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XRF(X 射线荧光)是一种用于测定材料中元素组成的无损分析技术。XRF 技术通过分析可样品由一级 X 射线源激发而散射出的荧光(或二级)X 射线,来确定样品的化学属性。样品中的每一种元素受激发后都会产生一组特定独特的荧光 X 射线(“指纹”),因此对于材料化学成分定量及定性分析而言,XRF 光谱法是一种非常好的技术。
X 射线荧光过程
XRF 光谱解读
大多数原子都有几个电子轨道(例如 K 壳层、L 壳层、M 壳层)。当 X 射线能量导致电子进出这些壳层时,会产生强度不同的 XRF 峰,并且将以图表形式在光谱中显示 X 射线强度峰与能量峰的函数关系。峰能量用于识别元素,峰高度/强度通常表示其浓度。
能量色散 X 射线荧光 (EDXRF)
EDXRF 是便携式 X 射线荧光分析仪中常用的技术。EDXRF 设计用于同时分析多组元素,以便快速测定样品中的相应元素及其相对浓度,换句话说,即样品的元素化学成分。
欲了解如何使用这些信息,请参考废金属。回收商需要正确识别多种合金等级,在材料转移点快速分析其化学成分,并向客户保证产品的质量。金属合金专为不可互换的特殊功能而设计;成分的微小变化就会导致明显不同的机械性能。幸运的是,手持 XRF 分析仪可以很容易地区分这些等级。
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