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从材料(包括从金属到聚合物到有机薄膜)的表面1-10nm内收集化学态信息。
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探察元素特征和XPS分析的信息知识库。
单原子和气体团簇深度剖析和样品清洁的双离子源。
了解公司XPS系统的生产如何适应用户应用需求。
挖掘特点用于解决用户表面分析问题。
XPS可分析3至300原子层以探索表面和薄膜的化学组成。