Iliad Ultra (S)TEM

适用于材料科学的 Iliad Ultra 扫描透射电子显微镜

创新的 Thermo Scientific Iliad Ultra (S)TEM 通过实时高压切换，在单次电镜使用期间可以在不同电压下收集不同信号，从而彻底改变了 TEM。传统上，优化EDX和EELS的成像需要不同的电压。

完全集成的 Iliad Ultra (S)TEM 配备了前沿 Iliad EELS 谱仪和能量过滤器、专用 Zebra 探测器和具有最大固体角的Ultra-X 探头。它还配备了 NanoPulser，这是一种创新的超快静电束闸，并配备了实时高压切换功能，彻底改变了 TEM。可以在Thermo Scientific Velox 软件中实现无缝数据采集，以及通过 Thermo Scientific AutoScript 软件自定义工作流程来简化操作，实现多种应用。

Iliad Ultra (S)TEM 的优势

Iliad Ultra (S)TEM 可在 30 至 300 kV 之间的不同电压运行。从加速电压切换到任何其他电压只需大约5分钟。
它是一款行业领先的EDX探测器，具有 4.45 srad 大固体角（或使用分析型双倾样品杆时为 4.04 srad 固体角）。
使用全新的 Iliad Ultra (S)TEM，加速电压就像束斑电流一样，是一个可实时调节的参数，而 Ultra-X EDX 系统则能对传统 EDX 分析中对电子束敏感的材料进行化学表征。
Iliad Ultra (S)TEM 球差校正透射电镜可在材料科学和半导体应用领域的多种样品上提供行业中最分辨率的表征能力。

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Iliad Ultra (S)TEM 功能

在 Iliad Ultra (S)TEM 上进行实时高压切换

在 30 到 300 kV 的加速电压范围内实时切换高压对于优化实验条件至关重要。它通过有针对性的实验设置、分辨率优化和实验多功能性提供灵活性、控制样品灵敏度，帮助您获得最佳的成像结果并探索各种可能的科学途径。

灵活选择电压

TEM使用广泛的能量来表征各种类型的材料。在 30 到 300 kV 的加速电压范围内切换高压，可灵活选择适合您特定实验要求的电压。不同的样品和成像技术可能会从不同的电压设置中受益，从而增强实验能力和通用性。

样品敏感度和损伤控制

电子显微镜将样品暴露于高能电子束下。TEM工作电压直接影响电子的能量和其与样品的相互作用。通常在30 kV 等较低电压下表征精密样品或对撞击损伤敏感的样品，以尽可能减少由于过度电子能量所造成的损伤。另一方面，更高的电压，如300 kV，可以更好地穿透更厚的样品，从而能够对更致密的材料或更深的层进行成像。

分辨率和对比度优化

TEM 中工作电压的选择可显著影响所获得数据的质量。较低的电压可提高对比度，特别是对撞击损伤敏感的样品，它可减少损伤并提高图像质量。另一方面，较高的电压可以提高分辨率，从而能够对精细结构进行详细成像和高分辨率分析。

实验多功能性

在不同加速电压之间切换扩展了使用TEM进行的实验和应用范围。您可以根据特定样品类型、成像模式或分析技术来定制实验条件。这种多功能性使从材料科学到纳米技术的科学研究范围更广

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Iliad EELS 谱仪和能量过滤器

新型Iliad EELS谱仪和能量过滤器具有先进的光学元件和高稳定性，并且与TEM光学元件进行了独特的集成，以改善EELS数据收集体验。

对于 EELS 实验而言，必须同时将大范围的电子能量（高达数千电子伏特）通过电镜和谱仪，从样品传递到探测器，而不引入任何色差模糊或畸变。如果使用其他系统来实现这一目标，操作人员需要不断改变参数，以保持电子显微镜和谱仪处在最佳状态。Iliad Ultra (S)TEM 中显微镜电子光学器件与谱仪之间的紧密集成使色散焦点与谱焦点相匹配，有助于确保整个实验条件范围内的准确传输。

使用EELS获得的LaMnO₃/LaFeO₃ 界面的原子分辨元素图。

使用EELS获得的TbScO₃ 的原子分辨元素图，其中绿色是 Tb, 红色是 Sc。

NanoPulser 超快静电束闸

在电子显微镜中使用超快静电束闸来优化电子剂量。它可以有选择性地偏转电子束，以高频率有效地阻断和打开照射到样品的电子束。TEM通常使用磁偏转器，其响应时间为毫秒，并且不像静电偏转器那样具有可重复性。Nanopulser 超快静电束闸能够精确控制输送到样品的电子剂量，可以实现从剂量效率成像到时间分辨实验的广泛应用

使用传统（不遮挡电子束）STEM（左）和超快静电束闸（右）对样品进行电子束扫描。在扫描过程中会遮挡 50% 电子束，同时完全消除回扫信号。

Velox 软件

适用于透射电子显微镜的先进 Thermo Scientific Velox 软件可提供完整的实验控制。它可方便访问扫描透射电子显微镜(STEM 和 TEM) 的光学元件和探测器，从而提高了材料STEM和TEM定量分析的可重复性、效率和支持能力。

Velox 软件具有集成的符合人机工效学的用户界面和易用性，可提供质量良好的成像和元素分布。集成的 SmartCam 可实现高效的实验设置。此外，它还具有交互式探测器布局界面，用于在多探测器工具上进行最佳实验控制和记录。Velox 软件可在各种模式下对轻、重元素进行高衬度原子成像，以及拍摄用于原位动态研究的(S)TEM 视频。