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첨단 소재
수많은 기술 혁신이 직접 또는 간접적으로 새로운 물질과 관련되어 있습니다. 지속적인 혁신을 위해 연구자들은 매크로-, 마이크로-, 및 나노단위 물질에 이르는 재료의 물리적 및 화학적 특성(형태학적, 구조적, 자기, 열 및 기계적)을 더욱 심도 있게 파악하기를 원합니다.
여러 가지 이유로 물질의 속성을 이해하고 개선하여 그 유용성과 가치를 높입니다. 강도, 연성, 밀도, 내부식성 및 전기 전도도는 재료의 향상된 응용 또는 완전히 새로운 응용 분야에 있어 필수적인 몇 가지 속성일 뿐입니다.
고분자 재료 및 촉매
고분자 및 촉매 연구 분야에서 화학자와 화학 엔지니어는 재료 구조와 마이크로 단위 및 나노 미터 단위의 기능 사이의 관계를 더욱 명확히 파악하기를 원합니다. 이러한 발견은 타겟 기능, 더욱 긴 유효 수명, 교체 비용 절감, 강도 개선, 제조 적합성 향상을 통해 새로운 재료 시스템 구축으로 이어집니다.
나노 장치의 흥미로운 분야는 전자, 자기, 기계 및 광학 시스템을 위한 고유한 기능을 갖춘 소형화 기술을 개발하는 데 전념하고 있습니다. 전세계적으로 에너지, 통신 및 중요한 모니터링에 있어 과제를 해결하는 데 도움이 되는 센서, 액추에이터 및 미세유체역학 장치에 대한 높은 수요가 존재합니다.
재료 과학 연구
과학자들은 물질 구조에 대한 지식을 심화시켜 가면서, 물질이 빛, 온도, 압력 및 기타 자극에 반응하는 방식에 대해서도 파악하기를 원합니다. 또한 2차원 관찰 결과가 항상 3차원 세상에서 답을 제시해 주는 것은 아닙니다. 따라서 이미지 생성, 분석 및 물질 특성 분석은 다양한 환경 조건에서 3D 정보를 생성함으로써 실제 환경에 대한 가시성을 제공해야 합니다.
혁신적인 재료는 안전, 청정 에너지, 운송, 인체 건강 및 산업 생산성 분야에서 필수적인 역할을 하는 것이 분명합니다. 대체 에너지원을 탐색하거나 더욱 강하고, 가볍고, 정교한 나노 장치를 개발하는 데 있어, Thermo Fisher Scientific은 새로운 물질의 기본적인 연구 및 개발을 위한 다양한 분광학 및 전자 현미경 도구를 제공합니다.
EM을 사용하여 분석한 페인트 접착. 강철의 도장층에서 긁힘 테스트를 수행하여 전체 긁힘 깊이 및 접착 레이어에 대한 박리 효과를 확인할 수 있습니다.
NaYF4로 구성된 광 변환율 나노입자(UCNP), SEM으로 영상 촬영. UCNP는 다음과 같은 다양한 생체의학 분야에 사용됩니다: in cellulo, in vivo 및 ex vivo에서 이미징 대비 라벨, 식품 내 항생제 및 독소를 검출하기 위한 생물센서, 생체센서(예: 전혈, 혈청, 소변)의 바이오마커 및 암 세포와 같은 타겟을 대상으로 한 치료제를 측정하기 위한 생물학적 제제.
NiTiZr 형상기억 합금, 고해상도 명시야 STEM으로 영상 촬영. 이 재질은 유압, 공압 및 모터 기반 시스템과 같은 기존의 액추에이터(actuator)에 대한 경량이며 고체상의 대체제입니다.
EM을 사용하여 분석한 페인트 접착. 강철의 도장층에서 긁힘 테스트를 수행하여 전체 긁힘 깊이 및 접착 레이어에 대한 박리 효과를 확인할 수 있습니다.
NaYF4로 구성된 광 변환율 나노입자(UCNP), SEM으로 영상 촬영. UCNP는 다음과 같은 다양한 생체의학 분야에 사용됩니다: in cellulo, in vivo 및 ex vivo에서 이미징 대비 라벨, 식품 내 항생제 및 독소를 검출하기 위한 생물센서, 생체센서(예: 전혈, 혈청, 소변)의 바이오마커 및 암 세포와 같은 타겟을 대상으로 한 치료제를 측정하기 위한 생물학적 제제.
NiTiZr 형상기억 합금, 고해상도 명시야 STEM으로 영상 촬영. 이 재질은 유압, 공압 및 모터 기반 시스템과 같은 기존의 액추에이터(actuator)에 대한 경량이며 고체상의 대체제입니다.
배터리 연구
배터리 개발은 microCT, SEM 및 TEM, Raman 분광법, XPS 및 디지털 3D 시각화 및 분석을 통한 멀티 스케일(multi-scale) 분석에 의해 이루어질 수 있습니다. 이 접근 방식이 더 나은 배터리를 만드는 데 필요한 구조 및 화학 정보를 제공하는 방법에 대해 알아보십시오.
고분자 연구
고분자 미세 구조는 물질의 벌크 특성 및 성능과 관련이 있습니다. 전자현미경법은 R&D 및 품질 관리 응용 분야의 고분자 형태학 및 구성에 대한 종합적인 마이크로 단위 분석을 가능케 합니다.
금속 연구
금속을 효과적으로 생산하려면 함유물 및 침전물에 대한 정밀한 제어가 필요합니다. 당사의 자동화 도구를 사용하여 나노 입자 계수, EDS 화학 물질 분석 및 TEM 시료 준비 등 금속 분석에 필수적인 다양한 작업을 수행할 수 있습니다.
촉매 연구
촉매는 대부분의 현대적인 산업 공정에 있어 대단히 중요합니다. 그 효율은 촉매 입자의 미세 조성 및 형태학에 따라 달라집니다. EDS와 EM은 이러한 속성 연구에 매우 적합합니다.
2D 재료
새로운 재료의 연구는 저차원 물질의 구조에 점점 더 많은 관심을 기울이고 있습니다. 프로브(probe) 교정 및 단색화법을 이용하는 주사 투과 전자 현미경법으로 고분해능 2차원 물질 이미지 생성을 수행할 수 있습니다.
나노입자
재료는 큰 규모 단위보다 나노 단위에서 근본적으로 다른 특성을 드러냅니다. 이를 연구하기 위해, S/TEM 기기를 에너지 분산형 X선 분광법과 결합하여 나노미터 미만의 분해능 데이터를 얻을 수 있습니다.
자동차 재료 테스트
현대적인 차량의 모든 구성 요소는 안전성, 효율성 및 성능을 고려하여 설계됩니다. 전자현미경법 및 분광법에 의한 자동차 재료의 상세한 특성 분석을 통해 중요한 공정을 결정하고 제품을 개선하며 새로운 재료를 신속하게 식별할 수 있습니다.
Style Sheet for Komodo Tabs
(S)TEM 시료 준비
DualBeam 현미경은 (S)TEM 분석을 위한 고품질의 초박막 시료의 준비를 가능하게 해줍니다. 고급 자동화 기능에 힘입어 모든 경험 수준의 사용자가 전문가 수준의 결과물을 얻을 수 있습니다.
3D 재료 특성 분석
물질 개발은 종종 멀티스케일 3D 특성 분석을 필요로 합니다. DualBeam 기기를 사용하여 연속 절편화와 시료의 고품질 3D 재구성 처리가 가능한 연속 SEM 이미지 생성을 나노미터 규모로 가능하게 합니다.
나노단위 프로토타이핑
기술이 지속적으로 소형화되어 감에 따라, 나노단위 장치 및 구조에 대한 수요는 계속 증가하고 있습니다. DualBeam 기기에 의한 3D 나노 프로토타입 제작은 마이크로 및 나노 규모 기능 프로토타입을 신속하게 설계, 제작 및 검사할 수 있도록 도와줍니다.
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EDS 원소 분석
EDS는 전자 현미경 관찰에 있어 중요한 조성 정보를 제공해 줍니다. 특히, 당사의 독자적인 Super-X 및 Dual-X 검출기 시스템은 향상된 처리량 및/또는 감도를 위한 옵션을 제공함으로써 연구 우선 순위에 준하여 데이터 획득을 최적화합니다.
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3D EDS 단층 촬영
오늘날의 재료 연구는 3차원의 나노단위 분석에 점점 더 의존하고 있습니다. 3D EM과 에너지 분산 X선 분광법으로 전체 화학적 조성 데이터 및 구조적 정보 등 3D 특성 분석이 가능합니다.
EDS를 통한 원자 규모 원소 맵핑
원자 분해능 EDS는 개별 원자의 원소적 정체성을 구별함으로써 재료 분석을 위한 탁월한 화학적 정보를 제공합니다. 고분해능 TEM과 함께 사용하면 시료에서 정확한 원자 조성을 관찰할 수 있습니다.
ChemiSEM
실시간 정량과 함께 실시간 EDS(에너지 분산 X선 분광법)를 사용하는 ChemiSEM 기술은 SEM 이미징을 컬러 기술로 변환합니다. 이제 어느 사용자든 원소 데이터를 지속적으로 획득하여 그 어느 때보다 완전한 정보를 얻을 수 있습니다.
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HRSTEM 및 HRTEM을 사용한 이미지 생성
투과 전자 현미경법은 나노 입자 및 나노 물질의 구조적 특성을 분석하는 데 있어 매우 중요합니다. 고분해능 STEM과 TEM을 사용하면 화학적 조성에 대한 정보와 함께 원자 분해능 데이터를 사용할 수 있습니다.
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차동 위상 콘트라스트 이미지 생성
오늘날의 전자 연구는 전기 및 자기 성질에 대한 나노단위 분석에 기초하고 있습니다. 차동 위상 대비 STEM(DPC-STEM)은 시료 내 자기장의 강도 및 분포를 영상화하고 자기 영역 구조를 표시할 수 있습니다.
고온 시료 이미징
실제 조건에서의 물질 연구는 종종 고온 작업과 관련됩니다. 주사 전자 현미경 또는 DualBeam 도구를 사용하여 물질의 재결정화, 용융, 변형 또는 열 존재 시 반응과 같은 물질의 작용을 현장 연구할 수 있습니다.
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환경 SEM(ESEM)
환경 SEM을 통해 원래 상태로 재료의 이미지를 생성할 수 있습니다. 이 제품은 젖었거나 오염되었거나 반응성이거나 가스를 발생하거나 혹은 진공 조건에 사용할 수 없는 시료를 검사 및 분석해야 할 필요가 있는 학술 및 산업 분야 연구자들에게 적합합니다.
전자 에너지 손실 분광법
재료 과학 연구는 다양한 분석 응용 분야에서 고분해능 EELS를 활용합니다. 여기에는 높은 처리량, 높은 신호 대 잡음비 원소 맵핑, 산화 상태 프로빙(probing) 및 표면 포논(phonon)도 포함됩니다.
단면 절단
단면 절단은 표면 하부 정보를 파악하여 추가적으로 유용한 정보를 제공해 줍니다. DualBeam 기기는 고품질 단면 절단 작업에 있어 탁월한 집속 이온 빔 컬럼을 제공해 줍니다. 자동화를 통해 시료의 무인 고처리량 처리가 가능합니다.
현장(In Situ) 실험
재결정화, 미립자 성장, 가열, 냉각 및 습윤 과정에서의 위상 변이와 같은 동적 처리의 기본 원리를 이해하는 데 있어서 전자 현미경 검사를 통한 미세 구조 변화에 대한 직접적인 실시간 관찰은 필수적입니다.
입자 분석
입자 분석은 나노 재료 연구 및 품질 관리에 있어 중요한 역할을 합니다. 분말 및 입자의 신속한 특성 분석을 위해 나노미터 규모의 분해능과 전자 현미경법의 우수한 이미지 생성 기능을 특수 소프트웨어와 결합할 수 있습니다.
음극선 발광
음극선 발광(CL)이란 전자 빔에 의해 자극될 때 물질에서 발생하는 빛의 방출을 가리킵니다. 특수 CL 검출기로 캡처되는 이 신호는 시료의 구성, 결정 결함 또는 광 특성에 대한 정보를 담고 있습니다.
SIMS
집속 이온 빔 주사전자현미경법(FIB-SEM) 도구를 위한 TOF-SIMS(비행시간형 2차 이온 질량 분석법) 검출기는, 낮은 농도에서도 주기율표에 있는 모든 원소의 고분해능 특성 분석을 가능하게 합니다.
멀티스케일 분석
새로운 물질은 보다 큰 시료 맥락을 유지하면서 더 높은 분해능으로 분석해야 합니다. 멀티스케일 분석을 사용하면 X선 microCT, DualBeam, 레이저 PFIB, SEM, TEM 등의 다양한 영상 도구 및 영상 기법의 상관 관계를 분석할 수 있습니다.
APT 시료 준비
원자 프로브 단층촬영(APT)은 물질의 원자 분해능 3D 조성 분석 기능을 제공합니다. 집속 이온 빔(FIB) 현미경법은 APT 특성 분석을 위한 고품질, 방향 설정, 위치-특이적인 시료 준비를 위한 필수 기법입니다.
APW(Automated NanoParticle Workflow)는 나노입자 분석을 위한 투과전자현미경 워크플로우로, 나노 단위에서 대면적, 고분해능 이미징 및 데이터 획득을 즉석으로 처리할 수 있습니다.
(S)TEM 시료 준비
DualBeam 현미경은 (S)TEM 분석을 위한 고품질의 초박막 시료의 준비를 가능하게 해줍니다. 고급 자동화 기능에 힘입어 모든 경험 수준의 사용자가 전문가 수준의 결과물을 얻을 수 있습니다.
3D 재료 특성 분석
물질 개발은 종종 멀티스케일 3D 특성 분석을 필요로 합니다. DualBeam 기기를 사용하여 연속 절편화와 시료의 고품질 3D 재구성 처리가 가능한 연속 SEM 이미지 생성을 나노미터 규모로 가능하게 합니다.
나노단위 프로토타이핑
기술이 지속적으로 소형화되어 감에 따라, 나노단위 장치 및 구조에 대한 수요는 계속 증가하고 있습니다. DualBeam 기기에 의한 3D 나노 프로토타입 제작은 마이크로 및 나노 규모 기능 프로토타입을 신속하게 설계, 제작 및 검사할 수 있도록 도와줍니다.
EDS 원소 분석
EDS는 전자 현미경 관찰에 있어 중요한 조성 정보를 제공해 줍니다. 특히, 당사의 독자적인 Super-X 및 Dual-X 검출기 시스템은 향상된 처리량 및/또는 감도를 위한 옵션을 제공함으로써 연구 우선 순위에 준하여 데이터 획득을 최적화합니다.
3D EDS 단층 촬영
오늘날의 재료 연구는 3차원의 나노단위 분석에 점점 더 의존하고 있습니다. 3D EM과 에너지 분산 X선 분광법으로 전체 화학적 조성 데이터 및 구조적 정보 등 3D 특성 분석이 가능합니다.
EDS를 통한 원자 규모 원소 맵핑
원자 분해능 EDS는 개별 원자의 원소적 정체성을 구별함으로써 재료 분석을 위한 탁월한 화학적 정보를 제공합니다. 고분해능 TEM과 함께 사용하면 시료에서 정확한 원자 조성을 관찰할 수 있습니다.
ChemiSEM
실시간 정량과 함께 실시간 EDS(에너지 분산 X선 분광법)를 사용하는 ChemiSEM 기술은 SEM 이미징을 컬러 기술로 변환합니다. 이제 어느 사용자든 원소 데이터를 지속적으로 획득하여 그 어느 때보다 완전한 정보를 얻을 수 있습니다.
HRSTEM 및 HRTEM을 사용한 이미지 생성
투과 전자 현미경법은 나노 입자 및 나노 물질의 구조적 특성을 분석하는 데 있어 매우 중요합니다. 고분해능 STEM과 TEM을 사용하면 화학적 조성에 대한 정보와 함께 원자 분해능 데이터를 사용할 수 있습니다.
차동 위상 콘트라스트 이미지 생성
오늘날의 전자 연구는 전기 및 자기 성질에 대한 나노단위 분석에 기초하고 있습니다. 차동 위상 대비 STEM(DPC-STEM)은 시료 내 자기장의 강도 및 분포를 영상화하고 자기 영역 구조를 표시할 수 있습니다.
고온 시료 이미징
실제 조건에서의 물질 연구는 종종 고온 작업과 관련됩니다. 주사 전자 현미경 또는 DualBeam 도구를 사용하여 물질의 재결정화, 용융, 변형 또는 열 존재 시 반응과 같은 물질의 작용을 현장 연구할 수 있습니다.
환경 SEM(ESEM)
환경 SEM을 통해 원래 상태로 재료의 이미지를 생성할 수 있습니다. 이 제품은 젖었거나 오염되었거나 반응성이거나 가스를 발생하거나 혹은 진공 조건에 사용할 수 없는 시료를 검사 및 분석해야 할 필요가 있는 학술 및 산업 분야 연구자들에게 적합합니다.
전자 에너지 손실 분광법
재료 과학 연구는 다양한 분석 응용 분야에서 고분해능 EELS를 활용합니다. 여기에는 높은 처리량, 높은 신호 대 잡음비 원소 맵핑, 산화 상태 프로빙(probing) 및 표면 포논(phonon)도 포함됩니다.
단면 절단
단면 절단은 표면 하부 정보를 파악하여 추가적으로 유용한 정보를 제공해 줍니다. DualBeam 기기는 고품질 단면 절단 작업에 있어 탁월한 집속 이온 빔 컬럼을 제공해 줍니다. 자동화를 통해 시료의 무인 고처리량 처리가 가능합니다.
현장(In Situ) 실험
재결정화, 미립자 성장, 가열, 냉각 및 습윤 과정에서의 위상 변이와 같은 동적 처리의 기본 원리를 이해하는 데 있어서 전자 현미경 검사를 통한 미세 구조 변화에 대한 직접적인 실시간 관찰은 필수적입니다.
입자 분석
입자 분석은 나노 재료 연구 및 품질 관리에 있어 중요한 역할을 합니다. 분말 및 입자의 신속한 특성 분석을 위해 나노미터 규모의 분해능과 전자 현미경법의 우수한 이미지 생성 기능을 특수 소프트웨어와 결합할 수 있습니다.
음극선 발광
음극선 발광(CL)이란 전자 빔에 의해 자극될 때 물질에서 발생하는 빛의 방출을 가리킵니다. 특수 CL 검출기로 캡처되는 이 신호는 시료의 구성, 결정 결함 또는 광 특성에 대한 정보를 담고 있습니다.
SIMS
집속 이온 빔 주사전자현미경법(FIB-SEM) 도구를 위한 TOF-SIMS(비행시간형 2차 이온 질량 분석법) 검출기는, 낮은 농도에서도 주기율표에 있는 모든 원소의 고분해능 특성 분석을 가능하게 합니다.
멀티스케일 분석
새로운 물질은 보다 큰 시료 맥락을 유지하면서 더 높은 분해능으로 분석해야 합니다. 멀티스케일 분석을 사용하면 X선 microCT, DualBeam, 레이저 PFIB, SEM, TEM 등의 다양한 영상 도구 및 영상 기법의 상관 관계를 분석할 수 있습니다.
APT 시료 준비
원자 프로브 단층촬영(APT)은 물질의 원자 분해능 3D 조성 분석 기능을 제공합니다. 집속 이온 빔(FIB) 현미경법은 APT 특성 분석을 위한 고품질, 방향 설정, 위치-특이적인 시료 준비를 위한 필수 기법입니다.
APW(Automated NanoParticle Workflow)는 나노입자 분석을 위한 투과전자현미경 워크플로우로, 나노 단위에서 대면적, 고분해능 이미징 및 데이터 획득을 즉석으로 처리할 수 있습니다.
기기 카드 원본 스타일시트
em-h2-헤더 등급으로 H2를 p로 변경하기 위한 스타일 시트
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재료 과학을 위한 전자 현미경
서비스
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