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通过 X 射线荧光 (XRF) 光谱法和元素分析仪进行元素分析,鉴定聚合物并控制杂质。
XRF 非常适合分析和定量低至亚 ppm 级的各种元素。它可以提供关于添加剂或污染物的关键信息,特别是在监管环境中。
80多年来,我们在全球范围内为运输、建筑、食品、制药、学术研究、石油和电子等许多行业的聚合物分析提供 X 射线分析解决方案。我们提供久经考验且经济的 XRF 系统,以增强您在聚合物分析和开发方面的能力。
鉴定并定量聚合物中无机添加剂(如颜料、填料、阻燃剂和稳定剂)的元素组成和浓度。ARL QUANT'X EDXRF 光谱仪非常适合分析和量化低至亚 ppm 级的各种元素,以符合不同的规范。
使用 ARL PERFORM'X WDXRF 光谱仪分析聚合物中的关键痕量元素(灵敏度极高、检测限极低,可检测元素周期表中的各种元素),允许批量分析以及高级元素映射和低至 0.5 mm 的点样,是严格定量聚合物分析的理想解决方案。
在聚合物材料表征和质量控制检测中使用 FlashSmart 元素分析仪测定氮、碳、氢、硫和氧元素。相较于传统方法,其自动化和模块化设计有助于实验室在不使用有害试剂的情况下提高生产率。
聚合物的理化性质主要取决于其元素和结构组成。
X 射线荧光 (XRF) 非常适合分析和量化低至亚 ppm 级(的添加剂或污染物)的各种元素,其中一些元素受到监管,必须符合不同的规范。
另一方面,X 射线衍射 (XRD) 提供必要的结构信息,如聚合物的多晶型、结晶度 (%) 和微晶尺寸,以确保其结构-性质关系。
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