HRTEM

透射和扫描透射电子显微镜 (S/TEM) 是表征纳米结构的重要工具，提供一系列不同的成像模式，并能获得高灵敏度的元素组成和电子结构的信息。随着材料研究逐渐开始将重点放在对纳米级材料功能和行为进行优化上，因此在该分辨率下的准确信息变得越来越重要。高分辨率 TEM (HRTEM) 和 STEM (HRSTEM) 能够获得最详细的结构信息，从根本上对样品进行原子组织进行表征。这对于纳米材料研究而言是极具价值的，因为微小的结构性不一致和差异可能导致材料的性质发生重大变化。例如，铂纳米粒子中的原子结构和原子间距会对其在氢燃料电池中的催化行为产生重大影响。

HRTEM 显微镜

赛默飞世尔科技为 HRTEM 和 HRSTEM 分析各种样品（包括粒子束敏感材料）提供了硬件和软件创新。特别是，采集过程中的漂移、振动或其他不稳定性的影响通常会降低图像质量。Thermo Scientific Velox 软件中的漂移校正帧集成 (DCFI) 是一种采集方法，克服了该问题，从而生成具有高对比度和高信噪比的图像。增加集成式差相对比 (iDPC) 软件后，即使在低剂量条件下，也能通过同时对轻元素和重元素进行更可靠的成像来轻松采集可解读的高分辨率图像。

来自赛默飞世尔科技的高分辨率透射电子显微镜

而且，Spectra S/TEM 仪器还能通过 S-CORR 探头偏差校正器的额外偏差校正功能进行高分辨率成像，可以稳定获得亚埃 (<0.8 Å) S/TEM 成像。最后，新的 Talos 和 Spectra S/TEM 仪器采用 Panther STEM 检测系统，包括经优化的机械对准和探测器几何结构，可更好地实现多信号采集和机械对准精度。其具有更高的通量和更简便的操作方式、增益/偏移的线性响应和信号处理的更多灵活性。使用高达 16 个区段和具有超高电子灵敏度的新放大器设计，以低剂量 STEM 可视化更多细节。

将高质量的自动化 S/TEM 仪器和领先的软件解决方案相结合，HREM 和 HRSTEM 成像技术使您能够收集关于最具挑战性材料的无以伦比的原子分辨率信息。

Gallium nitride imaged at atomic resolution.

使用 HAADF (DCFI) STEM 在 300 kV 和 39 pm 的分辨率下成像的氮化镓 [212]，在宽间隙 (S-TWIN) 极片上的快速傅立叶变换中显示出 40.5 pm 的镓-镓哑铃形分裂。

相关资源

图像

MOF (metal organic framework) imaged at atomic resolution.

金属有机骨架 (MOF) UiO 66 的超低剂量成像 (166 e-/ Å2)。将 <0.5 pA 的探针电流与 iDPC 和灵敏的新 STEM 探测器组合使用，以在此高度对剂量敏感的材料中实现原子级成像。标本由阿卜杜拉国王科技大学的 Y. Han 教授提供。

Aluminum alloy nanoparticle imaged at high resolution with STEM.

使用 Velox 软件和 Talos F200 STEM 采集的固态铝基质上带有铝锆沉淀物（浅灰色）的铁铝合金纳米颗粒（中心）的 DCFI STEM 图像。样品由荷兰代尔夫特理工大学提供。

Zirconium atoms on an aluminum allow imaged at high resolution with STEM.

使用 Velox 软件和 Talos F200 STEM 采集的铁铝合金上单个锆原子的 DCFI STEM 图像。图像宽度 ~14 nm。样品由荷兰代尔夫特理工大学提供。

Potassium tungsten niobite imaged at atomic resolution.

在 Talos F200 STEM 上使用高角度环形暗场 (HAADF) 成像高分辨率扫描透射电子显微镜术 (HRSTEM) 成像的铌钨酸钾。单个原子可以清楚地看到。图像宽度 ~15 nm。

Platinum rhodium catalyst nanoparticles imaged at high resolution with STEM.

使用 Talos F200 S/TEM 成像的铂/铑催化剂纳米颗粒在大视野中显示。数字变焦允许提取到原子级的详细信息（插图）。4k × 4k Ceta CMOS 摄像机及其大视野使得可以在整个高张力范围内以高灵敏度和高速进行实时数字缩放。样品由科罗拉多矿业学院的 B. Gorman 教授和 R. Richards 教授提供。