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현장(In Situ) 분석

재료 연구가 계속해서 진보하면서, 초기 및 최종 상태 뿐만 아니라 다양한 응용 분야에서의 물질 관찰이 점점 더 중요해지고 있습니다. 실제 조건에서의 반응을 이해하기 위해, 기능적 나노 입자의 습윤, 건조 또는 적층 제조를 위해 가열 시의 금속 주입 원료 이미징 등이 있습니다. 이러한 반응의 특성을 분석하는 것은 청정 에너지, 운송, 촉매, 나노 전자 장치 및 인체 건강과 같은 중요한 연구 분야에 영향을 미치기 때문에 매우 중요합니다.

현장(In Situ) 전자 현미경

전자 현미경 검사(EM)는 전통적으로 정적 이미지 생성 기법이지만, 시료 처리 및 신속한 이미지 생성의 발전으로 이 기법을 실시간 현장(In Situ) 관찰에 사용할 수 있게 되었습니다. EM의 고분해능을 통해 나노단위 가열냉각 반응, 금속 내 상(phase) 변화, 구조 변화, 촉매의 소결 현상, 분리/확산 현상 등을 연구할 수 있습니다.

물질에 대한 현장(In situ) EM 분석은 동적 고분해능 이미지 생성과 함께 신속하고 정량적인 데이터 수집이 가능한 기기를 필요로 합니다. 이것은 조상 대상인 프로세스가 온도 또는 습도와 같이 빠르게 변경될 수 있는 변수에 의존하는 경우에 특히 중요합니다. 이러한 동적 실험에서는, 시료 이미징의 유연성, 다양한 빔 및 진공 조건을 사용할 수 있는 기능, 구성 데이터의 빠른 수집이 필수적입니다.

주사 전자 현미경 내에서 직접 가열되고 냉각된 땜납 조각. (동영상)

Thermo Fisher Scientific의 현장(In Situ) 전자 현미경

Thermo Scientific ESEM(환경 주사전자현미경 검사)DualBeam(집속 이온 빔 SEM) 시스템은 현장 in situ 실험에 필요한 다양한 조건에서 작동할 수 있습니다. 특히 MEMS 기반 Thermo Scientific μHeater Holder는 현장 in situ 시료 준비와 결합하여 높은 온도에서 높은 품질의 특성 분석을 제공합니다.


리소스

환경 SEM의 저진공 모드에서 직접 관찰되는 염화나트륨 결정의 용해 및 재결정화.
환경 SEM의 저진공 모드에서 직접 관찰되는 조직 섬유 습윤 및 건조.
가열에 따른 금속 나노입자 접합.
환경 SEM의 저진공 모드에서 직접 관찰되는 염화나트륨 결정의 용해 및 재결정화.
환경 SEM의 저진공 모드에서 직접 관찰되는 조직 섬유 습윤 및 건조.
가열에 따른 금속 나노입자 접합.

응용분야

전자현미경을 사용한 품질 관리 및 불량 분석

품질 관리 및 불량 분석

품질 관리 및 보증은 현대 산업에 있어 필수적입니다. 당사에서는 결함에 대한 멀티 스케일 및 다중 모드 분석을 위한 다양한 EM 및 분광법 도구를 제공함으로써 공정 관리 및 개선을 위해 신뢰할 수 있으며 정보에 기반한 결정을 가능하게 합니다.

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기초 재료 연구

새로운 물질은 물리적 및 화학적 특성을 최대한 제어하기 위해 점점 더 작은 규모로 연구되고 있습니다. 전자현미경은 연구자들에게 마이크로에서 나노 범위에 이르는 광범위한 물질 특성의 핵심이 되는 유용한 정보를 제공합니다.

 


시료


배터리 연구

배터리 개발은 microCT, SEM 및 TEM, Raman 분광법, XPS 및 디지털 3D 시각화 및 분석을 통한 멀티 스케일(multi-scale) 분석에 의해 이루어질 수 있습니다. 이 접근 방식이 더 나은 배터리를 만드는 데 필요한 구조 및 화학 정보를 제공하는 방법에 대해 알아보십시오.

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고분자 연구

고분자 미세 구조는 물질의 벌크 특성 및 성능과 관련이 있습니다. 전자현미경법은 R&D 및 품질 관리 응용 분야의 고분자 형태학 및 구성에 대한 종합적인 마이크로 단위 분석을 가능케 합니다.

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금속 연구

금속을 효과적으로 생산하려면 함유물 및 침전물에 대한 정밀한 제어가 필요합니다. 당사의 자동화 도구를 사용하여 나노 입자 계수, EDS 화학 물질 분석 및 TEM 시료 준비 등 금속 분석에 필수적인 다양한 작업을 수행할 수 있습니다.

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촉매 연구

촉매는 대부분의 현대적인 산업 공정에 있어 대단히 중요합니다. 그 효율은 촉매 입자의 미세 조성 및 형태학에 따라 달라집니다. EDS와 EM은 이러한 속성 연구에 매우 적합합니다.

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나노입자

재료는 큰 규모 단위보다 나노 단위에서 근본적으로 다른 특성을 드러냅니다. 이를 연구하기 위해, S/TEM 기기를 에너지 분산형 X선 분광법과 결합하여 나노미터 미만의 분해능 데이터를 얻을 수 있습니다.

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제품

기기 카드 원본 스타일시트

Helios 5 Laser PFIB 시스템

  • 빠르고, 밀리미터-스케일 단면 절단
  • 통계적으로 유의미한 깊은 표면 하부 및 3D 데이터 분석
  • Helios 5 PFIB 플랫폼의 모든 기능 공유

Helios Hydra DualBeam

  • 가장 광범위한 물질에 대한 최적화된 PFIB 처리를 위한 고속 전환가능한 4개의 이온 종(XE, AR, O, N)
  • Ga 없이 TEM 시료 준비
  • 초고분해능 SEM 이미징

Helios 5 DualBeam

  • 완전 자동 고품질 초박형 TEM 시료 준비
  • 높은 처리량의 고분해능 표면 및 3D 특성 분석
  • 고속 나노 프로토타입 제작 기능

Helios 5 PFIB DualBeam

  • 갈륨 없이 STEM 및 TEM 시료 준비
  • 다중 모드 표면 하부 및 3D 정보
  • 차세대 2.5 μA 제논 플라즈마 FIB 컬럼

Scios 2 DualBeam

  • 자성 및 비전도성 시료에 대한 완벽한 지원
  • 높은 처리량의 표면 하부 및 3D 특성 분석
  • 향상된 사용 편의성 및 자동화 기능

Spectra Ultra

  • 대부분의 빔에 민감한 물질에 대한 새로운 이미징 및 분광법 기능
  • Ultra-X를 통한 EDX 검출 기능의 도약
  • 시료 무결성을 유지하도록 설계된 컬럼

Quattro ESEM

  • 고유한 환경 기능(ESEM)을 갖춘 다기능성 고분해능 FEG SEM
  • 모든 조작 모드에서 동시 SE 및 BSE 이미징을 통한 모든 시료의 모든 정보 관찰

Apreo 2 SEM

  • 전방위적인 나노미터 미만 분해능을 위한 고성능 SEM
  • 민감하고 TV 속도 물질 대비를 위한 In-column T1 후방산란 검출기
  • 긴 작동 거리에서(10mm)에서 뛰어난 성능

PRISMA E SEM

  • 탁월한 이미지 품질의 초보 수준 SEM
  • 여러 시료를 신속하고 쉽게 로딩 및 탐색
  • 전용 진공 모드를 통해 광범위한 물질 사용 가능

Verios 5 XHR SEM

  • 1keV ~ 30keV의 전체 에너지 범위에 걸친 나노미터 미만 분해능을 위한 모노크로메이트 SEM
  • 최저 20eV까지 빔 랜딩 에너지에 쉽게 접근 가능
  • 표준으로 제공되는 피에조(piezo) 스테이지에 의한 뛰어난 안정성

AutoScript 4

  • 개선된 재현성 및 정확도
  • 무인 조건에서 고처리량 이미지 생성 및 패턴 작업
  • Python 3.5 기반 스크립팅 환경에 의한 지원

μHeater

  • 현장(}in situ) 고분해능 이미징을 위한 초고속 가열 솔루션
  • 완전 통합형
  • 최대 1200°C의 온도

Auto Slice and View 4.0 소프트웨어

  • DualBeam을 위한 자동 연속 절편
  • 다중 모드 데이터 수집(SEM, EDS, EBSD)
  • 즉각적인 편집 기능
  • 모서리 기반 절단 배치

em-h2-헤더 등급으로 H2를 p로 변경하기 위한 스타일 시트
Style Sheet for Komodo Tabs

문의하기

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Style Sheet for Fonts
Style Sheet for Cards

재료 과학을 위한 전자 현미경
서비스

최적의 시스템 성능을 보장하기 위해 세계 수준의 현장 서비스 전문가 네트워크, 기술 지원 및 인증된 예비 부품을 제공해드립니다.