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表面分析
信頼できる解答を導き出す
Thermo Scientific™ XPS 分光装置は、もっとも難しい表面、薄膜、およびインターフェースの問題を解決します。当社の分析における技術革新により、材料科学の最先端の科学者は、超薄膜やナノテクノロジー開発の分野で目覚ましい進歩を遂げることが可能になります。比類ない使いやすさ、クラス最高レベルのソフトウェア、そして高いサンプルスループットが、製造や分析ラボに優れた結果をご提供します。新しい問題が発生した場合でも、当社が提供する包括的な XPS 分光器は、その性能と柔軟性により、確信のある答えを導き出します。
関連する XPS システム
高精度の結果を迅速かつ効率的に得ることができます。コンパクトな Thermo Scientific™ K-Alpha™ システムは、高いサンプルスループットと先進的な機能により、ルーチン分析と研究分析において XPS の必要要件を満たします。K-Alpha は、Thermo Scientific™ Avantage データシステムの案内に従って直感的に操作できるため、マルチユーザー施設に最適なシステムです。
Thermo Scientific™ ESCALAB™ XI+ イメージング XPS マイクロプローブの優れた分析性能とフレキシビリティーをご体感ください。このシステムは、高い感度と高分解能定量イメージングおよびマルチテクニック性能を兼ね備えており、質の高いサーベイスキャンを数秒で行います。
Thermo Scientific™ シータプローブ同時角度分解型 X 線光電子分光システムを使用することにより、超薄層の特性の非破壊的にを分析できます。シータプローブにより、サンプルを傾けることなく角度分解スペクトルを収集できるため、複雑な薄膜の測定が簡単かつ直感的にできます。
次の表面分析実験では最高の分析性能をお約束します。Thermo Scientific™ MAGCIS™ のデュアルモードイオン源は、同じ XPS 機器で軟質素材および硬質素材の詳細なプロファイリング分析と表面クリーニングを可能にします。ガスクラスタースパッタリングと単原子スパッタリングの切り替えは完全に Avantage ソフトウェアによって行われ、瞬時に完了します。
表面分析用 Thermo Scientific™ Avantage データシステムは、光電子分光器の潜在的可能性を最大限に引き出しきます。クラス最高のデータシステムは、装置制御、データ取得、データ解析、およびレポートを統合制御するもので、高精度かつ正確で信頼性の高い装置制御を提供します。
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XPS 機器の構築方法に変革をもたらす
新しい K-Alpha は、卓越した XPS 性能と、サンプルの投入からレポートの作成まで完全に自動で行うワークフローをお手頃な価格でご提供します。
MAGCIS の全容
このデュアルモードイオン源は、同じ XPS 機器で軟質素材および硬質素材の詳細なプロファイリング分析と表面クリーニングを可能にします。