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碳纳米材料和其他低维度材料有望在电子和过滤等多个行业中得到应用。随着对这些新型材料的研究，人们对低 kV 扫描透射电子显微镜 (STEM) 的兴趣也越来越高，这是因为该技术能够生成具有原子分辨率级别的图像。然而、此扫描能力会受到辐射水平的显著影响；只有在低于撞击损伤阈值（通常低于 60 kV ）的低加速电压下、才可实现无射束损伤成像。
在此类低值下、分辨率限制导致的畸变可以严重破坏成像效果。电子束的单色化或使用冷场发射枪已被证明是降低色度模糊的可靠方法。探针校正器通过减少或可能甚至消除由低加速电压导致的畸变来进一步提高信号。
赛默飞世尔科技在 Thermo Fisher Scientific Spectra S/TEM 产品系列中将单色化和探针校正相结合，是 2D 材料成像的理想解决方案。通过使用 Spectra S/TEM，加上 Thermo Scientific S-CORR 探头校正器具有卓越的校正能力，而且 Thermo Scientific CETCOR 图像校正器可以对球面畸变进行补偿，因此加速电压可以低至 30 kV。
使用高分辨率 STEM 和 S-CORR 探头矫正器成像的二硫化钼样品中的缺陷。探针电压 = 30 kV，收敛角 = 41 mrad。所观察到的 2D 材料层数已标注。
使用高分辨率 STEM 和 S-CORR 探头矫正器成像的二硫化钼。探针电压 = 30 kV，收敛角 = 41 mrad。可鉴别单个钼和硫原子。
由高分辨率 STEM 和 5 阶 S-CORR 探针像差校正器生成的二硫化钼 HAADF DCFI 图像（高角度环形暗场漂移校正帧成像，在 30kV 和 1 Å 分辨率下采集）。此图显示了在低加速电压下使用 S-CORR 校正器成像 2D 材料的优势。
以高分辨率 TEM 成像的 2D 石墨烯。
使用高分辨率 STEM 和 S-CORR 探头矫正器成像的二硫化钼样品中的缺陷。探针电压 = 30 kV，收敛角 = 41 mrad。所观察到的 2D 材料层数已标注。
使用高分辨率 STEM 和 S-CORR 探头矫正器成像的二硫化钼。探针电压 = 30 kV，收敛角 = 41 mrad。可鉴别单个钼和硫原子。
由高分辨率 STEM 和 5 阶 S-CORR 探针像差校正器生成的二硫化钼 HAADF DCFI 图像（高角度环形暗场漂移校正帧成像，在 30kV 和 1 Å 分辨率下采集）。此图显示了在低加速电压下使用 S-CORR 校正器成像 2D 材料的优势。
以高分辨率 TEM 成像的 2D 石墨烯。
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