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钢铁 制造业

钢制造领域的冶金学家和研究人员需要借助扫描电子显微镜 (SEM)能量色散 X 射线谱仪 (EDS)的数据用于失效分析和工艺改进。 Thermo Scientific Phenom ParticleX Steel Desktop SEM 是一种多用途台式 SEM,能够对钢铁中的非金属夹杂物进行失效分析和自动表征。

钢铁 夹杂物 分析

这种用于钢样品高质量成像和元素分析的多功能解决方案提供了当今高效生产高质量钢铁所需的数据。快速、简单的分析使您能够快速响应客户对缺陷、故障等的索赔,自动化的钢铁夹杂物分析能够帮助您深入了解炼钢过程。

主要特点

占地面积小

Phenom ParticleX Steel Desktop SEM 仅需要标准壁式电源,无需更改基础设施即可扩展分析实验室的能力。集成的 EDS 使用户能够简单地通过单击来使用元素映射和线扫描,它可以在线图中显示量化的元素分布。

易于使用

用户界面基于成熟的易用技术Phenom Desktop SEM该界面使现有客户和新客户都可以通过最少的培训快速熟悉系统。独特的 CeB6光源的高亮度有助于捕捉高图像细节以及快速自动分析钢铁夹杂物。

行业专用软件

基于多年的钢夹杂物分析经验,默认的分类规则和分析配方使用户能够快速捕获有价值的数据。

面向未来

虽然您可使用默认分类规则和分析配方快速开始钢铁夹杂物分析,但分类方法和分析菜单是完全可定制的。这使您可以在更新的配方中获得新的见解


性能数据

电子光学放大率范围

  • 160 - 200,000x

光学放大率

  • 3–16x

分辨率

  • <10 nm

图像分辨率选项

  • 960x600、1920x1200、3840x2400、7680x4800 像素

加速电压

  • 默认: 5 kV、10 kV 和 15 kV
  • 高级模式:可在 4.8 kV 至 20.5 kV范围内调节成像与分析模式

真空水平

  • 低 - 中 - 高

检测器

  • 背散射电子检测器(标配)
  • 能量色散型 X 射线光谱 (EDS) 检测器(标配)
  • 二级电子检测器(可选)

样品尺寸

  • 最大 100x100 毫米(最大 36 x 12 毫米插针)
  • 最高 40 毫米(可选最高 65 毫米)

装载样品时间

  • 光学 <5 秒 
  • 电子光学 <60 秒
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台式扫描电镜博客

是否想在不影响可用性的前提下释放扫描电子显微术的强大功能?在我们的 Phenom Desktop SEM 博客中,加深您对台式扫描电子显微术的了解,并了解台式 SEM 如何为您的研究提供最佳支持。

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相关资源

应要求举办的网络讲座:新型 Phenom ParticleX Steel Desktop SEM

Phenom ParticleX Steel Desktop SEM 具有集成的 EDS 和专为钢制造应用设计的软件,例如故障和失效分析,以及夹杂物的定量表征。在下方注册以观看我们录制的网络讲座,并详细了解带有 EDS 的 Phenom ParticleX Steel Desktop SEM 如何实现对制造过程的精确控制,从而生产出更高质量的材料。


网络讲座:扫描电子显微镜:选择适合您需求的技术

这一应要求举办的网络讲座旨在帮助您确定哪一款 SEM 最符合您的独特需求。我们概述了赛默飞世尔科技 SEM 技术适合多用户研究实验室,重点介绍这些广泛的解决方案如何实现性能、多功能性、原位动力学以及更快得出结果。如果您有兴趣,请观看该网络讲座:

  • 如何满足不同微区分析模式的需求(EDX、EBSD、WDS、CL 等)。
  • 如何在自然状态下表征样品,从而无需进行样品制备。
  • 先进的自动化技术如何使研究人员节省时间并提高生产率。

点播观看:使用台式 SEM 的粒子分析应用程序网络讲座系列

在每次应要求举办的网络讲座中,我们的专家将专注于一个特定的分析应用程序以及 Phenom ParticleX Desktop SEM 如何克服一些最常见的挑战。请参阅以下各个讲座的摘要。

  • 如何使用 SEM+EDS 证明您的 NCM 粉末质量
  • 电子学中的电子显微镜级清洁度
  • 加快您的自动枪击残留物分析
  • 使用 SEM 进行技术清洁度分析:为什么?
  • 通过自动夹杂物分析了解您的钢铁
  • 一种用于完整 AM粉末表征的工具

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应用

采用电子显微镜进行过程控制

采用电镜进行过程控制

现代工业需求高通量、质量卓越、通过稳健的工艺控制维持平衡。SEM扫描电镜TEM透射电镜工具结合专用的自动化软件,为过程监控和改进提供了快速、多尺度的信息。

使用电子显微镜进行质量控制和故障分析

质量控制和故障分析

质量控制和保证对于现代工业至关重要。我们提供一系列用于缺陷多尺度和多模式分析的 EM电子显微镜和光谱工具,使您可以为过程控制和改进做出可靠、明智的决策。


技术

3D 材料表征

材料开发通常需要多尺度3D表征。DualBeam仪器可实现大体积连续切片和随后纳米级的SEM成像,可用于样品的高质量3D重建。

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EDS元素分析

EDS为电子显微镜观察提供重要的组分信息。尤其是我们独特的Super-X和Dual-X检测器系统添加了提高通量和/或灵敏度的选项,使您可以优化数据采集以满足您的研究优先级。

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3D EDS断层扫描

现代材料研究越来越依赖于三维的纳米级分析。3D电镜和能量色散X射线光谱可以3D表征包括整个化学和结构背景下的组分数据。

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使用EDS进行原子级元素映射

原子分辨率EDS通过区分单个原子的元素特性,为材料分析提供无与伦比的化学环境。当与高分辨率透射电镜TEM结合时,可以观察样品中原子的精确组织。

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