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SEM 광물 식별

지구과학만큼 일관된 멀티스케일 관찰과 특징 해석에 의존하는 학문은 드뭅니다. 깊은 지하의 플로우(flow) 공정에서 더욱 효율적인 자원 추출 방법에 이르기까지 모든 과정은 정확한 시료 특성 분석에 의해 좌우됩니다.

Thermo Fisher Scientific은 복잡한 멀티모드, 멀티스케일 특성 분석 등 일상적인 작업 동안 데이터 수집, 시각화 및 분석을 용이하게 하는 이미징 플랫폼 및 소프트웨어 솔루션 제품군을 구축해왔습니다.

 

암석학 및 광물학

암석 재료의 정확한 텍스처 분석 및 그와 관련된 광물 분포는 암석 시스템의 물리적 및 화학적 측면을 정확하게 설명하는 데 있어 핵심적인 요소입니다. 에너지 분산 X선 분광학(SEM-EDS)과 결합된 주사전자현미경법에 기초하고 있는 광물학적 자동 측정은, 채광 및 광물 처리 산업에서 고분해능 영상과 화학 맵을 획득하는 데 있어 널리 활용되고 있는 방법입니다. Thermo Fisher Scientific은 30년에 걸쳐 시장을 선도하는 SEM-EDS 기술을 제공해 왔습니다. 다음은 당사의 암석학 및 광물학 솔루션이 제공하는 몇 가지 장점입니다.

  • 일상적인 석유화학 및 광물 분석으로 처리할 수 있는 시료 수 증가
  • 자동 분석에 기초하는 광물 콘텐츠의 강력한 통계 저장소 구축
  • 정확한 광물학적 식별을 자동으로 획득
  • 박형 섹션 및 관련 광물 집합체의 디지털 목록 생성
  • EDS 원소 분석, 광물학 및 고분해능 영상을 결합하여 고급 시료 분석 수행
  • 보다 강력한 통계를 위해 더 많은 시료를 분석
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지구과학 소프트웨어를 사용한 멀티스케일 분석

컨텍스트는 텍스처 분석에 있어서만이 아니라, 지질학적 또는 구조 해석에 있어서도 대단히 중요 요소입니다. 전자 이미징은 단일 획득에서 많은 양상을 캡처하므로 조성과 질감에 대해 직접 해석이 가능합니다. 그러나 단순히 단일 프레임 또는 일련의 이미지에 대해 컨텍스트를 고려하지 않고 관찰하면 그 분석의 품질이 낮아집니다.

당사에서는 컨텍스트를 보존하기 위해 특별히 개발된 자동화 소프트웨어 제품군을 제공합니다. Thermo Scientific Maps 소프트웨어는 전자 현미경 검사 플랫폼의 전체 제품군을 위한 교차 플랫폼 자동화 엔진입니다. MAPS 소프트웨어는 사용하기 쉽고 직관적인 소프트웨어 환경 내에서 비교적 큰 이미지 모자이크 획득의 어려움을 덜어줍니다.

  • 자동으로 획득된 대형 고분해능 데이터 세트로 컨텍스트 보존
  • 시스템 시간을 효율적으로 활용
  • 보다 협력적인 데이터 해석을 위해 컨텍스트와 관찰내용 공유

리소스

응용분야

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기초 재료 연구

새로운 물질은 물리적 및 화학적 특성을 최대한 제어하기 위해 점점 더 작은 규모로 연구되고 있습니다. 전자현미경은 연구자들에게 마이크로에서 나노 범위에 이르는 광범위한 물질 특성의 핵심이 되는 유용한 정보를 제공합니다.

 


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기술

3D 재료 특성 분석

물질 개발은 종종 멀티스케일 3D 특성 분석을 필요로 합니다. DualBeam 기기를 사용하여 연속 절편화와 시료의 고품질 3D 재구성 처리가 가능한 연속 SEM 이미지 생성을 나노미터 규모로 가능하게 합니다.

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EDS 원소 분석

EDS는 전자 현미경 관찰에 있어 중요한 조성 정보를 제공해 줍니다. 특히, 당사의 독자적인 Super-X 및 Dual-X 검출기 시스템은 향상된 처리량 및/또는 감도를 위한 옵션을 제공함으로써 연구 우선 순위에 준하여 데이터 획득을 최적화합니다.

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3D EDS 단층 촬영

오늘날의 재료 연구는 3차원의 나노단위 분석에 점점 더 의존하고 있습니다. 3D EM과 에너지 분산 X선 분광법으로 전체 화학적 조성 데이터 및 구조적 정보 등 3D 특성 분석이 가능합니다.

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단면 절단

단면 절단은 표면 하부 정보를 파악하여 추가적으로 유용한 정보를 제공해 줍니다. DualBeam 기기는 고품질 단면 절단 작업에 있어 탁월한 집속 이온 빔 컬럼을 제공해 줍니다. 자동화를 통해 시료의 무인 고처리량 처리가 가능합니다.

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멀티스케일 분석

새로운 물질은 보다 큰 시료 맥락을 유지하면서 더 높은 분해능으로 분석해야 합니다. 멀티스케일 분석을 사용하면 X선 microCT, DualBeam, 레이저 PFIB, SEM, TEM 등의 다양한 영상 도구 및 영상 기법의 상관 관계를 분석할 수 있습니다.

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3D 재료 특성 분석

물질 개발은 종종 멀티스케일 3D 특성 분석을 필요로 합니다. DualBeam 기기를 사용하여 연속 절편화와 시료의 고품질 3D 재구성 처리가 가능한 연속 SEM 이미지 생성을 나노미터 규모로 가능하게 합니다.

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EDS 원소 분석

EDS는 전자 현미경 관찰에 있어 중요한 조성 정보를 제공해 줍니다. 특히, 당사의 독자적인 Super-X 및 Dual-X 검출기 시스템은 향상된 처리량 및/또는 감도를 위한 옵션을 제공함으로써 연구 우선 순위에 준하여 데이터 획득을 최적화합니다.

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3D EDS 단층 촬영

오늘날의 재료 연구는 3차원의 나노단위 분석에 점점 더 의존하고 있습니다. 3D EM과 에너지 분산 X선 분광법으로 전체 화학적 조성 데이터 및 구조적 정보 등 3D 특성 분석이 가능합니다.

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단면 절단

단면 절단은 표면 하부 정보를 파악하여 추가적으로 유용한 정보를 제공해 줍니다. DualBeam 기기는 고품질 단면 절단 작업에 있어 탁월한 집속 이온 빔 컬럼을 제공해 줍니다. 자동화를 통해 시료의 무인 고처리량 처리가 가능합니다.

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멀티스케일 분석

새로운 물질은 보다 큰 시료 맥락을 유지하면서 더 높은 분해능으로 분석해야 합니다. 멀티스케일 분석을 사용하면 X선 microCT, DualBeam, 레이저 PFIB, SEM, TEM 등의 다양한 영상 도구 및 영상 기법의 상관 관계를 분석할 수 있습니다.

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제품

기기 카드 원본 스타일시트

Talos F200i TEM

  • 고품질 S/TEM 이미지 및 정확한 EDS
  • 이중 EDS 기술과 함께 사용 가능
  • 최상의 전방위적인 현장(in situ) 기능
  • 고속으로 대형 관측시야 이미징

Talos F200S TEM

  • 정확한 화학적 조성 데이터
  • 동적 현미경법을 위한 고성능 이미징과 정확한 조성 분석
  • 신속하고 용이한 다중 모드 데이터 획득 및 분석을 위한 Velox 소프트웨어 기능

Talos F200X TEM

  • STEM 세포 이미징과 화학적 분석에서 높은 분해능/처리량
  • 동적 실험을 위해, 현장(in situ) 시료 홀더 추가
  • 신속하고 용이한 다중 모드 데이터 획득 및 분석을 위한 Velox 소프트웨어 기능

Talos F200C TEM

  • 유연한 EDS 분석에 의한 화학적 정보 제공
  • 고대비, 고품질 TEM 및 STEM 이미징
  • Ceta 16Mpixel CMOS 카메라에 의한 넓은 관측시야와 높은 판독 속도 구현

Helios 5 DualBeam

  • 완전 자동 고품질 초박형 TEM 시료 준비
  • 높은 처리량의 고분해능 표면 및 3D 특성 분석
  • 고속 나노 프로토타입 제작 기능

Helios 5 PFIB DualBeam

  • 갈륨 없이 STEM 및 TEM 시료 준비
  • 다중 모드 표면 하부 및 3D 정보
  • 차세대 2.5 μA 제논 플라즈마 FIB 컬럼

Scios 2 DualBeam

  • 자성 및 비전도성 시료에 대한 완벽한 지원
  • 높은 처리량의 표면 하부 및 3D 특성 분석
  • 향상된 사용 편의성 및 자동화 기능

Nexsa G2 XPS

  • 미세 초점 X-선 소스
  • 독자적인 다중기법 옵션
  • 단일 원자 & 클러스터 이온 깊이 프로파일링을 위한 듀얼 모드 이온 소스

K-Alpha XPS

  • 고분해능 XPS
  • 빠르고 효율적이며 자동화된 워크플로우
  • 깊이 프로파일링을 위한 이온 소스

ESCALAB Xi+ XPS

  • 높은 스펙트럼 분해능
  • 다중 기법 표면 분석
  • 광범위한 시료 준비 및 확장 옵션

Maps 소프트웨어

  • 넓은 영역에서 고분해능 이미지 획득
  • 관심 영역을 쉽게 발견
  • 자동 이미지 획득 절차
  • 소스가 다른 데이터의 상관관계화

Athena 소프트웨어
이미징 데이터 관리

  • 이미지, 데이터, 메타데이터 및 실험 워크플로우의 추적 가능성 보장
  • 이미징 워크플로우 간소화
  • 협업 개선
  • 데이터 액세스 보안 및 관리

em-h2-헤더 등급으로 H2를 p로 변경하기 위한 스타일 시트

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재료 과학을 위한 전자 현미경
서비스

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