STEM 현미경 | Talos F200X G2 TEM | Thermo Fisher Scientific

4d5e - 키/리소스/앱/기술/문의하기

Talos F200X G2 투과 전자 현미경

Thermo Scientific Talos F200X STEM은 뛰어난 고분해능 STEM과 TEM 이미징, 그리고 업계 최고의 에너지 X선 분광학(EDS) 신호 검출을 결합한 주사 투과 전자 현미경입니다. 고유한 청결도를 가진 4개의 컬럼내(in-column) SDD Super-X 검출기를 통해 조성 맵핑을 포함한 2D/3D 화학적 특성분석을 수행합니다. Talos F200X 주사 투과 전자 현미경을 사용하면 동적 현미경 검사를 위한 빠른 탐색이 가능한 고해상도 TEM 및 STEM(HRTEM 및 HRSTEM) 이미징과 함께 모든 차원에서 가장 빠르고 정확한 EDS 분석을 수행할 수 있습니다. 또한 Talos F200X 주사 투과 전자 현미경은 환경에 민감하지 않으며, 기기 인클로저는 TEM 실내의 공기 압력 파형, 공기 흐름 및 미세 온도 변화에 대한 영향을 조절해 줍니다.

STEM 이미징 및 화학 분석

Talos F200X (S)TEM은 여러 차원에서 나노소재에 대한 빠르고 정밀한 정량 특성 분석을 제공합니다. Talos F200X (S)TEM은 처리량, 정밀도 및 사용 편의성을 높이기 위해 고안된 혁신적인 기능을 갖추고 있어 학술, 정부기관, 반도체, 그리고 산업 환경에서 첨단 연구와 분석에 이상적입니다.

연구원들에게 관측 내용을 보존하면서도 통계적으로 견고한 데이터를 제공할 수 있도록 해 주기 때문에, 고분해능 대면적 상관관계(correlative) 이미징의 필요성이 최근 증가하고 있습니다. Thermo Scientific Maps 소프트웨어(Thermo Scientific Velox 소프트웨어에 의해 지원되는)는 시료 전체에 걸쳐 이미지 어레이를 자동으로 획득한 후 이들을 스티치(stitch)하여 하나의 큰 최종 이미지를 생성합니다. 이미지 획득은 무인 상태로 수행할 수도 있습니다. APW(자동화 입자 워크플로우) 팩은 이 섹션에서 설명한 모든 장점을 갖추고 있으며 Thermo Scientific Avizo2D 소프트웨어를 사용하는 전용 처리 PC에서 고유한 프로세싱을 추가합니다. 크기, 면적, 경계, 형태, 인자, 접촉 등의 나노입자 매개 변수를 자동화된 방식으로 가져올 수 있습니다. 완전 자동화된 무인 소프트웨어 팩을 사용하면 Talos F200X (S)TEM 을 연중무휴로 사용할 수 있으며, 작업자 편향이 없어 향상된 통계를 얻을 수 있고, 반복성을 크게 개선할 수 있습니다.

Align Genie Automation Software는 초보 작업자의 학습 시간을 단축하고, 다중 사용자 환경에서 긴장을 줄이며, 숙련된 작업자에게는 데이터 제공에 소요되는 시간을 개선합니다.

Talos F200X G2 투과 전자 현미경의 특징

다양한 고분해능 FEG(전계 방출 건)과 함께 사용 가능

고휘도 X-FEG 또는 초고휘도 X-CFEG(콜드 전계 방출 건)을 선택하십시오. X-CFEG는 최고의 (S)TEM 이미징과 최고의 에너지 분해능을 결합합니다.

직관적인 소프트웨어

Thermo Scientific Velox 소프트웨어는 신속하고 용이한 다중모드 데이터 획득과 분석을 제공합니다.

화학적 조성을 알아내는데 걸리는 시간이 더욱 빠름

신속하고 정밀한 정량적 EDS 분석은 2D 및 3D에서 나노스케일 세부정보를 높은 선명도로 보여줍니다.

개선된 이미지 데이터

동시 다중 신호 검출 기능이 있는 고처리량 STEM 이미징을 통해 고품질 이미지를 위한 개선된 콘트라스트(contrast)를 제공합니다.

더 많은 것을 위한 공간

동적(Dynamic) 실험에서 어플리케이션별 현장(in situ) 시료 홀더를 추가할 수 있습니다.

고품질 (S)TEM 이미지 및 정확한 EDS

혁신적이고 직관적인 Velox 소프트웨어 사용자 인터페이스를 통해 고품질 TEM 또는 STEM 이미지를 확보할 수 있습니다. Velox 소프트웨어의 고유한 EDS 흡수 보정 기능을 통해 고도로 정확한 정량 측정을 수행할 수 있습니다.

고도로 반복가능한 데이터 수집

초점, 유센트릭(eucentric) 높이, 빔 이동, 콘덴서 조리개, 빔 경사 피벗 지점(pivot point) 및 회전 중심과 같은 모든 일상적인 TEM 튜닝이 자동화되어 항상 최적의 이미징 조건에서 시작할 수 있습니다. 실험은 재현성을 가지고 반복될 수 있으므로, 기기 조작이 아닌 연구에 집중할 수 있습니다.

생산성 증대

SmartCam 카메라와 스위프트 모드(swift mode) 및 고전압(HT) 전환을 위한 정전력 대물 렌즈로 매우 안정적인 컬럼 및 원격 작동을 구현합니다. 다중 사용자 환경을 위한 빠르고 쉬운 전환.

사양

재품 표 사항에 대한 스타일시트

HRTEM 라인 분해능	≤0.10 nm
STEM 분해능	≤0.16nm(X-FEG) ≤0.14 nm 및 100 pA (X-CFEG)
Super-X EDS 시스템	4 SDD 대칭 설계, 윈도우 없음, 셔터 보호됨
EELS(전자 에너지 손실 분광법) 에너지 분해능	≤0.8 eV (X-FEG) ≤0.3 eV (X-CFEG)
200 kV 에서의 건(gun) 휘도	1.8×10⁹ A /cm² srad (X-FEG) 2.4×10⁹ A /cm² srad (X-CFEG)