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地质学和矿物分析
生产中使用的大多数材料都来自地球资源，通常始于从地下开采的矿石。对地质学家、采矿业和使用矿藏中有益物质的公司来说，地质样品和矿物的表征分析能力至关重要。
矿物包含元素周期表中的许多元素，特别是过渡金属和过渡后金属，以及类金属。这些元素可能与活性碱金属和碱土金属（如钠、钙和钾）结合。大多数金属材料与氧结合为氧化物。
这些化合物的晶体结构使其分析变得复杂。大多数地质样品并非由单晶组成，而是典型的复杂多晶材料。
为了定位矿床、控制选矿过程或将其转化为供应商材料，分析工具对于同位素特征、元素和结构鉴定至关重要。
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元素分析
使用特征 X 射线快速测定地质学和矿物样品的元素成分。由于每种元素都具有独特的电子轨道，当通过 X 射线或电子束激发时，样品会发出独特的信号，可鉴别样品中的元素。
典型无损 X 射线荧光 (XRF) 技术是在水泥、金属、采矿、石油、化学品、环境及食品等各种应用中准确进行无损元素分析的金标准。
电子显微镜中的能量色散谱与 XRF 的原理相同，使地质学家能够在显微镜下鉴别元素和相位。
快速地表征和分析材料，确保满足产品的化学规格。X 射线荧光 (XRF) 技术是对地质学和矿物样品进行准确无损元素分析的黄金标准。
与大多数光谱技术一样，X 射线荧光使用能量源激发样品，产生特征光谱。所有样品均由一些元素组成，当入射 X 射线束撞击样品时，一些电子会从材料中射出。当电子在原子中被替换时，会发出特征 X 射线能量，我们可以通过测量该能量来鉴别它来自那种元素。
可将仪器设计成捕获从样品发射的全光谱能量（称为能量色散），或者可以使用衍射晶体按波长选择特定的能量范围，以便分离多种元素和冲突的能量。
XRF 资源
达到快速地表征和分析材料，以确保满足产品的化学规格。X 射线荧光 (XRF) 技术是对地质学和矿物样品进行准确无损元素分析的黄金标准
能量色散 X 射线光谱（EDS 或 EDX）使用与 X 射线荧光相同的表征原理：能量源撞击样品，使电子从材料中射出。由于每个原子都使用外层电子来稳定，因此跃迁会产生特征 X 射线。因此，测量跃迁能量可鉴别相应元素。
为了生成显微图像，电子显微镜用电子束流过样品。因此，这种电子束成为 EDS 分析的激发源。一项配套技术，WDS（或 WDX），使用晶体和 X 射线光学器件来细化波长的能量读数，以获得更高的灵敏度，减少例如如硅 (1.739 Kα) 和钨 (1.774 M)的重叠能量之间的冲突。
X 射线微区分析资源
广受欢迎的 X 射线微区分析产品
结构分析
利用衍射技术在整体或微观尺度上测定宝石和矿物的晶体结构。利用拉曼光谱法通过光谱数据鉴定矿物结构。
大多数矿物都会形成有组织的结构。这些形状受到矿物原子结构的影响，但它们也可能受到晶体生长环境的影响。许多材料和矿物不易以单晶形式存在。当今的 X 射线衍射仪可以轻松分析任何多晶样品，包括整块固体、薄膜和粉末。在扫描电子显微镜中，电子束产生背向散射电子，也会呈现衍射图，可用于晶体结构分析。
拉曼光谱法能够检测轻元素矿物（如碳和氟）；区分多晶型（如硫化铁的多晶型）；表征含有微量元素（如闪锌矿中的铁）的硫化物；以及鉴别硅酸盐、氧化物和碳酸盐煤矸石矿物。拉曼微探头还可用于拉曼成像和表面及夹杂物的映射
X 射线衍射是一种用于测定晶体结构的技术。样品中的晶体结构会导致入射 X 射线束向多个特定方向衍射。产生的强度由检测器进行测量，不仅提供有关样品矿物成分的有用信息，还提供详细的晶体信息，如平均微晶尺寸或内部原子取代。
X 射线衍射能够定性鉴别样品中存在的多晶相、定量分析多相样品中存在的各相浓度，以及显示多晶样品中微晶取向的取向分布。该技术具有通用性，不仅限于单晶结构测定。
XRD 资源
采用智能方法进行化学成像和数据采集，实现整个样品的快速扫描，精确定位特征成像区域（例如，目标颗粒、缺陷、杂质等）。Thermo Scientific DXR3xi 拉曼成像显微镜可快速简洁地提供可视化信息，非常适用于多用户实验室。
当光照射在分子上时，光被分子散射。其中一部分光的频率与光和分子振动之间的相互作用频率不同。由于晶体中的分子振动和声子的频率调制有其特征性，因此通过从散射光的光谱中可以分析材料的组成或其晶格信息。
拉曼光谱可以表征材料的化学骨架、多晶型结构和结晶度。偏振还可以显示晶体方向，使拉曼光谱分析成为了解材料的结构-功能关系的综合性工具。
拉曼显微镜使用可见光波长，使其能够通过单点测量或低至1微米的快速成像分辨和鉴别小缺陷和污染物。
拉曼资源
新型 CMOS 摄像机技术可以显著提高灵敏度和速度。您可从我们的 Quasor II 电子背散射衍射 (EBSD) 检测器中进行选择，以经济实惠的价格实现快速采集速率以及准确的模式检测和索引。或者查看我们新的 Lumis EBSD 检测器，了解出色的 EBSD 技术。
电子背散射衍射是一种类似于 X 射线衍射的晶体学表征技术，但是在显微层面上的。在扫描电子显微镜 (SEM) 中使用时，EBSD 使用 Bragg 角测量值（衍射图案）来表征样品的晶相和 SEM 中电子相互作用的取向。
软件工具可以测量样品的取向错误、晶粒大小和晶体结构。该数据在了解样品的微观结构和加工历史方面具有重要价值，包括了解高温下母相的先前结构；机械试验后的储存和残余变形；各种微观结构特征的种群，包括沉淀物和晶界特征。
EBSD 资源
专题视频