bf5a - 응용분야/기술/제품/리소스/문의하기

현대의 최첨단 금속은 내구성, 신뢰성 및 비용을 향상시키기 위해 나노 단위에서 가공되는 경우가 점점 더 많아지고 있습니다. 기존 공정에서도 현미경 검사를 통해 결과적으로 생성된 물질의 원소 및 구조 구성을 확인할 수 있습니다.

특히, 금속을 효과적으로 생산하려면 개재물 및 침전물에 대한 정밀한 제어가 필요합니다. 이들은 일관성과 분포에 따라, 물질을 강화하거나 오염 물질로 작용하여 물질의 품질과 수명을 크게 저해할 수 있습니다. 이러한 현미경 속성에는 다음 사항이 포함될 수 있습니다.

  • 압연(rolling), 열처리(annealing) 또는 열간 프레싱(hot pressing) 중 형성되는 나노 침전물
  • 나노 단위 형태학적 변화(위치 변경, 균열 시작 부위)
  • 결정 입계
  • 강철 제조 시 주조 중단을 유발하는 산화물 개재물

전통적으로 연구자들은 광학 현미경법을 사용하여 개재물의 크기와 수를 평가했지만, 이 방법은 원소 정보는 제공하지 않습니다. 개재물의 원소 비율을 측정할 수 있는 발광 분광법조차도 개별 개재물의 모양과 조성을 정확하게 특성 분석하지는 않습니다. 전자 현미경 검사 기술은 금속 분석에서도 사용되어 왔습니다. 큰 산화물 개재물을 시각화하는데 주사전자현미경(SEM)을 사용하고, 반면 100nm보다 작은 특성을 연구하는데 일반적으로 투과전자현미경(TEM)이 필요합니다. 그러나 TEM 분석은 이전에는 수동 입자 계수 및 분석이 필요했으며, 수집할 수 있는 데이터의 양을 하루에 수십 개의 입자로 제한했습니다.

Stainless steel medical device sample prepared by PFIB milling.
PFIB 밀링으로 생성된 스테인리스 스틸 의료 기기 샘플로, 총 치수는 55 x 70μm입니다. 빨간색 상자는 일반적인 갈륨 FIB와 동일한 시간 내에 준비할 수 있는 영역의 양을 나타냅니다.

Thermo Fisher Scientific은 보다 많은 정보를 얻을 수 있을 뿐만 아니라 훨씬 더 빠르게 금속 분석을 수행할 수 있는 광범위한 전자 현미경 솔루션을 제공합니다. 당사의 고유한 자동화 기능 덕분에 수동 분석시 하루에 발견할 수 있는 십여 개의 침전물에 비해, 수천 가지까지는 아니나 수백 가지의 원소 및 구조적 구성에 대한 완벽한 개요를 몇 시간 내에 수행할 수 있습니다. 벌크에 대한 통계 정보 뿐만 아니라 개별 침전물에 대한 세부 정보를 확인할 수 있으므로 금속에 대한 멀티스케일 개요를 제공합니다.

당사의 견고한 자동화 장비는 다음을 포함한 다양하고 중요한 작업을 수행할 수 있습니다.

Zirconium alloy sample, analyzed with electron backscatter diffraction to produce a 3D microstructural reconstruction.
400 슬라이스에서 재구성된 지르코늄 합금 시료의 전자 후방 산란 회절(EBSD)에 의해 제공되는 3D 미세구조 정보. 사례 제공: University of Manchester.

리소스

APW에 의한 니켈 초합금 시료 특성 분석 티타늄 질화 나노 입자.

APW로 정량화된 고강도 저합금강 침전물의 탄소 복제본.

AlMgSi 합금 내 침전물의 3D EDS TEM 단층 촬영.

적층 제조된 스테인리스 스틸의 복잡한 기능을 보여주는 고분해능 APW.

Maps and Avizo2D recordings (left and right) running side by side during an acquisition.

웨비나

웨비나: 자동 TEM에 의한 나노입자 특성 분석.

웨비나: 항공우주 및 국방 산업의 상관관계 현미경 검사

TEM 문헌

Nanoscale origins of the oriented precipitation of Ti3Al in Ti\\Al systems

Hao Wu, Guohua Fan, Lin Geng, Xiping Cui, Meng Huang

DOI Link


Effect of heat treatments on microstructural evolution of additively manufactured and wrought 17-4PH stainless steel

Yu Sun, Rainer J. Hebert, Mark Aindow

DOI Link


Coherency strains of H-phase precipitates and their influence on functional properties of nickel-titanium-hafnium shape memory alloys

Behnam Amin-Ahmadi,⁎, Joseph G. Pauza, Ali Shamimi, Tom W. Duerig, Ronald D. Noebe, Aaron P. Stebner

DOI Link


Effect of laser scan length on the microstructure of additively manufactured 17-4PH stainless steel thin-walled parts

Yu Sun, Rainer J. Hebert, Mark Aindow

DOI Link


Non-metallic inclusions in 17-4PH stainless steel parts produced by selective laser melting

Yu Sun, Rainer J. Hebert, Mark Aindow

DOI Link


라이브러리용 SDB 웨비나 자료(참조용)

Joachim Mayer, RWTH Aachen

“Formation of White Etching Areas in SAE 52100 Bearing Steel under Rolling Contact Fatigue − Influence of Diffusible Hydrogen”
M. Oezel, A. Schwedt, T. Janitzky, R. Kelley, C.Bouchet-Marquis, L. Pullan, C. Broeckmann, J. Mayer
Wear, Volumes 414-415, November 2018, Pages 352-365.

DOI Link


Philip Withers, University of Manchester

“Industrial Gear Oils: Tribological Performance and Subsurface Changes”
Aduragbemi Adebogun, Robert Hudson, Angela Breakspear, Chris Warrens, Ali Gholinia, Allan Matthews, Philip Withers Tribology Letters (2018) 66:65.

DOI Link


Jun Tan, Shenyang National Laboratory for Materials Science

“Insight into atmospheric pitting corrosion of carbon steel via a dual-beam FIB/SEM system associated with high-resolution TEM”
Corrosion Science 152 (2019) 226–233.

DOI Link


Yu-Lung Chiu, University of Birmingham

“Micro-tensile strength of a welded turbine disc superalloy”
K.M. Oluwasegun, C.Cooper, Y.L.Chiu, I.P.Jones, H.Y.Li, G.Baxter
Materials Science & Engineering A 596 (2014) 229–235.

DOI Link


Chris Pistorius, Carnegie Mellon University

“Application of Plasma FIB to Analyze a Single Oxide Inclusion in Steel”
D. Kumar, N.T. Nuhfer, M.E. Ferreira and P.C. Pistorius
Metallurgical and Materials Transactions B, Volume 50B, June 2019, Pages 1124-1127.

DOI Link


APW에 의한 니켈 초합금 시료 특성 분석 티타늄 질화 나노 입자.

APW로 정량화된 고강도 저합금강 침전물의 탄소 복제본.

AlMgSi 합금 내 침전물의 3D EDS TEM 단층 촬영.

적층 제조된 스테인리스 스틸의 복잡한 기능을 보여주는 고분해능 APW.

Maps and Avizo2D recordings (left and right) running side by side during an acquisition.

웨비나

웨비나: 자동 TEM에 의한 나노입자 특성 분석.

웨비나: 항공우주 및 국방 산업의 상관관계 현미경 검사

TEM 문헌

Nanoscale origins of the oriented precipitation of Ti3Al in Ti\\Al systems

Hao Wu, Guohua Fan, Lin Geng, Xiping Cui, Meng Huang

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Effect of heat treatments on microstructural evolution of additively manufactured and wrought 17-4PH stainless steel

Yu Sun, Rainer J. Hebert, Mark Aindow

DOI Link


Coherency strains of H-phase precipitates and their influence on functional properties of nickel-titanium-hafnium shape memory alloys

Behnam Amin-Ahmadi,⁎, Joseph G. Pauza, Ali Shamimi, Tom W. Duerig, Ronald D. Noebe, Aaron P. Stebner

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Effect of laser scan length on the microstructure of additively manufactured 17-4PH stainless steel thin-walled parts

Yu Sun, Rainer J. Hebert, Mark Aindow

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Non-metallic inclusions in 17-4PH stainless steel parts produced by selective laser melting

Yu Sun, Rainer J. Hebert, Mark Aindow

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라이브러리용 SDB 웨비나 자료(참조용)

Joachim Mayer, RWTH Aachen

“Formation of White Etching Areas in SAE 52100 Bearing Steel under Rolling Contact Fatigue − Influence of Diffusible Hydrogen”
M. Oezel, A. Schwedt, T. Janitzky, R. Kelley, C.Bouchet-Marquis, L. Pullan, C. Broeckmann, J. Mayer
Wear, Volumes 414-415, November 2018, Pages 352-365.

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Philip Withers, University of Manchester

“Industrial Gear Oils: Tribological Performance and Subsurface Changes”
Aduragbemi Adebogun, Robert Hudson, Angela Breakspear, Chris Warrens, Ali Gholinia, Allan Matthews, Philip Withers Tribology Letters (2018) 66:65.

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Jun Tan, Shenyang National Laboratory for Materials Science

“Insight into atmospheric pitting corrosion of carbon steel via a dual-beam FIB/SEM system associated with high-resolution TEM”
Corrosion Science 152 (2019) 226–233.

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Yu-Lung Chiu, University of Birmingham

“Micro-tensile strength of a welded turbine disc superalloy”
K.M. Oluwasegun, C.Cooper, Y.L.Chiu, I.P.Jones, H.Y.Li, G.Baxter
Materials Science & Engineering A 596 (2014) 229–235.

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Chris Pistorius, Carnegie Mellon University

“Application of Plasma FIB to Analyze a Single Oxide Inclusion in Steel”
D. Kumar, N.T. Nuhfer, M.E. Ferreira and P.C. Pistorius
Metallurgical and Materials Transactions B, Volume 50B, June 2019, Pages 1124-1127.

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응용분야

전자현미경을 사용한 공정 제어

전자현미경을 사용한 공정 제어

오늘날 산업계는 우수한 품질의 높은 처리량과 강력한 공정 제어를 통해 유지되는 균형을 필요로 하고 있습니다. 전용 자동화 소프트웨어를 갖춘 SEM 및 TEM 도구는 공정 모니터링 및 개선을 위한 신속하고 멀티-스케일의 정보를 제공합니다.

 

전자현미경을 사용한 품질 관리 및 불량 분석

품질 관리 및 불량 분석

품질 관리 및 보증은 현대 산업에 있어 필수적입니다. 당사에서는 결함에 대한 멀티 스케일 및 다중 모드 분석을 위한 다양한 EM 및 분광법 도구를 제공함으로써 공정 관리 및 개선을 위해 신뢰할 수 있으며 정보에 기반한 결정을 가능하게 합니다.

Fundamental Materials Research_R&D_Thumb_274x180_144DPI

기초 재료 연구

새로운 물질은 물리적 및 화학적 특성을 최대한 제어하기 위해 점점 더 작은 규모로 연구되고 있습니다. 전자현미경은 연구자들에게 마이크로에서 나노 범위에 이르는 광범위한 물질 특성의 핵심이 되는 유용한 정보를 제공합니다.

 

부품 청결도 검사 중에 SEM에 의해 발견된 알루미늄 미네랄 입자

기술적 청결도

그 어느 때보다 오늘날의 제조업계는 신뢰할 수 있는 고품질 부품을 필요로 합니다. 주사전자현미경을 이용해, 내부에서 광범위한 분석 데이터를 제공하고 생산 주기를 단축시킬 수 있는 부품 청결도 분석을 수행할 수 있습니다.


Style Sheet for Komodo Tabs

기술

(S)TEM 시료 준비

DualBeam 현미경은 (S)TEM 분석을 위한 고품질의 초박막 시료의 준비를 가능하게 해줍니다. 고급 자동화 기능에 힘입어 모든 경험 수준의 사용자가 전문가 수준의 결과물을 얻을 수 있습니다.

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3D 재료 특성 분석

물질 개발은 종종 멀티스케일 3D 특성 분석을 필요로 합니다. DualBeam 기기를 사용하여 연속 절편화와 시료의 고품질 3D 재구성 처리가 가능한 연속 SEM 이미지 생성을 나노미터 규모로 가능하게 합니다.

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에너지 분산 분광법

에너지분산 분광법(EDS)은 전자 현미경 이미지를 통해 상세한 원소 정보를 수집하고 EM 관찰을 위한 중요한 조성 정보를 제공합니다. EDS를 사용하면 신속하고 종합적인 표면 스캔부터 개별 원자에 이르는 화학적 조성을 측정할 수 있습니다.

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EDS 원소 분석

EDS는 전자 현미경 관찰에 있어 중요한 조성 정보를 제공해 줍니다. 특히, 당사의 독자적인 Super-X 및 Dual-X 검출기 시스템은 향상된 처리량 및/또는 감도를 위한 옵션을 제공함으로써 연구 우선 순위에 준하여 데이터 획득을 최적화합니다.

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3D EDS 단층 촬영

오늘날의 재료 연구는 3차원의 나노단위 분석에 점점 더 의존하고 있습니다. 3D EM과 에너지 분산 X선 분광법으로 전체 화학적 조성 데이터 및 구조적 정보 등 3D 특성 분석이 가능합니다.

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ChemiSEM

실시간 정량과 함께 실시간 EDS(에너지 분산 X선 분광법)를 사용하는 ChemiSEM 기술은 SEM 이미징을 컬러 기술로 변환합니다. 이제 어느 사용자든 원소 데이터를 지속적으로 획득하여 그 어느 때보다 완전한 정보를 얻을 수 있습니다.

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단면 절단

단면 절단은 표면 하부 정보를 파악하여 추가적으로 유용한 정보를 제공해 줍니다. DualBeam 기기는 고품질 단면 절단 작업에 있어 탁월한 집속 이온 빔 컬럼을 제공해 줍니다. 자동화를 통해 시료의 무인 고처리량 처리가 가능합니다.

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현장(In Situ) 실험

재결정화, 미립자 성장, 가열, 냉각 및 습윤 과정에서의 위상 변이와 같은 동적 처리의 기본 원리를 이해하는 데 있어서 전자 현미경 검사를 통한 미세 구조 변화에 대한 직접적인 실시간 관찰은 필수적입니다.

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입자 분석

입자 분석은 나노 재료 연구 및 품질 관리에 있어 중요한 역할을 합니다. 분말 및 입자의 신속한 특성 분석을 위해 나노미터 규모의 분해능과 전자 현미경법의 우수한 이미지 생성 기능을 특수 소프트웨어와 결합할 수 있습니다.

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X선 광전자 분광법

X선 광전자 분광법(XPS)은 원소 조성은 물론 물질의 상부 10nm의 화학적 및 전자적 상태를 제공하는 표면 분석이 가능합니다. XPS 분석은 깊이 프로파일링을 통해 층들의 조성에 관한 유용한 정보를 제공합니다.

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자동화 입자 워크플로우

APW(Automated NanoParticle Workflow)는 나노입자 분석을 위한 투과전자현미경 워크플로우로, 나노 단위에서 대면적, 고분해능 이미징 및 데이터 획득을 즉석으로 처리할 수 있습니다.

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(S)TEM 시료 준비

DualBeam 현미경은 (S)TEM 분석을 위한 고품질의 초박막 시료의 준비를 가능하게 해줍니다. 고급 자동화 기능에 힘입어 모든 경험 수준의 사용자가 전문가 수준의 결과물을 얻을 수 있습니다.

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3D 재료 특성 분석

물질 개발은 종종 멀티스케일 3D 특성 분석을 필요로 합니다. DualBeam 기기를 사용하여 연속 절편화와 시료의 고품질 3D 재구성 처리가 가능한 연속 SEM 이미지 생성을 나노미터 규모로 가능하게 합니다.

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에너지 분산 분광법

에너지분산 분광법(EDS)은 전자 현미경 이미지를 통해 상세한 원소 정보를 수집하고 EM 관찰을 위한 중요한 조성 정보를 제공합니다. EDS를 사용하면 신속하고 종합적인 표면 스캔부터 개별 원자에 이르는 화학적 조성을 측정할 수 있습니다.

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EDS 원소 분석

EDS는 전자 현미경 관찰에 있어 중요한 조성 정보를 제공해 줍니다. 특히, 당사의 독자적인 Super-X 및 Dual-X 검출기 시스템은 향상된 처리량 및/또는 감도를 위한 옵션을 제공함으로써 연구 우선 순위에 준하여 데이터 획득을 최적화합니다.

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3D EDS 단층 촬영

오늘날의 재료 연구는 3차원의 나노단위 분석에 점점 더 의존하고 있습니다. 3D EM과 에너지 분산 X선 분광법으로 전체 화학적 조성 데이터 및 구조적 정보 등 3D 특성 분석이 가능합니다.

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ChemiSEM

실시간 정량과 함께 실시간 EDS(에너지 분산 X선 분광법)를 사용하는 ChemiSEM 기술은 SEM 이미징을 컬러 기술로 변환합니다. 이제 어느 사용자든 원소 데이터를 지속적으로 획득하여 그 어느 때보다 완전한 정보를 얻을 수 있습니다.

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단면 절단

단면 절단은 표면 하부 정보를 파악하여 추가적으로 유용한 정보를 제공해 줍니다. DualBeam 기기는 고품질 단면 절단 작업에 있어 탁월한 집속 이온 빔 컬럼을 제공해 줍니다. 자동화를 통해 시료의 무인 고처리량 처리가 가능합니다.

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현장(In Situ) 실험

재결정화, 미립자 성장, 가열, 냉각 및 습윤 과정에서의 위상 변이와 같은 동적 처리의 기본 원리를 이해하는 데 있어서 전자 현미경 검사를 통한 미세 구조 변화에 대한 직접적인 실시간 관찰은 필수적입니다.

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입자 분석

입자 분석은 나노 재료 연구 및 품질 관리에 있어 중요한 역할을 합니다. 분말 및 입자의 신속한 특성 분석을 위해 나노미터 규모의 분해능과 전자 현미경법의 우수한 이미지 생성 기능을 특수 소프트웨어와 결합할 수 있습니다.

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X선 광전자 분광법

X선 광전자 분광법(XPS)은 원소 조성은 물론 물질의 상부 10nm의 화학적 및 전자적 상태를 제공하는 표면 분석이 가능합니다. XPS 분석은 깊이 프로파일링을 통해 층들의 조성에 관한 유용한 정보를 제공합니다.

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자동화 입자 워크플로우

APW(Automated NanoParticle Workflow)는 나노입자 분석을 위한 투과전자현미경 워크플로우로, 나노 단위에서 대면적, 고분해능 이미징 및 데이터 획득을 즉석으로 처리할 수 있습니다.

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제품

기기 카드 원본 스타일시트

Talos F200S TEM

  • 정확한 화학적 조성 데이터
  • 동적 현미경법을 위한 고성능 이미징과 정확한 조성 분석
  • 신속하고 용이한 다중 모드 데이터 획득 및 분석을 위한 Velox 소프트웨어 기능

Talos F200X TEM

  • STEM 세포 이미징과 화학적 분석에서 높은 분해능/처리량
  • 동적 실험을 위해, 현장(in situ) 시료 홀더 추가
  • 신속하고 용이한 다중 모드 데이터 획득 및 분석을 위한 Velox 소프트웨어 기능

Talos F200C TEM

  • 유연한 EDS 분석에 의한 화학적 정보 제공
  • 고대비, 고품질 TEM 및 STEM 이미징
  • Ceta 16Mpixel CMOS 카메라에 의한 넓은 관측시야와 높은 판독 속도 구현

Talos F200i TEM

  • 고품질 S/TEM 이미지 및 정확한 EDS
  • 이중 EDS 기술과 함께 사용 가능
  • 최상의 전방위적인 현장(in situ) 기능
  • 고속으로 대형 관측시야 이미징

Helios 5 DualBeam

  • 완전 자동 고품질 초박형 TEM 시료 준비
  • 높은 처리량의 고분해능 표면 및 3D 특성 분석
  • 고속 나노 프로토타입 제작 기능

Helios 5 PFIB DualBeam

  • 갈륨 없이 STEM 및 TEM 시료 준비
  • 다중 모드 표면 하부 및 3D 정보
  • 차세대 2.5 μA 제논 플라즈마 FIB 컬럼

Scios 2 DualBeam

  • 자성 및 비전도성 시료에 대한 완벽한 지원
  • 높은 처리량의 표면 하부 및 3D 특성 분석
  • 향상된 사용 편의성 및 자동화 기능

Apreo 2 SEM

  • 전방위적인 나노미터 미만 분해능을 위한 고성능 SEM
  • 민감하고 TV 속도 물질 대비를 위한 In-column T1 후방산란 검출기
  • 긴 작동 거리에서(10mm)에서 뛰어난 성능

Phenom Pharos G2 Desktop FEG-SEM

  • 1 - 20 kV 가속 전압 범위의 FEG 소스
  • <2.0 nm (SE) 및 3.0 nm (BSE) 분해능 @ 20 kV
  • 완전 통합형 EDS 및 SE 검출기 옵션

Phenom ParticleX TC 데스크탑 SEM

  • 청결도 기술을 위한 자동화 소프트웨어를 갖춘 다기능 데스크탑 SEM
  • 분해능 <10nm, 최대 200,000x 확대
  • SE 검출기 옵션

Nexsa G2 XPS

  • 미세 초점 X-선 소스
  • 독자적인 다중기법 옵션
  • 단일 원자 & 클러스터 이온 깊이 프로파일링을 위한 듀얼 모드 이온 소스

K-Alpha XPS

  • 고분해능 XPS
  • 빠르고 효율적이며 자동화된 워크플로우
  • 깊이 프로파일링을 위한 이온 소스

ESCALAB Xi+ XPS

  • 높은 스펙트럼 분해능
  • 다중 기법 표면 분석
  • 광범위한 시료 준비 및 확장 옵션

Avizo 소프트웨어
재료 과학

  • 다중 데이터/다중 뷰, 다중 채널, 타임 시리즈, 대량 데이터 지원
  • 고급 다중 모드 2D/3D 자동 등록
  • 아티팩트(artifact) 감소 알고리즘

Athena 소프트웨어
이미징 데이터 관리

  • 이미지, 데이터, 메타데이터 및 실험 워크플로우의 추적 가능성 보장
  • 이미징 워크플로우 간소화
  • 협업 개선
  • 데이터 액세스 보안 및 관리

AutoTEM 5

  • 완전 자동 현장(in situ) S/TEM 시료 준비
  • 상-하, 평면, 역 기하학 지원
  • 고도로 구성 가능한 워크플로우
  • 사용이 쉽고 직관적인 사용자 인터페이스

Maps 소프트웨어

  • 넓은 영역에서 고분해능 이미지 획득
  • 관심 영역을 쉽게 발견
  • 자동 이미지 획득 절차
  • 소스가 다른 데이터의 상관관계화

3D 재구성

  • 직관적인 사용자 인터페이스, 최대 채택 능력
  • 직관적이고 완전 자동화된 사용자 인터페이스
  • '명암에 의한 형상' 기술에 기초하고 있으며, 스테이지 기울기 불필요

금속 시료 홀더

  • 수지 장착 시료를 지원하도록 설계
  • 금속 가공 및 인서트를 사용한 작업 시 선호되는 솔루션
  • 최대 32mm 직경 및 30mm 높이까지의 시료 크기

μHeater

  • 현장(}in situ) 고분해능 이미징을 위한 초고속 가열 솔루션
  • 완전 통합형
  • 최대 1200°C의 온도

인장 시료 홀더

  • 배치(batch) 품질 측정
  • 제조 일관성 측정
  • 설계 프로세스 지원

Velox

  • 처리 창 왼쪽에 있는 실험 패널
  • 실시간 정량 맵핑
  • 재현가능한 실험 제어 & 설정을 위한 상호작용식 검출기 레이아웃 인터페이스

em-h2-헤더 등급으로 H2를 p로 변경하기 위한 스타일 시트

문의하기

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Style Sheet for Fonts
Style Sheet for Cards

재료 과학을 위한 전자 현미경
서비스

최적의 시스템 성능을 보장하기 위해 세계 수준의 현장 서비스 전문가 네트워크, 기술 지원 및 인증된 예비 부품을 제공해드립니다.