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Talos F200i Transmission Electron Microscope
The Thermo Scientific Talos F200i (S)TEM is a 20-200 kV field emission (scanning) transmission electron microscope uniquely designed for performance and productivity across a wide range of Materials Science samples and applications. Its standard X-Twin pole piece gap—giving the highest flexibility in applications—combined with a reproducibly performing electron column opens opportunities for high-resolution 2D and 3D characterization, in situ dynamic observations, and diffraction applications.
Talos F200i Transmission Electron Microscope advantages
Designed for multi-user and multi-discipline environments, the Talos F200i (S)TEM is also ideal for novice users. It is equipped with the Thermo Scientific Velox user interface, which is immediately familiar since it is shared across all Thermo Scientific TEM platforms. All TEM daily tunings have been automated to provide the best and most reproducible setup. The Align Genie automation software eases the learning curve for novice operators, reduces tensions in a multi-user environment, and improves time-to-data for the experienced operator. A side-entry retractable Energy Dispersive X-ray Spectroscopy (EDS) detector can be added to the configuration to enable chemical analysis.
Compact design
The smaller footprint and dimensions of the Talos F200i facilitate accommodation of this tool in more challenging spaces. In addition, this compact design eases access for service needs while also reducing infrastructure and support costs.
Productivity for all users
To further enhance productivity, especially in multi-user, multi-material environments, the constant-power objective lenses, low-hysteresis design, and remote operation with the SmartCam Camera allow for straightforward reproducible mode and high-tension switches. The Talos F200i (S)TEM also features educational online help. Simply pressing F1 with the mouse hovering over a control panel quickly opens relevant information.
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Talos F200i Transmission Electron Microscope features
Large area fast acquisition of Gold-Nickel nanoparticles
Example of large-area, high-resolution EDS mapping with Dual-X on gold-nickel nanoparticles, acquired in less than one minute. Sample courtesy of J. Bursik, Institute of Physics of Materials, Brno.
Revealing details on Silver Nickel core-shell nanoparticles
Example of high-resolution EDS mapping of AgNi nanoparticles which are effectively used as catalysts for reduction of nitro compounds (for example 4-nitrophenol, 4-nitroaniline) and degradation of organic dyes. The individual EDS maps reveal that system Ag0.6Ni0.4 showed the highest catalytic activity for reduction and degradation reaction of nitro compounds and organic dyes. AgNi nanoparticles are also studied as catalysts for generation of hydrogen. In this use case, the hydrogen generation rate of AgNi nanoparticles was found to be much higher compared to Ag and Ni nanoparticles of similar size. Also a single map reveals that one of the shells is actually Sulphur instead of Nickel. Sample courtesy of J. Bursik, Institute of Physics of Materials, Brno.
Beam-sensitive analytics on Co-g-C3N4/Pt
Example of high-resolution EDS mapping of beam-sensitive material used for photocatalytic hydrogen evolution. The small nanoparticles (Pt) act as active sites for the photocatalytic reaction. These nanoparticles are studied to observe the structure of Co-g-C3N4 loaded with Pt nanoparticles and find the relationship between the position of Co atoms and Pt nanoparticles to analyze the reason for improved photocatalytic activity of this sample. In this experiment, it was assumed that Co should be atomically dispersed or located with a diameter of less than 1 nm (single atomic dispersion) on the surface of g-C3N4, and that the Pt nanoparticles should be deposited on the surface of Co-g-C3N4. This was confirmed by the results of elemental mapping data. Sample courtesy of Prof. ShengChun Yang, Xi’an Jiaotong University, China.
Talos F200i for Materials Science
The Thermo Scientific Talos F200i S/TEM is a 20-200 kV field emission (scanning) transmission electron microscope uniquely designed for performance and productivity across a wide range of Materials Science samples and applications. Its standard X-Twin pole piece gap—giving the highest flexibility in applications—combined with a reproducibly performing electron column opens opportunities for high-resolution 2D and 3D characterization, in situ dynamic observations, and diffraction applications.
Large area fast acquisition of Gold-Nickel nanoparticles
Example of large-area, high-resolution EDS mapping with Dual-X on gold-nickel nanoparticles, acquired in less than one minute. Sample courtesy of J. Bursik, Institute of Physics of Materials, Brno.
Revealing details on Silver Nickel core-shell nanoparticles
Example of high-resolution EDS mapping of AgNi nanoparticles which are effectively used as catalysts for reduction of nitro compounds (for example 4-nitrophenol, 4-nitroaniline) and degradation of organic dyes. The individual EDS maps reveal that system Ag0.6Ni0.4 showed the highest catalytic activity for reduction and degradation reaction of nitro compounds and organic dyes. AgNi nanoparticles are also studied as catalysts for generation of hydrogen. In this use case, the hydrogen generation rate of AgNi nanoparticles was found to be much higher compared to Ag and Ni nanoparticles of similar size. Also a single map reveals that one of the shells is actually Sulphur instead of Nickel. Sample courtesy of J. Bursik, Institute of Physics of Materials, Brno.
Beam-sensitive analytics on Co-g-C3N4/Pt
Example of high-resolution EDS mapping of beam-sensitive material used for photocatalytic hydrogen evolution. The small nanoparticles (Pt) act as active sites for the photocatalytic reaction. These nanoparticles are studied to observe the structure of Co-g-C3N4 loaded with Pt nanoparticles and find the relationship between the position of Co atoms and Pt nanoparticles to analyze the reason for improved photocatalytic activity of this sample. In this experiment, it was assumed that Co should be atomically dispersed or located with a diameter of less than 1 nm (single atomic dispersion) on the surface of g-C3N4, and that the Pt nanoparticles should be deposited on the surface of Co-g-C3N4. This was confirmed by the results of elemental mapping data. Sample courtesy of Prof. ShengChun Yang, Xi’an Jiaotong University, China.
Talos F200i for Materials Science
The Thermo Scientific Talos F200i S/TEM is a 20-200 kV field emission (scanning) transmission electron microscope uniquely designed for performance and productivity across a wide range of Materials Science samples and applications. Its standard X-Twin pole piece gap—giving the highest flexibility in applications—combined with a reproducibly performing electron column opens opportunities for high-resolution 2D and 3D characterization, in situ dynamic observations, and diffraction applications.
Available with a wide range of high-resolution field emissions guns (FEG)
Choose S-FEG, high-brightness X-FEG, or ultra-high-brightness Cold Field Emission Gun (X-CFEG). X-CFEG combines the best (S)TEM imaging with the best energy resolution.
Available with Dual EDS technology
Choose the best EDS detector for your needs, ranging from a single 30 mm² detector to dual 100 mm² detectors for high throughput (or low-dose) analytics.
High-quality STEM/TEM images and accurate EDS
Acquire high-quality TEM or STEM images with the innovative and intuitive Velox Software user interface in very a simple way. Unique EDS absorption correction in Velox Software enables the most accurate quantification.
Best all-round in situ capabilities
Add tomography or in situ sample holders. Fast cameras, smart software, and our wide X-TWIN objective lens gap enable 3D imaging and in situdata acquisition with minimal compromise to resolution and analytical capabilities.
Increased productivity
Ultra-stable column and remote operation with the SmartCam Camera and constant-power objective lenses for swift mode and high-voltage (HT) switches. Fast and easy switching for multi-user environments.
Most repeatable data
All daily TEM tunings, such as focus, eucentric height, beam shift, condenser aperture, beam tilt pivot points and rotation center are automated, ensuring you always start from optimum imaging conditions. Experiments can be repeated reproducibly, allowing more focus on research instead of the tool.
Large field-of-view imaging at high speed
The 4k × 4k Ceta CMOS camera with its large field of view enables live digital zooming with high sensitivity and high speed over the entire high-tension range.
Compact design
Smaller footprint and dimensions facilitate accommodating this tool in more challenging spaces while reducing infrastructure and support costs.
Folha de estilo para especificações de tabela de produtos
| TEM |
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| Operating system XX units |
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| Vacuum system |
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| STEM imaging |
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| Energy disersive x-ray spectroscopy (EDS) |
|
| Electron energy loss spectroscopy (EELS) |
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| Gun brightness 200 kV |
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Controle de processo
A indústria moderna exige alta produtividade com qualidade superior, um equilíbrio mantido por meio de um controle de processo robusto. As ferramentas SEM e TEM com software de automação dedicado proporcionam informações rápidas e em várias escalas para monitoramento e aprimoramento de processos.
Controle de qualidade
O controle de qualidade e a garantia de qualidade são essenciais na indústria moderna. Oferecemos uma gama de ferramentas de microscopia eletrônica e espectroscopia para análises multidimensionais e multimodais de defeitos, permitindo que você tome decisões confiáveis e informadas para controle e melhoria de processos.
Pesquisa de materiais fundamentais
Novos materiais são investigados em escalas cada vez menores para o máximo controle de suas propriedades físicas e químicas. A microscopia eletrônica fornece aos pesquisadores percepções importantes sobre uma ampla variedade de características materiais em escala micro a nano.
Espectroscopia por energia dispersiva
A espectroscopia por energia dispersiva (EDS) coleta informações elementares detalhadas juntamente com imagens de microscopia eletrônica, fornecendo contexto de composição crítico para observações EM. Com a EDS, a composição química pode ser determinada a partir de varreduras de superfície rápidas e holísticas que chegam até a átomos individuais.
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Tomografia EDS 3D
A pesquisa de materiais modernos depende cada vez mais da análise nanométrica em três dimensões. A caracterização 3D, incluindo dados de composição para contexto químico e estrutural completos, é possível com a EM 3D e a espectroscopia de raios X por energia dispersiva.
Mapeamento elementar em escala atômica com EDS
A EDS de resolução atômica fornece um contexto químico sem igual para análise de materiais, diferenciando a identidade elementar de átomos individuais. Quando combinado com a TEM de alta resolução, é possível observar a organização precisa dos átomos em uma amostra.
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Análise elementar EDS
A EDS proporciona informações de composição vitais para observações em microscópio eletrônico. Principalmente, nossos exclusivos sistemas detectores Super-X e Dual-X adicionam opções para maior produtividade e/ou sensibilidade, permitindo otimizar a aquisição de dados para atender às prioridades de pesquisa.
Espectroscopia de perda eletrônica de energia
A pesquisa da ciência de materiais se beneficia da EELS de alta resolução para uma ampla variedade de aplicações analíticas. Isso inclui mapeamento elementar de alto rendimento, alta taxa de sinal e ruído e sondagem de estados de oxidação e fótons de superfície.
Experimentação in situ
A observação direta e em tempo real de alterações microestruturais com a microscopia eletrônica é necessária para entender os princípios subjacentes de processos dinâmicos, como recristalização, crescimento de grãos e transformação de fases durante o aquecimento, o resfriamento e a umidificação.
Análise de partículas
A análise de partículas tem uma função vital na pesquisa de nanomateriais e no controle de qualidade. A resolução nanométrica e a formação de imagens excelentes da microscopia eletrônica podem ser combinadas com software especializado proporcionando uma rápida caracterização de pós e partículas.
Análise em várias escalas
Os materiais novos precisam ser analisados em resolução cada vez maior, mantendo o contexto maior da amostra. A análise em várias escalas permite correlacionar várias ferramentas e modalidades de geração de imagens, como a microTC de raios X, DualBeam, laser PFIB, SEM e TEM.
Fluxo de trabalho de partículas automatizado
O fluxo de trabalho de nanopartículas automatizado (APW) consiste em um fluxo de trabalho de microscópio eletrônico de transmissão para análise de nanopartículas, oferecendo imagens de grande área e alta resolução e aquisição de dados nanométricos em um processamento dinâmico.
Espectroscopia por energia dispersiva
A espectroscopia por energia dispersiva (EDS) coleta informações elementares detalhadas juntamente com imagens de microscopia eletrônica, fornecendo contexto de composição crítico para observações EM. Com a EDS, a composição química pode ser determinada a partir de varreduras de superfície rápidas e holísticas que chegam até a átomos individuais.
Tomografia EDS 3D
A pesquisa de materiais modernos depende cada vez mais da análise nanométrica em três dimensões. A caracterização 3D, incluindo dados de composição para contexto químico e estrutural completos, é possível com a EM 3D e a espectroscopia de raios X por energia dispersiva.
Mapeamento elementar em escala atômica com EDS
A EDS de resolução atômica fornece um contexto químico sem igual para análise de materiais, diferenciando a identidade elementar de átomos individuais. Quando combinado com a TEM de alta resolução, é possível observar a organização precisa dos átomos em uma amostra.
Análise elementar EDS
A EDS proporciona informações de composição vitais para observações em microscópio eletrônico. Principalmente, nossos exclusivos sistemas detectores Super-X e Dual-X adicionam opções para maior produtividade e/ou sensibilidade, permitindo otimizar a aquisição de dados para atender às prioridades de pesquisa.
Espectroscopia de perda eletrônica de energia
A pesquisa da ciência de materiais se beneficia da EELS de alta resolução para uma ampla variedade de aplicações analíticas. Isso inclui mapeamento elementar de alto rendimento, alta taxa de sinal e ruído e sondagem de estados de oxidação e fótons de superfície.
Experimentação in situ
A observação direta e em tempo real de alterações microestruturais com a microscopia eletrônica é necessária para entender os princípios subjacentes de processos dinâmicos, como recristalização, crescimento de grãos e transformação de fases durante o aquecimento, o resfriamento e a umidificação.
Análise de partículas
A análise de partículas tem uma função vital na pesquisa de nanomateriais e no controle de qualidade. A resolução nanométrica e a formação de imagens excelentes da microscopia eletrônica podem ser combinadas com software especializado proporcionando uma rápida caracterização de pós e partículas.
Análise em várias escalas
Os materiais novos precisam ser analisados em resolução cada vez maior, mantendo o contexto maior da amostra. A análise em várias escalas permite correlacionar várias ferramentas e modalidades de geração de imagens, como a microTC de raios X, DualBeam, laser PFIB, SEM e TEM.
Fluxo de trabalho de partículas automatizado
O fluxo de trabalho de nanopartículas automatizado (APW) consiste em um fluxo de trabalho de microscópio eletrônico de transmissão para análise de nanopartículas, oferecendo imagens de grande área e alta resolução e aquisição de dados nanométricos em um processamento dinâmico.
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