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Phenom ParticleMetric particle analysis software

Integrated Thermo Scientific Phenom ParticleMetric Software allows you to gather morphology and particle size data for numerous sub-micron particle applications with any Phenom Desktop SEM. The fully automated measurements of ParticleMetric Software allow a level of visual exploration beyond optical microscopy that can lead to new discoveries and innovations in powder design, development, and quality control. 

Phenom ParticleMetric Software provides insightful data about your particles quickly and easily; these insights can help you improve the quality of your products and expedite your research.

Key features of ParticleMetric particle analysis software

Online and offline analysis

Integrated within Thermo Scientific Phenom ProSuite Software for online and offline analysis.

Correlating features

Correlate particle features such as diameter, circularity, aspect ratio and convexity.

Advanced detection algorithm

Features an advanced detection algorithm with default settings for non-expert user and advanced settings for experts.

Automated image mapping

Create image datasets with complimentary automated image mapping software.


Specifications

재품 표 사항에 대한 스타일시트

Particle size range

  • 100 nm - 0.1 mm

Particle detection

  • 8/16 bit image processing

Speed

  • More than 1,000 particles per minute

Measured properties

  • Size, shape, count

Particle parameters      

  • Area, circle equivalent diameter, surface area, circumscribed circle diameter, volume by area, circumference, aspect ratio, circularity, elongation, grayscale, major axis, minor axis, convex hull, gravity center (x,y), pixel count, and convexity.

Digital image detection                  

  • Plot graphs in linear, log or double log scale, by number or by volume
  • Scatter plots of any given parameter
  • SEM image of individual particle

Output

  • Report in docx format, TIFF image format, CSV file, Project file (.PAME) for offline analysis

Part of ProSuite Software

  • Network storage enabled
  • Phenom integrated system
Style Sheet for Komodo Tabs

Resources

Applications

부품 청결도 검사 중에 SEM에 의해 발견된 알루미늄 미네랄 입자

기술적 청결도

그 어느 때보다 오늘날의 제조업계는 신뢰할 수 있는 고품질 부품을 필요로 합니다. 주사전자현미경을 이용해, 내부에서 광범위한 분석 데이터를 제공하고 생산 주기를 단축시킬 수 있는 부품 청결도 분석을 수행할 수 있습니다.


Techniques

에너지 분산 분광법

에너지분산 분광법(EDS)은 전자 현미경 이미지를 통해 상세한 원소 정보를 수집하고 EM 관찰을 위한 중요한 조성 정보를 제공합니다. EDS를 사용하면 신속하고 종합적인 표면 스캔부터 개별 원자에 이르는 화학적 조성을 측정할 수 있습니다.

자세히 알아보기 ›

3D EDS 단층 촬영

오늘날의 재료 연구는 3차원의 나노단위 분석에 점점 더 의존하고 있습니다. 3D EM과 에너지 분산 X선 분광법으로 전체 화학적 조성 데이터 및 구조적 정보 등 3D 특성 분석이 가능합니다.

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EDS 원소 분석

EDS는 전자 현미경 관찰에 있어 중요한 조성 정보를 제공해 줍니다. 특히, 당사의 독자적인 Super-X 및 Dual-X 검출기 시스템은 향상된 처리량 및/또는 감도를 위한 옵션을 제공함으로써 연구 우선 순위에 준하여 데이터 획득을 최적화합니다.

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EDS를 통한 원자 규모 원소 맵핑

원자 분해능 EDS는 개별 원자의 원소적 정체성을 구별함으로써 재료 분석을 위한 탁월한 화학적 정보를 제공합니다. 고분해능 TEM과 함께 사용하면 시료에서 정확한 원자 조성을 관찰할 수 있습니다.

자세히 알아보기 ›

입자 분석

입자 분석은 나노 재료 연구 및 품질 관리에 있어 중요한 역할을 합니다. 분말 및 입자의 신속한 특성 분석을 위해 나노미터 규모의 분해능과 전자 현미경법의 우수한 이미지 생성 기능을 특수 소프트웨어와 결합할 수 있습니다.

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에너지 분산 분광법

에너지분산 분광법(EDS)은 전자 현미경 이미지를 통해 상세한 원소 정보를 수집하고 EM 관찰을 위한 중요한 조성 정보를 제공합니다. EDS를 사용하면 신속하고 종합적인 표면 스캔부터 개별 원자에 이르는 화학적 조성을 측정할 수 있습니다.

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3D EDS 단층 촬영

오늘날의 재료 연구는 3차원의 나노단위 분석에 점점 더 의존하고 있습니다. 3D EM과 에너지 분산 X선 분광법으로 전체 화학적 조성 데이터 및 구조적 정보 등 3D 특성 분석이 가능합니다.

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EDS 원소 분석

EDS는 전자 현미경 관찰에 있어 중요한 조성 정보를 제공해 줍니다. 특히, 당사의 독자적인 Super-X 및 Dual-X 검출기 시스템은 향상된 처리량 및/또는 감도를 위한 옵션을 제공함으로써 연구 우선 순위에 준하여 데이터 획득을 최적화합니다.

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EDS를 통한 원자 규모 원소 맵핑

원자 분해능 EDS는 개별 원자의 원소적 정체성을 구별함으로써 재료 분석을 위한 탁월한 화학적 정보를 제공합니다. 고분해능 TEM과 함께 사용하면 시료에서 정확한 원자 조성을 관찰할 수 있습니다.

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입자 분석

입자 분석은 나노 재료 연구 및 품질 관리에 있어 중요한 역할을 합니다. 분말 및 입자의 신속한 특성 분석을 위해 나노미터 규모의 분해능과 전자 현미경법의 우수한 이미지 생성 기능을 특수 소프트웨어와 결합할 수 있습니다.

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재료 과학을 위한 전자 현미경
서비스

최적의 시스템 성능을 보장하기 위해 세계 수준의 현장 서비스 전문가 네트워크, 기술 지원 및 인증된 예비 부품을 제공해드립니다.

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