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전자 에너지 손실 분광법

지난 30년간 전자 에너지 손실 분광법(EELS)은 강력한 특성 분석 기술로 자리 잡았습니다. 투과 전자 현미경(TEM)과 함께 사용하면 원자 수준의 화학물 및 구조적 특성을 분석할 수 있습니다. 여기에는 원소 조성, 화학적 결합, 산화 상태, 원자가 및 전도 대역 전자 특성, 표면 특성에 대한 정보가 포함됩니다. 또한 전자 단층촬영과 같은 다른 기술과 함께 사용하여 요소 및 산화 상태에 대한 고급 3D 매핑도 제공할 수 있습니다.

재료 특성 분석이 점점 더 까다로워짐에 따라 점점 더 소형화되고, 점점 더 복잡해지고 있는 구조에 대한 고도로 국소적인 특성 분석이 점점 더 필요하게 되었습니다. 다행히도 EELS 및 S/TEM 기기의 개선은 S/TEM 렌즈의 구면 수차 교정과 더불어 단색화 장치 사용으로 에너지 분해능을 개선하고, 옹스트롬 미만의 공간 분해능과 높은 프로브 전류를 제공함으로써 이러한 요구에 부응하고 있습니다.

EELS TEM

Thermo Fisher Scientific은 Thermo Scientific Spectra의 X-FEG/Mono 건, X-FEG/Ultimo 건, X-CFEG 건과 Thermo Scientific Talos S/TEM 플랫폼의 X-FEG를 통해 모든 EELS 응용 분야를 지원합니다. 이 시스템을 사용하면 초고분해능 EELS 분석을 수행하여 원자 단위의 중요한 구조, 원소, 화학 정보를 얻을 수 있습니다.


리소스

OptiMono+는 60kV에서 Monochromator off 상태(1eV 에너지 분해능)에서 Monochromator 최대 여기 상태(<30meV)로 X-FEG/Mono를 여기합니다.

금 나노와이어의 여기 에너지(0.18~1.2eV 사이)의 함수로서 금 나노와이어를 따라 형성되는 플라즈몬 여기(plasmon excitation)의 국소적 위치, <0.2eV 에너지 분해능의 전자 탐침으로 연구.

OptiMono+는 60kV에서 Monochromator off 상태(1eV 에너지 분해능)에서 Monochromator 최대 여기 상태(<30meV)로 X-FEG/Mono를 여기합니다.

금 나노와이어의 여기 에너지(0.18~1.2eV 사이)의 함수로서 금 나노와이어를 따라 형성되는 플라즈몬 여기(plasmon excitation)의 국소적 위치, <0.2eV 에너지 분해능의 전자 탐침으로 연구.

응용분야

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기초 재료 연구

새로운 물질은 물리적 및 화학적 특성을 최대한 제어하기 위해 점점 더 작은 규모로 연구되고 있습니다. 전자현미경은 연구자들에게 마이크로에서 나노 범위에 이르는 광범위한 물질 특성의 핵심이 되는 유용한 정보를 제공합니다.

 

전자현미경을 사용한 품질 관리 및 불량 분석

품질 관리 및 불량 분석

품질 관리 및 보증은 현대 산업에 있어 필수적입니다. 당사에서는 결함에 대한 멀티 스케일 및 다중 모드 분석을 위한 다양한 EM 및 분광법 도구를 제공함으로써 공정 관리 및 개선을 위해 신뢰할 수 있으며 정보에 기반한 결정을 가능하게 합니다.


시료


배터리 연구

배터리 개발은 microCT, SEM 및 TEM, Raman 분광법, XPS 및 디지털 3D 시각화 및 분석을 통한 멀티 스케일(multi-scale) 분석에 의해 이루어질 수 있습니다. 이 접근 방식이 더 나은 배터리를 만드는 데 필요한 구조 및 화학 정보를 제공하는 방법에 대해 알아보십시오.

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고분자 연구

고분자 미세 구조는 물질의 벌크 특성 및 성능과 관련이 있습니다. 전자현미경법은 R&D 및 품질 관리 응용 분야의 고분자 형태학 및 구성에 대한 종합적인 마이크로 단위 분석을 가능케 합니다.

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금속 연구

금속을 효과적으로 생산하려면 함유물 및 침전물에 대한 정밀한 제어가 필요합니다. 당사의 자동화 도구를 사용하여 나노 입자 계수, EDS 화학 물질 분석 및 TEM 시료 준비 등 금속 분석에 필수적인 다양한 작업을 수행할 수 있습니다.

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섬유 및 필터

합성 섬유의 직경, 형태 및 밀도는 필터의 수명과 기능을 결정하는 데 있어 핵심 파라미터가 됩니다. 주사전자현미경(SEM)은 이러한 기능을 신속하고 용이하게 조사하는 데 있어 이상적인 기술입니다.

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법의학

법의학 조사의 일환으로 전자현미경법을 사용하여 범죄 현장의 미세 증거를 분석하고 비교할 수 있습니다. 사용가능한 시료로는 유리 및 페인트 절편, 공구 마크, 약물, 폭발물 및 GSR(총격 잔류물) 등이 있습니다.

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지질학 연구

지구과학은 암석 시료 내 특징을 일정하고 정확하게 멀티 스케일(multi-scale)로 관찰합니다. SEM-EDS는 자동화 소프트웨어와 결합하여 암석학 및 광물학 연구를 위한 텍스처 및 광물 구성의 직접적인 대규모 분석을 가능하게 합니다.

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촉매 연구

촉매는 대부분의 현대적인 산업 공정에 있어 대단히 중요합니다. 그 효율은 촉매 입자의 미세 조성 및 형태학에 따라 달라집니다. EDS와 EM은 이러한 속성 연구에 매우 적합합니다.

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2D 재료

새로운 재료의 연구는 저차원 물질의 구조에 점점 더 많은 관심을 기울이고 있습니다. 프로브(probe) 교정 및 단색화법을 이용하는 주사 투과 전자 현미경법으로 고분해능 2차원 물질 이미지 생성을 수행할 수 있습니다.

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자동차 재료 테스트

현대적인 차량의 모든 구성 요소는 안전성, 효율성 및 성능을 고려하여 설계됩니다. 전자현미경법 및 분광법에 의한 자동차 재료의 상세한 특성 분석을 통해 중요한 공정을 결정하고 제품을 개선하며 새로운 재료를 신속하게 식별할 수 있습니다.

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Style Sheet for Komodo Tabs

제품

기기 카드 원본 스타일시트

Spectra Ultra

  • 대부분의 빔에 민감한 물질에 대한 새로운 이미징 및 분광법 기능
  • Ultra-X를 통한 EDX 검출 기능의 도약
  • 시료 무결성을 유지하도록 설계된 컬럼

Spectra 200

  • 30 ~ 200kV 가속 전압에서 고분해능 및 콘트라스트 이미지 생성
  • 5.4mm의 wide-gap pole piece 설계에 의한 대칭적 S-TWIN/X-TWIN 대물 렌즈
  • 60kV ~ 200kV에서 Angstrom 미만의 STEM 이미징 분해능

Spectra 300

  • 원자 수준의 최고 분해능으로 구조적, 화학적 정보 제공
  • 30 ~ 300kV의 유연하고 높은 전압 범위
  • 3 렌즈 콘덴서 시스템

Talos L120C TEM

  • 안정성 향상
  • 4K × 4K Ceta CMOS 카메라
  • 25 ~ 650kX의 TEM 확대 범위
  • 유연한 EDS 분석에 의한 화학적 정보 제공

Talos F200X TEM

  • STEM 세포 이미징과 화학적 분석에서 높은 분해능/처리량
  • 동적 실험을 위해, 현장(in situ) 시료 홀더 추가
  • 신속하고 용이한 다중 모드 데이터 획득 및 분석을 위한 Velox 소프트웨어 기능

Talos F200i TEM

  • 고품질 S/TEM 이미지 및 정확한 EDS
  • 이중 EDS 기술과 함께 사용 가능
  • 최상의 전방위적인 현장(in situ) 기능
  • 고속으로 대형 관측시야 이미징

Talos F200S TEM

  • 정확한 화학적 조성 데이터
  • 동적 현미경법을 위한 고성능 이미징과 정확한 조성 분석
  • 신속하고 용이한 다중 모드 데이터 획득 및 분석을 위한 Velox 소프트웨어 기능

Talos F200C TEM

  • 유연한 EDS 분석에 의한 화학적 정보 제공
  • 고대비, 고품질 TEM 및 STEM 이미징
  • Ceta 16Mpixel CMOS 카메라에 의한 넓은 관측시야와 높은 판독 속도 구현

원소 맵핑

  • 시료 또는 선택한 라인 내의 원소 분포에 대한 신속하고 신뢰할 수 있는 정보
  • 결과의 용이한 내보내기 및 보고

em-h2-헤더 등급으로 H2를 p로 변경하기 위한 스타일 시트

문의하기

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재료 과학을 위한 전자 현미경
서비스

최적의 시스템 성능을 보장하기 위해 세계 수준의 현장 서비스 전문가 네트워크, 기술 지원 및 인증된 예비 부품을 제공해드립니다.