품질 관리

복잡성이 증가함과 더불어, 점점 더 높은 수준의 신뢰성, 품질 관리 및 제조 부품 보증에 대한 요구에 부응하는 것은 현대 산업에서 점점 더 중요해지고 있습니다. 결함 분석은 품질 규정의 중요한 측면 중 하나로, 부품/재료 장애의 근본 원인을 파악하고 제조 공정에 있어서의 품질 관리를 위한 지표를 설정하며 제 3자 품질 요구 사항을 적용하는 것입니다. 많은 경우에 있어 구성 요소 오류가 소형, 미세한 결함의 직접적인 결과가 되기 때문에, 근본 원인 확인을 위해 필요한 정확한 특성 분석을 얻으려면 다양한 수준의 관찰과 정량화가 유일한 방법입니다.

Thermo Fisher Scientific에서는 결함, 장애 및 오류에 대한 종합적 식별 및 연구를 통해 일관성을 모니터링하는 다양한 도구를 제공합니다. 대용량 분석에 있어, X선 마이크로 단층 촬영(microCT)은 마이크로미터 단위 분해능으로 시료의 3D 재구성을 생성하는 비파괴 기법입니다. 친숙한 병원 CAT 스캔 기술과 기본적으로 동일하게, microCT는 결함 국부화 및 격리를 위해 재료에 대한 실용적인 개요를 제공해 줍니다. 전자 현미경(EM)과 같은 고분해능 기술로 이러한 결과를 추가적으로 추출하고 분석할 수 있습니다.

EM을 사용하면 나노미터 단위의 구조 세부 정보를 얻을 수 있습니다. 이를 통해 다른 기기에서는 관찰할 수 없는 미세 결함이나 공정 사양으로부터의 나노 수준 편차의 특성을 정밀하게 분석할 수 있습니다. 이 정보를 통해 엔지니어와 연구자는 결함 형성의 초기 단계에서 품질 개선을 달성할 수 있습니다.

전자현미경법은 탁월한 구조 상의 상세 정보를 제공할 뿐만 아니라 원소 분석에 있어서의 추가적인 장점을 제공합니다. 에너지 분산 X선 분광법(EDS, EDX 또는 XEDS)이라고 부르는 이 방법은 전자 충돌 시 시료 표면에서 방출되는 X선을 활용합니다. X선 스펙트럼은 원재료에서 발생하는 특징이지만 피크의 강도는 농도에 상응합니다. 이 신호는 관찰된 결함에 관련된 원소에 대한 정보를 위해 EM 이미지 상에서 위치를 링크할 수 있습니다. 사실상, Thermo Scientific ColorSEM 기술은 실시간 EDX 분석을 특징으로 하며, 이를 통해 회색톤 전자 마이크로그래프를 자동으로 채색하여 관찰된 고장 및 결함에 대한 즉각적인 화학적 정보를 제공합니다.