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微区分析
改善 X 射线微区分析
Thermo Scientific Pathfinder X 射线微区分析适用于 SEM/EDS 和 SEM/WDS，可以避免许多传统元素 X 射线微区分析中出现的易犯错误。Pathfinder 软件采用光谱成像数据作为基础，与处理算法阵列配合确保获得精确的数据，直接对样本中的化学相进行分类。可以在数分钟内获得有用的信息，快速、无分析偏差。Pathfinder 软件将改变 EDS/EDX 和 WDS/WDX 的使用方式。
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微区分析特色产品
使用 Thermo Scientific Quasor II 电子背散射衍射同时轻松获得 EBSD 数据和 EDS/WDS 光谱图像。Quasor II EBSD 可以表征会影响金属、地质样本和半导体材料等各种材料的物理性质的晶体结构，并通过扫描电子显微镜 (SEM) 和 X 射线微区分析进行检测。
使用新型 Thermo Scientific Lumis EBSD 系统改善金属、地质和半导体材料等样品的光谱成像。采用专为高通量和高分辨率设计的 EBSD 技术结合扫描电子显微镜 (SEM) ，可快速鉴定样品的结晶相、晶粒尺寸和取向，以及结构转变。
Pathfinder X 射线微区分析软件可与电子显微镜上的能量色散光谱仪 (EDS) 和波长色散谱仪 (WDS) 配合使用。Pathfinder 软件能够创新高效地处理来自最新的 X 射线检测器技术的输入数据，将分析时间由数小时大幅缩短到数分钟。
使用本款光谱仪可以为元素分析带来无可匹敌的速度和可靠性。其内置专家系统可自动进行位置校准、分析设置与数据采集，实现真正集成化的 EDS/WDS 系统—使高分辨率微区分析如同 EDS 系统一样易于使用。
使用该检测器可以更快地对 X 射线进行更准确的判读，在相当高的采集速率下提供出色的分辨率。与 Pathfinder X 射线微区分析软件配合使用，特别适用于金属和采矿、先进材料和半导体。
了解 WDS 技术
下载30页的小册子《Wavelength-dispersive (X-ray) Spectroscopy》，它是Wiley Essential Knowledge Briefing 系列的组成部分。了解这种有价值且易用的技术，以补充 SEM/EDS 。
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