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유도 결합 플라즈마 발광 분석법(ICP-OES) 데이터 분석은 다단계 프로세스입니다. 우선 사용할 플라즈마 보기 및 구성과 함께 올바른 시료 도입 방법을 선택해야 합니다. 그런 다음 수정해야 하는 가능한 간섭들을 고려하여 분석법 개발을 수행해야 합니다. 마지막으로 분석법 및 분석 결과에 대한 평가가 수행됩니다.
이상적으로는 물리학적 및 화학적 효과를 실험적으로 제거해야 하며 분석자는 고체 상 검출기를 사용하여 분석을 위해 간섭 없는 파장을 선택할 수 있어야 합니다. 그러나 이것이 가능하지 않을 경우 대체 기법을 사용해야 합니다. ICP-OES 분석 중 발생하는 간섭에는 물리적, 화학적 및 스펙트럼 간섭의 세 가지 주요 유형이 있습니다.
물리적 간섭은 시료 이송 또는 분무에 영향을 미치는 시료와 보정 표준물질 사이의 차이로 정의됩니다. 이러한 차이에는 점도, 밀도 또는 매트릭스가 포함될 수 있습니다(시료 자체 또는 분해/보존 절차로부터 기인됨). 이러한 문제를 해결하는 데 사용할 수 있는 몇 가지 솔루션으로는 시료 희석 및 매트릭스 매칭 등이 있습니다. 내부 표준화는 매트릭스가 완전히 알려지지 않은 경우에 도움이 될 수 있습니다. 표준물질 첨가는 매트릭스를 완전히 알 수 없고 외부 보정을 사용하여 보정할 수 없는 경우에 유용합니다.
화학적 간섭은 시료와 보정 표준물질이 플라즈마에서 반응하는 방식에 차이가 있을 때 발생하여 의도하지 않은 이온화, 분자 형성 또는 플라즈마 부하를 초래합니다. 또한 일부 원소(예: 알칼리)는 이온화 효과를 겪습니다.
화학적 간섭을 완화하기 위해 몇 가지 단계를 수행할 수 있습니다. 이온화 완충액을 추가하면 일부 원소에 대한 이온화 효과를 완화하는 데 도움이 될 수 있습니다. 유기 시료의 경우 산소(압축 공기에 존재)를 시료와 함께 플라즈마에 추가할 수 있으며, 산소의 추가는 스펙트럼의 낮은 범위에서 간섭이 발생한다는 점에 유의해야 합니다. 플라즈마 파라미터를 최적화하면 플라즈마 부하를 줄이는 데 도움이 될 수 있습니다.
스펙트럼 간섭은 가장 일반적인 ICP-OES 문제입니다. 스펙트럼 간섭에는 세 가지 유형이 있습니다.
이 문제를 해결하기 위해 오프-피크(off-peak) 백그라운드 수정과 함께 때로는 원소간 보정이 사용됩니다. 전체 프레임은 광 검출기에서 강도 분포를 시각화하고 스펙트럼의 다른 영역에서 발생하는 스펙트럼 간섭에 대한 통찰력을 제공할 수 있습니다(그림 2).
내부 표준물질은 모든 시료를 동일한 원소에 참조함으로써 시료와 표준물질의 물리적 차이를 보정하는 데 사용됩니다. 그런 다음 내부 표준물질 원소에 의해 발생하는 신호의 억제 또는 증강에 따라 시료에 보정을 적용합니다. ICP-OES 분석의 일반적인 내부 표준물질은 스칸듐(scandium) 및 이트륨(yttrium)입니다.
내부 표준물질의 사용에 대해 설정된 요구 사항이 있습니다. 내부 표준물질은 플라즈마 내에서 동일한 방식으로 반응하는 원소를 참조해야 합니다. 즉, 이들은 모두 원자 또는 이온 파장입니다. 원소 파장과 내부 표준물질 파장은 동일한 플라즈마 보기 및 슬릿을 가져야 합니다(예: 축/축 및 방사형/방사형, UV/UV 및 VIS/VIS). 내부 표준물질의 파장은 간섭이 없어야 하고, 백그라운드 보정을 사용해야 하며, 모든 시료에 동일한 양의 내부 표준물질을 추가해야 합니다. 내부 표준물질을 온라인에서 추가할 때 내부 표준물질 혼합 키트를 사용할 수 있습니다.
표준물질 첨가법(MSA: method of standard addition)은 내부 표준물질로 보정할 수 없는 강한 물리적 간섭을 극복하거나, 플라즈마에 알 수 없는 효과가 있는 완전히 알려지지 않은 매트릭스가 있는 경우에 사용합니다. MSA를 사용하기 위한 사전 요구 사항은 보정 곡선의 선형성입니다. MSA 사용 시 잠재적 시료에 알려진 원소가 첨가됩니다. 그런 다음 선형 회귀 분석을 통해 시료의 농도를 계산할 수 있습니다.
직접 스펙트럼 중첩이 발생하는 경우 이러한 간섭을 보정하기 위해 원소 간 보정(IEC: inter-element correction)을 적용할 수 있습니다. 원소 간 보정은 각 분석에 간섭의 겉보기 농도에 기반한 보정 비율을 적용합니다. IEC는 비율을 적용하기 때문에 백그라운드 보정 지점의 정확한 선택 및 분석 물질과 간섭 물질 간 선형 관계의 존재에 의존합니다.
방법이 안정적으로 수행되고 생성된 데이터가 유효한지 확인하기 위해 품질 관리 시료가 사용됩니다. 데이터 분석 중에 다음을 포함하되 이에 국한되지 않고 다양한 품질 관리 테스트를 수행할 수 있습니다.
특정 소프트웨어 기능은 분석되는 시료에 따라 파장 및 플라즈마 파라미터 선택을 통해 분석법 개발을 용이하게 합니다. 이러한 기능의 예로 Thermo Scientific Qtegra Intelligent Scientific Data Solution(ISDS) 소프트웨어의 Element Finder 플러그인이 있습니다.
Thermo Scientific iCAP 7000 Plus Series ICP-OES용 Qtegra(ISDS) 소프트웨어는 플라즈마 최적화 도구와 Element Finder 플러그인의 두 부분으로 구성된 통합형 분석법 개발 도구를 제공합니다.
플라즈마 최적화 도구는 시료 유형(수성 또는 유기)에 따라 RF 출력 및 분무기 가스 흐름을 최적화합니다. 최적의 강도 및 신호 대 백그라운드 (또는 신호 대 백그라운드의 제곱근) 비율을 달성하기 위해 플라즈마 최적화를 수행할 수 있습니다. 이 과정에서 모든 분석물에 대해 최적의 평균 파라미터를 얻을 수 있도록 여러 파장을 선택할 수 있습니다.
Element Finder 플러그인은 시료에 기반하여 분석에 적합한 파장을 식별합니다. 이는 분석물 및 매트릭스 원소를 선택하여 수동으로 수행하거나 전체 프레임 시리즈를 실행하여 자동으로 수행됩니다.
알려진 시료의 경우, 분석물 및 매트릭스 원소를 선택합니다. Element Finder 플러그인은 내장된 파장 라이브러리를 사용하여 다른 원소 파장과 간섭이 없는 파장을 선택할 수 있습니다.
전혀 알려지지 않은 시료의 경우에, Element Finder 플러그인을 사용하여 시료에 존재하는 원소를 찾을 수도 있습니다. 이는 간단한 3단계로 수행됩니다. 첫 번째 단계에서는 시료 전체 프레임을 여러 개 선택합니다. 두 번째 단계에서는 어떤 원소가 발견되었는지 보여 주고 사용할 파장을 제안합니다. 원하는 파장을 수동으로 선택할 수도 있습니다. 보다 나은 선택을 위해 간섭이 하위 배열 창에 표시됩니다. 세 번째 마지막 단계에서는 결과를 분석법(method)으로 가져와서 측정에 사용할 수 있습니다.
수동 분석법 개발에는 개발에는 여러 번의 프로세스 반복과 알 수 없는 양의 시료가 필요하지만 Element Finder 플러그인은 5분 미만의 시간과 단 8밀리리터의 시료 용액만 필요합니다.
애플리케이션 노트, 과학 포스터, 웨비나 등의 라이브러리에서 원소 및 동위원소가 어떻게 시료의 기원과 식별에 필요한 정보를 제공하는지 알아보십시오.