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법의학 현미경

전자 현미경 검사(EM)는 법의학 검사에서 매우 다양한 활용이 가능합니다. 유리 및 페인트 조각, 공구 마크, 약물, 폭발물 및 총격 잔류물(GSR)을 비롯한 수많은 범죄 현장 미세 흔적을 주사전자현미경(SEM)을 사용하여 시각적으로 그리고 화학적으로 분석할 수 있습니다. 이러한 분석에 기반한 결론은 범죄 특성 뿐만 아니라 관련자를 파악할 수 있기 때문에 대단히 중요합니다.

총격 잔류물 분석

범죄 수사관들은 종종 총기가 사용된 범죄 현장을 분석하는 어려운 과제에 직면합니다. 총격 잔류물(GSR) 분석은 특정 개인 또는 총기의 해당 사건과의 관련성 여부를 결정하기 위한 표준 기술입니다. 확립된 GSR 분석은 일반적으로 0.5~10 마이크로미터의 크기인, 의심되는 GSR 입자의 SEM 측정을 통해 시작됩니다. 일치하는 입자가 발견되면, SEM 내에서 에너지 분산 X선 분광학(EDS)을 사용하여 해당 입자의 화학적 구성을 파악합니다. 가장 일반적인 검색 기준은 납(Pb), 바륨(Ba) 및 안티몬(Sb)의 존재 여부입니다. 시료가 총격의 결과물로 확인되면 그 특성이 연구에서 증거 자료로 활용할 수 있습니다.

전통적으로 이러한 유형의 분석은 수동으로 수행되었으며, 법의학 과학자는 증거의 특성 분석과 비교에 상당한 시간을 할애해야 했을 것입니다. Thermo Scientific Phenom Perception GSR Desktop SEM은 총격 잔류물 분석을 위해 특별히 설계된 전용 도구입니다. 이 시스템은 고유의 자동화 기능을 통해 분석 프로세스의 속도를 높임으로써 더욱 빠르고 쉬우며 안정적으로 작업할 수 있습니다. 시간과 지면 공간을 절약하기를 원하는 모든 법의학 실험실에 이상적인 Phenom Desktop SEM은 탄도학, 페인트 분석 및 섬유 특성 분석을 포함한 기타 다양한 법의학 응용 분야에 적용할 수도 있습니다.


리소스

응용분야

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기초 재료 연구

새로운 물질은 물리적 및 화학적 특성을 최대한 제어하기 위해 점점 더 작은 규모로 연구되고 있습니다. 전자현미경은 연구자들에게 마이크로에서 나노 범위에 이르는 광범위한 물질 특성의 핵심이 되는 유용한 정보를 제공합니다.

 


기술

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EDS 원소 분석

EDS는 전자 현미경 관찰에 있어 중요한 조성 정보를 제공해 줍니다. 특히, 당사의 독자적인 Super-X 및 Dual-X 검출기 시스템은 향상된 처리량 및/또는 감도를 위한 옵션을 제공함으로써 연구 우선 순위에 준하여 데이터 획득을 최적화합니다.

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EDS를 통한 원자 규모 원소 맵핑

원자 분해능 EDS는 개별 원자의 원소적 정체성을 구별함으로써 재료 분석을 위한 탁월한 화학적 정보를 제공합니다. 고분해능 TEM과 함께 사용하면 시료에서 정확한 원자 조성을 관찰할 수 있습니다.

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입자 분석

입자 분석은 나노 재료 연구 및 품질 관리에 있어 중요한 역할을 합니다. 분말 및 입자의 신속한 특성 분석을 위해 나노미터 규모의 분해능과 전자 현미경법의 우수한 이미지 생성 기능을 특수 소프트웨어와 결합할 수 있습니다.

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EDS 원소 분석

EDS는 전자 현미경 관찰에 있어 중요한 조성 정보를 제공해 줍니다. 특히, 당사의 독자적인 Super-X 및 Dual-X 검출기 시스템은 향상된 처리량 및/또는 감도를 위한 옵션을 제공함으로써 연구 우선 순위에 준하여 데이터 획득을 최적화합니다.

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EDS를 통한 원자 규모 원소 맵핑

원자 분해능 EDS는 개별 원자의 원소적 정체성을 구별함으로써 재료 분석을 위한 탁월한 화학적 정보를 제공합니다. 고분해능 TEM과 함께 사용하면 시료에서 정확한 원자 조성을 관찰할 수 있습니다.

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입자 분석

입자 분석은 나노 재료 연구 및 품질 관리에 있어 중요한 역할을 합니다. 분말 및 입자의 신속한 특성 분석을 위해 나노미터 규모의 분해능과 전자 현미경법의 우수한 이미지 생성 기능을 특수 소프트웨어와 결합할 수 있습니다.

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제품

기기 카드 원본 스타일시트

Phenom Perception GSR 데스크탑 SEM

  • 전용 자동 GSR 데스크탑 SEM
  • 분해능 <10nm, 최대 200,000x 확대
  • 수명이 긴 CeB6 소스

Nexsa G2 XPS

  • 미세 초점 X-선 소스
  • 독자적인 다중기법 옵션
  • 단일 원자 & 클러스터 이온 깊이 프로파일링을 위한 듀얼 모드 이온 소스

K-Alpha XPS

  • 고분해능 XPS
  • 빠르고 효율적이며 자동화된 워크플로우
  • 깊이 프로파일링을 위한 이온 소스

ESCALAB Xi+ XPS

  • 높은 스펙트럼 분해능
  • 다중 기법 표면 분석
  • 광범위한 시료 준비 및 확장 옵션

em-h2-헤더 등급으로 H2를 p로 변경하기 위한 스타일 시트

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재료 과학을 위한 전자 현미경
서비스

최적의 시스템 성능을 보장하기 위해 세계 수준의 현장 서비스 전문가 네트워크, 기술 지원 및 인증된 예비 부품을 제공해드립니다.