데스크탑 SEM | Phenom ParticleX TC | Thermo Fisher Scientific

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Thermo Scientific Phenom ParticleX TC 데스크탑 SEM은 미세 단위에서 기술 청정도를 가능케 해 주는 다목적 데스크탑 SEM입니다.

고품질, 사내 분석을 위한 다기능 솔루션인 Phenom ParticleX 데스크탑 SEM을 통해 물질의 신속한 특성 분석, 검증 및 분류를 수행할 수 있으며, 신속하고 정확한 신뢰할 수 있는 데이터를 통해 생산을 지원할 수 있습니다. 이 시스템은 작동이 간편하고 빠르게 배울 수 있어 더 많은 사용자 그룹이 입자 및 물질 분석을 활용할 수 있습니다.

Thermo Scientific Phenom ParticleX TC 데모

주요 특징

기술 청정도

(자동차) 산업 내 광학 현미경 검사를 넘어서 작은 입자 분석에 대한 수요가 증가하고 있는 상황에서, Phenom ParticleX TC(기술 청정도) 데스크탑 SEM은 에너지 분산 X선 분광학(EDS)을 통한 자동 주사전자현미경 검사를 제공합니다. 이를 통해 입자의 화학적 분류가 가능하여 생산 공정 및/또는 환경에 대한 유용한 정보를 제공하므로, 광학 현미경 검사에 비해 큰 장점이 됩니다. VDA 19/ISO 16232 또는 ISO 4406/4407 규정을 준수하는 표준 보고서를 사용할 수 있습니다.

2차 전자 검출기

Phenom ParticleX TC(기술 청정도) 데스크탑 SEM에서 옵션으로 2차 전자 검출기(SED)를 사용할 수 있습니다. SED는 시료의 상단 표면층에서 저에너지 전자를 수집합니다. 따라서 이 검출기는 상세한 시료 표면 정보를 밝히기 위한 완벽한 선택입니다. SED는 지형과 형태가 중요한 응용 분야에서 대단히 유용할 수 있습니다. 미세 구조, 섬유 또는 입자 연구가 이에 종종 해당될 수 있습니다.

일반적인 SEM의 용도

사용자 인터페이스는 성공적인 Phenom 데스크탑 SEM 제품에 적용되어 입증된 사용이 쉬운 기술에 기초하고 있습니다. 이 인터페이스를 통해 기존 사용자와 신규 사용자 모두 최소한의 교육에 의해 시스템에 빠르게 익숙해질 수 있습니다.

원소 맵핑 및 라인 스캔

사용자는 간단하게 클릭으로 Phenom ParticleX TC(기술 청정도) 데스크탑 SEM의 원소 맵핑 및 라인 스캔 기능을 사용하여 작업을 수행할 수 있습니다. 라인 스캔 기능은 라인 그림으로 정량화된 원소 분포를 표시합니다.

사양

재품 표 사항에 대한 스타일시트

전자 광학	수명이 긴 열 이온 소스(CeB₆ ) 다중 빔 전류
전자 광학 배율 범위	160~200,000x
조명 광학 배율	3~16x
분해능	<10nm
이미지 분해능 옵션	960 x 600, 1920 x 1200, 3840 x 2400 및 7680 x 4800 픽셀
가속 전압	기본값: 5kV, 10kV 및 15kV 고급 모드: 4.8kV ~ 20.5kV 사이의 조정 가능한 범위 이미징 및 분석 모드
진공 수준	낮음 - 중간 - 높음
검출기	후방 산란 전자 검출기(표준) 에너지 분산 X선 분광학(EDS) 검출기(표준) 2차 전자 검출기(옵션)
시료 크기	최대 100mm x 100mm(최대 36 x 12mm 핀 스터브) 최대 40 mm(h)
시료 로딩 시간	조명 광학< 5초 전자 광학< 60초

데스크탑 SEM 블로그

유용성을 저하시키지 않고 전자 현미경 검사의 강력한 성능을 활용하고자 하십니까? 주사전자현미경법에 대한 지식을 높이고 데스크탑 SEM이 Phenom Desktop SEM blog에서 연구를 최적으로 지원하는 방법을 알아보십시오.

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산업 제조 제품 선택도구

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이상적인 데스크탑 SEM 찾아보기

리소스

Mineral fiber automatically detected and characterized by Phenom ParticleX TC.

광물 섬유는 Phenom ParticleX TC에 의해 자동 검출 및 특성화됩니다.

Large mineral fiber automatically detected and characterized by Phenom ParticleX TC.

Phenom ParticleX TC가 자동으로 검출 및 특성화한 대형 광물 섬유입니다.

스크린샷 원소 맵핑.

스마트폰의 SEM 이미지.

Phenom ParticleX로 촬영한 SED 이미지.

케이블의 SEM 이미지.

섬유의 SEM 이미지.

새로운 Phenom ParticleX 대해 Alexander Bouman

Phenom ParticleX 데스크탑 SEM 보기: 품질은 미세 규모에서 시작합니다

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기술 청정도를 위한 ISO 16232 및 VDA-19 준수.
유압유 오염에 대한 ISO 4406 및 ISO 4407.
추가적인 제조 공급 원료에 대한 입자 형태.
입자 분류 및 보고를 위한 워크플로우 예시.

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웨비나: 주사전자현미경: 귀사의 요구사항에 맞는 기술 선택

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