電子顕微鏡製品の選択時に検討すべき要素は多数あります。システム構成、ソフトウェアアプリケーション、そして選択したサービスのすべてが連携して機能しないと、必要とされる画期的なデータは取得できないでしょう。システムを収容する物理的な場所や環境は、希望する結果に到達するための基本的な要件です。常に要求度が高まり続けるシステム要件においては、わずかな変動であっても、仕様の範囲内にとどまるか逸脱するかの分水嶺となりかねません。

TEMの場合、試料ホルダーの垂直振動は焦点位置を変化させ、分解能の低下に帰結します。STEM画像の場合、水平方向の擾乱は画像フラグの原因となりますが、これはエッジを乱す可能性があり、分解能に直接影響します。温度の変化もシステムの仕様を逸脱すると、データ損失の原因となる場合があります。クライオTEMラボについては、湿度の制御も重要です。

Thermo Scientificの機器設置に向けた準備サービスポートフォリオを活用することで、システム環境を最適化して競争力を高めることができます。検討内容がラボ内での特定システムの設置であれ、新しい施設のゼロからの構築であれ、当社の環境エンジニアリング専門家が必要な分析と推奨事項を提示し、環境の干渉を最小限に抑え、システムパフォーマンスを最大限に高めます。

すべての装置で利用可能な標準の提供内容と、強化版での提供内容を以下に示します。

  • 設置前のマニュアルおよびレビュー
  • 目視検査
  • 1測定のスナップショット
  • 結果の分析とレポート
Site preparation service
充実のサービス既存施設用パッケージ設計&構築サポートパッケージ
サイト環境測定最大(3)24時間モニタリング調査最大(3)24時間モニタリング調査
設計サポート&レビュー 
電顕室構築時のサポート 
環境専門家サポート
コンサルティング
サードパーティ契約業者の支援
是正アクションプラン 
カスタムCAD図面

サイト測定パラメーター

  • 電磁干渉(EMI)
  • 床振動
  • 音響
  • 温度測定
  • 湿度ロギング

CAD図面

  • 部屋図面
  • モジュラーシステムレイアウト
  • 安全要件
  • 作業エリア要件
  • DWG 2Dおよび3Dと2D PDFファイル

機器設置に向けた準備サービスポートフォリオ

既存施設での設置準備

環境要因により生じる設置条件の障害のトラブルシューティングと解決内容:

  • 目視検査
  • 潜在的な障害による影響の評価(振動、EMI、温度、湿度)
  • 評価レポート
  • 環境による問題に対処するための是正アクションプラン
  • CAD図面

新規施設での設置準備

Thermo Scientific製品に対する集中サポートは、新しく立ち上げられるラボでも、ゼロからの新規建設の一部でも利用可能です。内容:

  • サイト評価
  • 設計および製図プロセス前の専門家によるコンサルティングサポート
  • 建築図面およびシステム概略図のレビュー
  • 初期状態、中間、最終評価の段階で最大3つの測定値を収集
  • 結果と推奨事項についてのレポート
  • CAD図面

サイト調査

既存施設でのThermo Scientific機器の配置と設置についての専門家による推奨事項とアドバイスが含まれます。内容:

  • 潜在的な障害による影響の評価(振動、EMI、温度、湿度)
  • 測定レポート
  • 新しいThermo Scientificシステムの販売時およびインストール前のサイト調査

補完的なサイト測定

測定範囲の拡張または測定長の延長をすることで、必要な環境データを取得することができます。振動、音圧、EMI、および温度と湿度について、スナップショットかモニタリング測定を選択し、結果のレポートを受け取れます。以下のご購入が可能です。

  • 追加のワンタイム「スナップショット」による環境サービスの補完
  • 販売前または設置前の無料スナップショットから、1日または1週間のブロックで実施されるモニタリングサービスへのアップグレード
  • 追加のモニタリングサービス

設置場所の準備に使用するCAD図面

設置と構成の要件を1つの包括的なドキュメントにまとめます。これにはパフォーマンスの中断を最小限に抑え、システムのパフォーマンスと稼働時間を最大化するため、システムの設置要件、安全上の規則、必要な作業エリアを反映したカスタマイズCAD図面が含まれます。


リソース

シニアエンジニアを務めるZahid Chishty氏へのインタビュー。サーモフィッシャーサイエンティフィックの機器設置に向けた準備サービスに期待される内容について、Zahid氏から簡潔にお話しいただきます。

 

ブログ

半導体の不良解析時に環境からの干渉を軽減する方法

 
当社の機器設置に向けた準備サービスチームを活用することで、Helios 4 FX DualBeamシステムでの振動により画像に歪みの生じた原因をどのようにして特定し、そのソリューションを実装したかを解説します。

ブログを読む ›

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