Thermo Scientific Phenom Pure 台式扫描电子显微镜 (SEM) 是从光学到电子显微镜转换的理想工具。它是高分辨率成像的经济型解决方案,可提供一流的成像结果。

 Phenom Pure Desktop SEM 可提供高质量图像,这得益于经久耐用的高亮度 CeB6 源,并提供了市场最快的装载和成像时间。非常可靠的自动对焦和自动化源对齐使其成为市场上最易于使用的系统。 

主要特点

从不丢失导航

用户始终知道样品上的位置,独特的从不丢失导航。光学和电子光学图像的概述可随时提供清晰的参考点。借助集成的电动平台,您可以快速完成样品导航。

易于使用

用户只需经过 10 分钟的基本培训即可拍摄图像。有大量样品架可供选择,以适应广泛的样品。借助我们专利的样品真空上样技术,样品加载快速、轻松。

定制您的 SEM

 Phenom Pure Desktop SEM 可配置两个可选检测器系统。  第一个是完全集成的能量色散谱 (EDS) 系统。 第二个是需要表面和拓扑敏感成像应用的二级电子检测器 (SED)。 


性能数据

产品表格规范样式表
光学放大率
  • 固定 27x
电子光学放大率范围
  • 160–175,000x
分辨率
  • ≤15 nm
数字变焦
  • 最大 12x
光学导航摄像头
  • 彩色
加速电压
  • 默认: 5 kV 和 10 kV
真空模式
  • 高真空模式
  • 通过可选低真空样品架实现减少电荷模式
检测器
  • 背散射电子检测器(标配)
  • 能量色散型 X 射线光谱检测器(可选)
  • 二级电子检测器(可选)
样本尺寸
  • 最大直径为 25 mm
  • 32 mm(可选)
样品高度
  • 最高 35 mm
  • 100 mm(可选)
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台式扫描电镜博客

是否想在不影响可用性的前提下释放扫描电子显微术的强大功能?在我们的 Phenom Desktop SEM 博客中,加深您对台式扫描电子显微术的了解,并了解台式 SEM 如何为您的研究提供最佳支持。

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SEM image of metal particle
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SEM image of double Perovskite LaSrZnFeO<sub>6</sub>
SEM image of double Perovskite LaSrZnFeO6

网络讲座:扫描电子显微镜:选择适合您需求的技术

这一应要求举办的网络讲座旨在帮助您确定哪一款 SEM 最符合您的独特需求。我们概述了 Thermo Fisher Scientific SEM 技术适合多用户研究实验室,重点介绍这些广泛的解决方案如何实现性能、多功能性、原位动力学以及更快得出结果。如果您有兴趣,请观看该网络讲座:

  • 如何满足不同微区分析模式的需求(EDX、EBSD、WDS、CL 等)。
  • 如何自然状态下表征样品,从而无需进行样品制备。
  • 先进的自动化技术如何使研究人员节省时间并提高生产率。
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网络讲座:扫描电子显微镜:选择适合您需求的技术

这一应要求举办的网络讲座旨在帮助您确定哪一款 SEM 最符合您的独特需求。我们概述了 Thermo Fisher Scientific SEM 技术适合多用户研究实验室,重点介绍这些广泛的解决方案如何实现性能、多功能性、原位动力学以及更快得出结果。如果您有兴趣,请观看该网络讲座:

  • 如何满足不同微区分析模式的需求(EDX、EBSD、WDS、CL 等)。
  • 如何自然状态下表征样品,从而无需进行样品制备。
  • 先进的自动化技术如何使研究人员节省时间并提高生产率。

应用

采用电子显微镜进行过程控制

采用电镜进行过程控制

现代工业需求高通量、质量卓越、通过稳健的工艺控制维持平衡。SEM扫描电镜TEM透射电镜工具结合专用的自动化软件,为过程监控和改进提供了快速、多尺度的信息。

使用电子显微镜进行质量控制和故障分析

质量控制和故障分析

质量控制和保证对于现代工业至关重要。我们提供一系列用于缺陷多尺度和多模式分析的 EM电子显微镜和光谱工具,使您可以为过程控制和改进做出可靠、明智的决策。

使用电镜进行基础材料研究

基础材料研究

越来越小的规模研究新型材料,以最大限度地控制其物理和化学特性。电子显微镜为研究人员提供了对微米到纳米级各种材料特性的重要见解。

EDS元素分析

EDS为电子显微镜观察提供重要的组分信息。尤其是我们独特的Super-X和Dual-X检测器系统添加了提高通量和/或灵敏度的选项,使您可以优化数据采集以满足您的研究优先级。

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3D EDS断层扫描

现代材料研究越来越依赖于三维的纳米级分析。3D电镜和能量色散X射线光谱可以3D表征包括整个化学和结构背景下的组分数据。

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使用EDS进行原子级元素映射

原子分辨率EDS通过区分单个原子的元素特性,为材料分析提供无与伦比的化学环境。当与高分辨率透射电镜TEM结合时,可以观察样品中原子的精确组织。

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对热样品进行成像

在现实条件中,研究材料通常需要在高温下工作。在热量存在时,可以通过扫描电子显微镜或DualBeam工具对材料再结晶、熔化、变形或反应的行为进行原位研究。

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原位实验

需要通过电子显微镜直接实时观察微观结构变化,以便了解在加热、冷却和润湿过程中的动态过程(如再结晶、晶粒生长和相变)的基本原理。

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多尺度分析

必须在更高分辨率下分析新材料,同时保留较大的样品背景。多尺度分析允许多种成像工具和模态(如X射线microCT、DualBeam、激光PFIB、SEM和TEM)关联。

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EDS元素分析

EDS为电子显微镜观察提供重要的组分信息。尤其是我们独特的Super-X和Dual-X检测器系统添加了提高通量和/或灵敏度的选项,使您可以优化数据采集以满足您的研究优先级。

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3D EDS断层扫描

现代材料研究越来越依赖于三维的纳米级分析。3D电镜和能量色散X射线光谱可以3D表征包括整个化学和结构背景下的组分数据。

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使用EDS进行原子级元素映射

原子分辨率EDS通过区分单个原子的元素特性,为材料分析提供无与伦比的化学环境。当与高分辨率透射电镜TEM结合时,可以观察样品中原子的精确组织。

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对热样品进行成像

在现实条件中,研究材料通常需要在高温下工作。在热量存在时,可以通过扫描电子显微镜或DualBeam工具对材料再结晶、熔化、变形或反应的行为进行原位研究。

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原位实验

需要通过电子显微镜直接实时观察微观结构变化,以便了解在加热、冷却和润湿过程中的动态过程(如再结晶、晶粒生长和相变)的基本原理。

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多尺度分析

必须在更高分辨率下分析新材料,同时保留较大的样品背景。多尺度分析允许多种成像工具和模态(如X射线microCT、DualBeam、激光PFIB、SEM和TEM)关联。

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