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음극선 발광

음극선 발광(CL)은 전자에 부딪힐 때 물질이 가시광의 특징적인 광자를 방출하는(전자 현미경의 소스에 의해 생성된 것과 같은) 프로세스입니다. 지질학, 광전자, 오류 분석, 세라믹, 유리 등 다양한 분야의 연구자들은 일반적인 전자 또는 X선 이미지 생성 기술로 볼 수 없는 시료 속성을 강조해 보여주는 고유한 방법으로 CL 검출을 사용합니다. CL 데이터와 지형학, 결정학 및 원소 정보의 상관 관계를 통해 광 특성, 구성, 물질 품질 또는 시료 이력을 보다 잘 파악할 수 있습니다.

CL 검출기

Thermo Scientific SEMDualBeam 제품 라인을 위한 다양한 타사 CL 액세서리가 있습니다. 이들 제품은 일반적으로 스펙트럼 CL 검출, 즉 이미지의 각 픽셀에 대한 전체 스펙트럼 모음(하이퍼스펙트럼 이미징이라고도 함)을 전문으로 합니다. 이를 통해 많은 정보가 제공되지만, 대부분의 CL 솔루션은 정렬 및 사용 편의성 문제, 작업 거리 및 시야의 제한, 그리고/또는 X선/후방 산란 전자 신호를 동시에 감지할 수 없는 문제 등이 있습니다.

Thermo Scientific RGB 음극선 발광 검출기는 상기한 제한 사항 없이 기기 사용자 인터페이스에 통합된 리얼 컬러 CL 이미지를 제공합니다. 이것은 인입식 후방 산란 검출기와 많이 유사하게 최종 렌즈와 시료 사이에 미끄러지는 평면 설계를 특징으로 합니다. 기존의 미러 기반 솔루션과 달리, 넓은 검출기 영역이 광학 정렬의 필요성을 없애주며 시야도 제한하지 않습니다. 또한 2차 전자(SE), 후방 산란 전자(BSE) 또는 X선을 동시에 감지할 수 있으므로 SE, BSE 및 에너지 분산 X선 분광학(EDS)과 CL 데이터의 상관 관계를 전자 빔의 단일 스캔만으로 분석할 수 있습니다.

현미경의 사용자 인터페이스에 통합된 RGB 음극선 발광 검출기는 빔이 스캐닝하는 즉시 컬러 이미지를 사용할 수 있게 해줍니다. 이를 통해 이 검출기는 CL 데이터와 걱정 없는 작동과의 상관 관계를 필요로 하는 다중 사용자 실험실에서 고유한 자산이 됩니다.


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리소스

em-h2-헤더 등급으로 H2를 p로 변경하기 위한 스타일 시트

응용분야

전자현미경을 사용한 품질 관리 및 불량 분석

품질 관리 및 불량 분석

품질 관리 및 보증은 현대 산업에 있어 필수적입니다. 당사에서는 결함에 대한 멀티 스케일 및 다중 모드 분석을 위한 다양한 EM 및 분광법 도구를 제공함으로써 공정 관리 및 개선을 위해 신뢰할 수 있으며 정보에 기반한 결정을 가능하게 합니다.

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기초 재료 연구

새로운 물질은 물리적 및 화학적 특성을 최대한 제어하기 위해 점점 더 작은 규모로 연구되고 있습니다. 전자현미경은 연구자들에게 마이크로에서 나노 범위에 이르는 광범위한 물질 특성의 핵심이 되는 유용한 정보를 제공합니다.

 


시료


지질학 연구

지구과학은 암석 시료 내 특징을 일정하고 정확하게 멀티 스케일(multi-scale)로 관찰합니다. SEM-EDS는 자동화 소프트웨어와 결합하여 암석학 및 광물학 연구를 위한 텍스처 및 광물 구성의 직접적인 대규모 분석을 가능하게 합니다.

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오일 및 가스

오일 및 가스에 대한 수요가 지속됨에 따라, 탄화수소를 효율적이고 효과적으로 추출해야 할 필요성이 계속해서 증가하고 있습니다. Thermo Fisher Scientific은 다양한 석유 과학 응용 분야를 위한 다양한 현미경법 및 분광학 솔루션을 제공합니다.

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자동차 재료 테스트

현대적인 차량의 모든 구성 요소는 안전성, 효율성 및 성능을 고려하여 설계됩니다. 전자현미경법 및 분광법에 의한 자동차 재료의 상세한 특성 분석을 통해 중요한 공정을 결정하고 제품을 개선하며 새로운 재료를 신속하게 식별할 수 있습니다.

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제품

기기 카드 원본 스타일시트

Helios Hydra DualBeam

  • 가장 광범위한 물질에 대한 최적화된 PFIB 처리를 위한 고속 전환가능한 4개의 이온 종(XE, AR, O, N)
  • Ga 없이 TEM 시료 준비
  • 초고분해능 SEM 이미징

Helios 5 DualBeam

  • 완전 자동 고품질 초박형 TEM 시료 준비
  • 높은 처리량의 고분해능 표면 및 3D 특성 분석
  • 고속 나노 프로토타입 제작 기능

Helios 5 PFIB DualBeam

  • 갈륨 없이 STEM 및 TEM 시료 준비
  • 다중 모드 표면 하부 및 3D 정보
  • 차세대 2.5 μA 제논 플라즈마 FIB 컬럼

Scios 2 DualBeam

  • 자성 및 비전도성 시료에 대한 완벽한 지원
  • 높은 처리량의 표면 하부 및 3D 특성 분석
  • 향상된 사용 편의성 및 자동화 기능

Axia ChemiSEM

  • 실시간 정량적 원소 맵핑
  • 높은 정확도의 주사전자현미경 이미징
  • 초보자도 사용가능한 유연성 및 사용 편의성
  • 간편한 유지관리

Apreo 2 SEM

  • 전방위적인 나노미터 미만 분해능을 위한 고성능 SEM
  • 민감하고 TV 속도 물질 대비를 위한 In-column T1 후방산란 검출기
  • 긴 작동 거리에서(10mm)에서 뛰어난 성능

PRISMA E SEM

  • 탁월한 이미지 품질의 초보 수준 SEM
  • 여러 시료를 신속하고 쉽게 로딩 및 탐색
  • 전용 진공 모드를 통해 광범위한 물질 사용 가능

Verios 5 XHR SEM

  • 1keV ~ 30keV의 전체 에너지 범위에 걸친 나노미터 미만 분해능을 위한 모노크로메이트 SEM
  • 최저 20eV까지 빔 랜딩 에너지에 쉽게 접근 가능
  • 표준으로 제공되는 피에조(piezo) 스테이지에 의한 뛰어난 안정성

Quattro ESEM

  • 고유한 환경 기능(ESEM)을 갖춘 다기능성 고분해능 FEG SEM
  • 모든 조작 모드에서 동시 SE 및 BSE 이미징을 통한 모든 시료의 모든 정보 관찰

Maps 소프트웨어

  • 넓은 영역에서 고분해능 이미지 획득
  • 관심 영역을 쉽게 발견
  • 자동 이미지 획득 절차
  • 소스가 다른 데이터의 상관관계화

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재료 과학을 위한 전자 현미경
서비스

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