关键的统计数据
  • 执行高级图像处理,可在您使用工具时访问
  • 调谐和优化成像与处理工作流程
Gold nanoparticle analysis performed with Avizo Software.
Avizo 软件在 TEM 中提供自动纳米颗粒分析。在这里,EDS 分析对含有氯(浅蓝色)、镍(绿色)和金(红色)的颗粒数量进行了计数,并生成了其相对粒径的直方图。样品承蒙布尔诺材料物理研究所 J. Bursik 提供。
电子显微镜软件

Maps 3 软件

关联显微镜检查和跨平台成像自动化。

 


主要特点

  • 兼容现有 Thermo Scientific SEM、FIB-SEM 和 TEM 平台; 在所有类型仪器上提供统一的用户体验。
  • 综合数据采集、注释和储存方法。
  • 在任何放大倍率(平铺和拼接)下自动采集大型概览;可设置多次采集,以便在无人监督情况下批量收集数据。
  • 在多台显微镜间设置和协调实验。
  • 关联来自不同显微镜的图像,包括使用集成生物信息数据格式库从第三方仪器导入的图像。
     

多尺度成像自动化

用于生成高质量、多尺度图像的全自动化解决方案。

关联显微镜检查

通过整合不同模态和成像平台的观测结果获得见解。

集成分析

通过直接采集和集成元素层,使 EDS 映射更方便并立即产生价值。

直观的可视化和脱机协作

Maps 软件选配的脱机版本方便您在远离显微镜的情况下继续研究并规划您的下一次成像工作。


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相关资源

网络讲座:在多尺度和多模态材料分析挑战下提高生产率

在本网络讲座中,您将:

  • 在更宏观的背景下发现高分辨率图像的优点。
  • 了解 Maps 软件如何高效地同时处理大量样品。
  • 查看如何将不同来源的数据相结合来解答单靠任何一项技术所无法解答的问题。
  • 了解 Maps 软件在实践中如何处理导航、校准和关联。
  • 了解如何才能在操作员不在场的情况下采集清晰的图像。
  • 了解 Maps 软件如何才能发挥强大“虚拟 SEM”的作用。
  • 了解分享图像和数据对您的协作者来说是怎样的。

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