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表面分析
提供可靠解答
Thermo Scientific™ XPS 能谱仪能够应对最具挑战性的有关表面、薄膜以及界面的问题。我们的分析手段创新使得处于材料科学最前沿的科学家们能够在超薄薄膜和纳米技术开发等领域取得瞩目进展。无与伦比的易用性、同类产品中最先进的软件以及高样品通量，为生产和分析实验室提供出色结果。对任何表面科学领域的新问题，我们功能全面的 XPS 能谱系统都可以高效、灵活地提供可靠的解决方案。
特色 XPS 系统
Thermo Scientific™ Nexsa™ X 射线光电子能谱仪 (XPS) 系统能提供全自动、高通量的多技术分析，并可保持研究级结果的高质量水平。集ISS、UPS、REELS、拉曼等多种分析技术于一身，用户因此能够进行真正意义上的相关性分析，从而为微电子、超薄膜、纳米技术开发以及许多其他应用进一步取得进展释放潜能。
Thermo Scientific™ ESCALAB™ XI+ X 射线光电子能谱仪 (XPS) 微探针系统的分析能力强大、灵活性高。结合高灵敏度、高分辨定量成像以及其他多种技术，可以实现数秒内高质量全谱扫描。
确保您的下一次表面分析实验保持最佳性能。Thermo Scientific™ MAGCIS™ 双模式复合型离子源能够同时在一套XPS 系统中对柔性材料和硬材料进行深度剖析和表面清洁通过 Avantage 软件可在数秒内自动切换团簇刻蚀和单原子刻蚀不同模式。
利用 Thermo Scientific™ Avantage 数据系统，发挥电子能谱仪在表面分析的全部潜能。这款一流的数据系统集成了仪器控制、数据采集、数据处理和报告导出功能，实现精准可靠的仪器控制。
X 射线光电子能谱仪专题视频
MAGCIS由内而外
此款双模式复合型离子源能够在同一台 XPS 仪器上同时实现对柔性材料和硬材料进行深度剖析和表面清洁。