유도 결합 플라즈마 발광 분석법(ICP-OES) 정보

유도 결합 플라즈마 발광 분석법(ICP-OES)은 환경, 금속 가공, 지질학, 석유화학, 제약, 재료, 식품 안전 분야 등 다양한 애플리케이션에서 선택되는 기술입니다. 수성 및 유기 액체, 고체와 같은 다양한 시료 유형에 적용할 수 있습니다. 이러한 시료 유형 중 일부는 특정 시료 전처리 기법 또는 특정 액세서리의 사용이 필요합니다.

유도 결합 플라즈마 질량분석법(ICP-MS) 또는 원자흡수광도계(AAS)와 같은 다른 원소 분석 기법에 비해 ICP-OES를 사용하면 폭넓은 선형 동적 범위, 높은 매트릭스 내성, 향상된 분석 속도의 달성 등의 장점이 있습니다.

플라즈마는 가스이며 이 분석법의 경우 상당한 양의 아르곤 이온을 함유하고 있는 아르곤 가스가 사용됩니다. 플라즈마는 플라즈마 토치를 통과하는 아르곤 가스에 전자를 주입하여 형성됩니다. 전자가 가속되고 아르곤 원자와 충돌하면서 더 많은 전자를 방출하고 아르곤 이온을 형성합니다. 원자 형태의 원소가 플라즈마에 도입됩니다. 이들 원자의 일부는 플라즈마 내에서 이온화됩니다. 원자 또는 이온이 플라즈마 내에서 여기(excited) 상태가 되면 전자가 낮은 에너지 수준에서 높은 에너지 수준으로 이동합니다(그림 1). 이러한 전자가 초기 '기저(ground)' 상태로 이완되면 에너지가 광자 형태로 방출됩니다. 방출된 광자는 각 원소의 특징적인 파장을 가지고 있습니다.

하나의 원소에서 수차례의 전자 여기 및 이완이 발생할 수 있습니다. 따라서 여러 개의 특징적인 파장이 나타날 수 있습니다. 그림 2에는 칼슘에 대한 방출 스펙트럼의 예가 나와 있습니다.

ICP-OES는 원소의 고유한 방출 스펙트럼을 활용하여 원소를 식별하고 정량화합니다.

ICP-OES에 대해 이 섹션에서 설명되는 내용은 다음과 같습니다.

• ICP-OES의 기반을 이루는 시스템 및 기술에 대한 이해
• ICP-OES를 사용하여 분석할 수 있는 시료 유형과 시료 전처리 및 주입 중 고려해야 할 조건
• 정확한 데이터 분석을 방해하는 요인 식별 및 보정