Search Thermo Fisher Scientific
X-ray photoelectron spectroscopy
The Thermo Scientific Nexsa G2 X-Ray Photoelectron Spectrometer (XPS) System offers fully automated, high-throughput surface analysis, delivering the data to advance research and development or to solve production problems. The integration of XPS with ion scattering spectroscopy (ISS), UV photoelectron spectroscopy (UPS), reflected electron energy loss spectroscopy (REELS), and Raman spectroscopy, allows you to conduct true correlative analysis. The system now includes options for sample heating and sample biasing capabilities to increase the range of experiments now possible. The Nexsa G2 Surface Analysis System unlocks the potential for advances in materials science, microelectronics, nanotechnology development, and many other applications.
High-performance X-ray source
A new, low-power X-ray monochromator allows selection of the analysis area from 10 µm to 400 µm in 5 µm steps, ensuring data is collected from the feature of interest while maximizing the signal.
Optimized electron optics
The high-efficiency electron lens, hemispherical analyzer, and detector allow for superb detectability and rapid data acquisition.
Sample viewing
Bring sample features into focus with the Nexsa XPS System's patented optical viewing system and XPS SnapMap, which helps you pinpoint areas of interest quickly using a fully focused XPS image.
Insulator analysis
The patented dual-beam flood source couples low-energy ion beams with very low-energy electrons (less than 1 eV) to prevent sample charging during analysis, which eliminates the need for charge referencing, making the analysis of the data from insulating samples easy and reliable.
Depth profiling
Go beyond the surface with a standard ion source or MAGCIS, the optional dual-mode monatomic and gas cluster ion source; automated source optimization and gas handling ensure excellent performance and experimental reproducibility.
Optional sample holders
Specialist sample holders for angle-resolved XPS, sample bias measurements, or for inert transfer from a glove box are available.
Digital Control
Instrument control, data processing, and reporting are all controlled from the Windows Software-based Avantage data system.
NX sample heater module
Fully software-controlled sample heating option, enabling temperature-dependent studies.
Animation: Thermo Scientific Nexsa surface analysis system
재품 표 사항에 대한 스타일시트
| Analyzer type |
|
| X-ray source type |
|
| X-ray spot size |
|
| Depth profiling |
|
| Maximum Sample area |
|
| Maximum sample thickness |
|
| Vacuum system |
|
| Optional accessories |
|
Style Sheet for Komodo Tabs
표면 분석 학습 센터
재질의 표면 또는 층간의 화학 특성은 물질이 어떻게 작용하는지를 결정합니다. 당사의 표면 분석 참고 자료 및 리소스를 사용하면 원하는 속성을 엔지니어링하거나 원하는대로 작동하지 않을 때 재료를 더 잘 이해할 수 있습니다.
원자 원소의 X선 광전자 분광법입니다
XPS용 Thermo Scientific Avantage Data System의 핵심 기능은 XPS 분석 및 특징 요소와 관련된 광범위한 정보 지식입니다.
Watch on-demand: Thermo Scientific Nexsa G2 Surface Analysis System Demo
You will learn how the Nexsa G2 XPS System can be used to investigate a wide range of materials using XPS, supported by the additional analysis techniques on the system: UV photoelectron spectroscopy (UPS), ion scattering spectroscopy (ISS), reflected electron energy loss spectroscopy (REELS), Raman spectroscopy, and more.
Watch on-demand: Thermo Scientific Nexsa G2 Surface Analysis System Demo
You will learn how the Nexsa G2 XPS System can be used to investigate a wide range of materials using XPS, supported by the additional analysis techniques on the system: UV photoelectron spectroscopy (UPS), ion scattering spectroscopy (ISS), reflected electron energy loss spectroscopy (REELS), Raman spectroscopy, and more.
Style Sheet to change H3 to p with em-h3-header class
Style Sheet to change Sample H3 to p with em-h3-header class
배터리 연구
배터리 개발은 microCT, SEM 및 TEM, Raman 분광법, XPS 및 디지털 3D 시각화 및 분석을 통한 멀티 스케일(multi-scale) 분석에 의해 이루어질 수 있습니다. 이 접근 방식이 더 나은 배터리를 만드는 데 필요한 구조 및 화학 정보를 제공하는 방법에 대해 알아보십시오.
금속 연구
금속을 효과적으로 생산하려면 함유물 및 침전물에 대한 정밀한 제어가 필요합니다. 당사의 자동화 도구를 사용하여 나노 입자 계수, EDS 화학 물질 분석 및 TEM 시료 준비 등 금속 분석에 필수적인 다양한 작업을 수행할 수 있습니다.
고분자 연구
고분자 미세 구조는 물질의 벌크 특성 및 성능과 관련이 있습니다. 전자현미경법은 R&D 및 품질 관리 응용 분야의 고분자 형태학 및 구성에 대한 종합적인 마이크로 단위 분석을 가능케 합니다.
지질학 연구
지구과학은 암석 시료 내 특징을 일정하고 정확하게 멀티 스케일(multi-scale)로 관찰합니다. SEM-EDS는 자동화 소프트웨어와 결합하여 암석학 및 광물학 연구를 위한 텍스처 및 광물 구성의 직접적인 대규모 분석을 가능하게 합니다.
오일 및 가스
오일 및 가스에 대한 수요가 지속됨에 따라, 탄화수소를 효율적이고 효과적으로 추출해야 할 필요성이 계속해서 증가하고 있습니다. Thermo Fisher Scientific은 다양한 석유 과학 응용 분야를 위한 다양한 현미경법 및 분광학 솔루션을 제공합니다.
나노입자
재료는 큰 규모 단위보다 나노 단위에서 근본적으로 다른 특성을 드러냅니다. 이를 연구하기 위해, S/TEM 기기를 에너지 분산형 X선 분광법과 결합하여 나노미터 미만의 분해능 데이터를 얻을 수 있습니다.
법의학
법의학 조사의 일환으로 전자현미경법을 사용하여 범죄 현장의 미세 증거를 분석하고 비교할 수 있습니다. 사용가능한 시료로는 유리 및 페인트 절편, 공구 마크, 약물, 폭발물 및 GSR(총격 잔류물) 등이 있습니다.
촉매 연구
촉매는 대부분의 현대적인 산업 공정에 있어 대단히 중요합니다. 그 효율은 촉매 입자의 미세 조성 및 형태학에 따라 달라집니다. EDS와 EM은 이러한 속성 연구에 매우 적합합니다.
섬유 및 필터
합성 섬유의 직경, 형태 및 밀도는 필터의 수명과 기능을 결정하는 데 있어 핵심 파라미터가 됩니다. 주사전자현미경(SEM)은 이러한 기능을 신속하고 용이하게 조사하는 데 있어 이상적인 기술입니다.
2D 재료
새로운 재료의 연구는 저차원 물질의 구조에 점점 더 많은 관심을 기울이고 있습니다. 프로브(probe) 교정 및 단색화법을 이용하는 주사 투과 전자 현미경법으로 고분해능 2차원 물질 이미지 생성을 수행할 수 있습니다.
자동차 재료 테스트
현대적인 차량의 모든 구성 요소는 안전성, 효율성 및 성능을 고려하여 설계됩니다. 전자현미경법 및 분광법에 의한 자동차 재료의 상세한 특성 분석을 통해 중요한 공정을 결정하고 제품을 개선하며 새로운 재료를 신속하게 식별할 수 있습니다.
광범위한 표면 특성 분석의 요구사항을 충족시키기 위해, Thermo Scientific ESCALAB CXi XPS 마이크로프로브 또는 Thermo Scientific Nexsa 표면 분석 시스템을 이용하여 다중 기법 워크플로우를 구축하였습니다. 이들 기기는 적시에 효율적인 방식으로 포괄적인 분석을 제공하기 위한 다중 기법 워크스테이션으로 설계되었습니다.
X선 광전자 분광법(XPS)은 원소 조성은 물론 물질의 상부 10nm의 화학적 및 전자적 상태를 제공하는 표면 분석이 가능합니다. XPS 분석은 깊이 프로파일링을 통해 층들의 조성에 관한 유용한 정보를 제공합니다.
광범위한 표면 특성 분석의 요구사항을 충족시키기 위해, Thermo Scientific ESCALAB CXi XPS 마이크로프로브 또는 Thermo Scientific Nexsa 표면 분석 시스템을 이용하여 다중 기법 워크플로우를 구축하였습니다. 이들 기기는 적시에 효율적인 방식으로 포괄적인 분석을 제공하기 위한 다중 기법 워크스테이션으로 설계되었습니다.
X선 광전자 분광법(XPS)은 원소 조성은 물론 물질의 상부 10nm의 화학적 및 전자적 상태를 제공하는 표면 분석이 가능합니다. XPS 분석은 깊이 프로파일링을 통해 층들의 조성에 관한 유용한 정보를 제공합니다.
Style Sheet to change H2 style to p with em-h2-header class
Style Sheet to change H2 style to p with em-h2-header class
Style Sheet for Support and Service footer
Style Sheet for Fonts
Style Sheet for Cards