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Thermo Scientific Talos F200C (S)TEM은 20~200kV 열전자 (주사) 투과 전자 현미경으로 상온 및 극저온에서, 세포, 세포기관, 석면, 고분자 및 연성 물질의 2D 및 3D 이미징을 비롯한 다양한 시료와 응용 분야에서 성능과 생산성을 구현하도록 고유하게 설계되었습니다.
이 제품은 옵션, 전동식, 인입식 극저온 박스 및 저선량 기법을 통해 빔에 민감한 물질의 이미지 생성 품질을 향상시킵니다. 또한, 측면-입구 인입식 에너지 분산 분광법(EDS) 검출기를 구성에 추가하여 화학 분석을 수행할 수 있습니다. 높은 응용 유연성을 제공하는 큰 C-Twin pole piece gap은 재현성 있는 전자 컬럼과 결합하여 고대비 이미징 및 cryo-TEM에 특별히 중점을 둔 고분해능 3D 특성 분석, 현장(in situ) 동적 관찰 및 회절 애플리케이션에 새로운 기회를 제공합니다. Talos F200C (S)TEM은 고속 4k × 4k Thermo Scientific Ceta 16M 카메라를 갖추고 있습니다. 이 카메라는 64 비트 플랫폼에서 고감도와 함께 넓은 시야와 빠른 이미징을 제공합니다.
Thermo Scientific Maps Software는 전체 시료에 대한 직관적인 이미지 기반 탐색과 이미징 플랫폼 간 결과의 간편한 연관성 파악 기능을 지원합니다. 고분해능으로 큰 영역 이미징을 검색하기 위해 Maps Software에서 자동으로 이미지를 획득 및 스티치하여 전체 관심 영역을 고품질로 문서화할 수 있습니다. MAPS 소프트웨어를 도구들 간에, 그리고 도구 내에서 사용할 수 있습니다. SEM 및 광학 현미경과 같은 다른 현미경의 이미지 가져오기, 오버레이 및 정렬을 지원합니다. 따라서, 상관 관계가 있는 저배율 TEM 및/또는 SEM에서 고분해능 TEM(HRTEM)으로 디지털 줌이 가능하여 중요한 관련 정보를 얻을 수 있습니다.
우수한 이미지
최대 4채널 통합 STEM 검출기에 의한 동시 다중 신호 검출을 사용하여 고대비, 고품질 TEM 및 STEM 이미징.
자동 배열
초점, 유센트릭 높이, 중앙 빔 이동, 중앙 콘덴서 조리개, 회전 중심과 같은 모든 일상적인 TEM 튜닝이 자동화됩니다.
생산성 및 재현성 향상
매우 안정적인 컬럼, SmartCam으로 원격 작동, 신속한 모드 및 HT의 전환을 위한 정전력 대물 렌즈 다중 사용자 환경을 위한 빠르고 쉬운 전환.
화학적 조성 데이터
유연한 EDS 분석에 의한 화학 정보 제공.
더 많은 것을 위한 공간
큰 분석 pole piece gap, 180° 스테이지 경사 범위 및 넓은 Z-레인지를 통해 단층 촬영 홀더, 현장(in situ) 시료 홀더 등을 추가할 수 있습니다.
Ceta CMOS 카메라
4k × 4K Ceta CMOS 카메라의 넓은 시야로 전체 고압 범위에서 높은 감도와 빠른 속도로 라이브 디지털 줌을 수행할 수 있습니다.
재품 표 사항에 대한 스타일시트
TEM 정보 제한 |
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TEM 포인트 분해능(nm) |
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STEM 분해능(nm) |
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전자현미경을 사용한 공정 제어
오늘날 산업계는 우수한 품질의 높은 처리량과 강력한 공정 제어를 통해 유지되는 균형을 필요로 하고 있습니다. 전용 자동화 소프트웨어를 갖춘 SEM 및 TEM 도구는 공정 모니터링 및 개선을 위한 신속하고 멀티-스케일의 정보를 제공합니다.
품질 관리 및 불량 분석
품질 관리 및 보증은 현대 산업에 있어 필수적입니다. 당사에서는 결함에 대한 멀티 스케일 및 다중 모드 분석을 위한 다양한 EM 및 분광법 도구를 제공함으로써 공정 관리 및 개선을 위해 신뢰할 수 있으며 정보에 기반한 결정을 가능하게 합니다.
기초 재료 연구
새로운 물질은 물리적 및 화학적 특성을 최대한 제어하기 위해 점점 더 작은 규모로 연구되고 있습니다. 전자현미경은 연구자들에게 마이크로에서 나노 범위에 이르는 광범위한 물질 특성의 핵심이 되는 유용한 정보를 제공합니다.
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에너지 분산 분광법
에너지분산 분광법(EDS)은 전자 현미경 이미지를 통해 상세한 원소 정보를 수집하고 EM 관찰을 위한 중요한 조성 정보를 제공합니다. EDS를 사용하면 신속하고 종합적인 표면 스캔부터 개별 원자에 이르는 화학적 조성을 측정할 수 있습니다.
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3D EDS 단층 촬영
오늘날의 재료 연구는 3차원의 나노단위 분석에 점점 더 의존하고 있습니다. 3D EM과 에너지 분산 X선 분광법으로 전체 화학적 조성 데이터 및 구조적 정보 등 3D 특성 분석이 가능합니다.
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EDS 원소 분석
EDS는 전자 현미경 관찰에 있어 중요한 조성 정보를 제공해 줍니다. 특히, 당사의 독자적인 Super-X 및 Dual-X 검출기 시스템은 향상된 처리량 및/또는 감도를 위한 옵션을 제공함으로써 연구 우선 순위에 준하여 데이터 획득을 최적화합니다.
EDS를 통한 원자 규모 원소 맵핑
원자 분해능 EDS는 개별 원자의 원소적 정체성을 구별함으로써 재료 분석을 위한 탁월한 화학적 정보를 제공합니다. 고분해능 TEM과 함께 사용하면 시료에서 정확한 원자 조성을 관찰할 수 있습니다.
전자 에너지 손실 분광법
재료 과학 연구는 다양한 분석 응용 분야에서 고분해능 EELS를 활용합니다. 여기에는 높은 처리량, 높은 신호 대 잡음비 원소 맵핑, 산화 상태 프로빙(probing) 및 표면 포논(phonon)도 포함됩니다.
현장(In Situ) 실험
재결정화, 미립자 성장, 가열, 냉각 및 습윤 과정에서의 위상 변이와 같은 동적 처리의 기본 원리를 이해하는 데 있어서 전자 현미경 검사를 통한 미세 구조 변화에 대한 직접적인 실시간 관찰은 필수적입니다.
입자 분석
입자 분석은 나노 재료 연구 및 품질 관리에 있어 중요한 역할을 합니다. 분말 및 입자의 신속한 특성 분석을 위해 나노미터 규모의 분해능과 전자 현미경법의 우수한 이미지 생성 기능을 특수 소프트웨어와 결합할 수 있습니다.
멀티스케일 분석
새로운 물질은 보다 큰 시료 맥락을 유지하면서 더 높은 분해능으로 분석해야 합니다. 멀티스케일 분석을 사용하면 X선 microCT, DualBeam, 레이저 PFIB, SEM, TEM 등의 다양한 영상 도구 및 영상 기법의 상관 관계를 분석할 수 있습니다.
APW(Automated NanoParticle Workflow)는 나노입자 분석을 위한 투과전자현미경 워크플로우로, 나노 단위에서 대면적, 고분해능 이미징 및 데이터 획득을 즉석으로 처리할 수 있습니다.
에너지 분산 분광법
에너지분산 분광법(EDS)은 전자 현미경 이미지를 통해 상세한 원소 정보를 수집하고 EM 관찰을 위한 중요한 조성 정보를 제공합니다. EDS를 사용하면 신속하고 종합적인 표면 스캔부터 개별 원자에 이르는 화학적 조성을 측정할 수 있습니다.
3D EDS 단층 촬영
오늘날의 재료 연구는 3차원의 나노단위 분석에 점점 더 의존하고 있습니다. 3D EM과 에너지 분산 X선 분광법으로 전체 화학적 조성 데이터 및 구조적 정보 등 3D 특성 분석이 가능합니다.
EDS 원소 분석
EDS는 전자 현미경 관찰에 있어 중요한 조성 정보를 제공해 줍니다. 특히, 당사의 독자적인 Super-X 및 Dual-X 검출기 시스템은 향상된 처리량 및/또는 감도를 위한 옵션을 제공함으로써 연구 우선 순위에 준하여 데이터 획득을 최적화합니다.
EDS를 통한 원자 규모 원소 맵핑
원자 분해능 EDS는 개별 원자의 원소적 정체성을 구별함으로써 재료 분석을 위한 탁월한 화학적 정보를 제공합니다. 고분해능 TEM과 함께 사용하면 시료에서 정확한 원자 조성을 관찰할 수 있습니다.
전자 에너지 손실 분광법
재료 과학 연구는 다양한 분석 응용 분야에서 고분해능 EELS를 활용합니다. 여기에는 높은 처리량, 높은 신호 대 잡음비 원소 맵핑, 산화 상태 프로빙(probing) 및 표면 포논(phonon)도 포함됩니다.
현장(In Situ) 실험
재결정화, 미립자 성장, 가열, 냉각 및 습윤 과정에서의 위상 변이와 같은 동적 처리의 기본 원리를 이해하는 데 있어서 전자 현미경 검사를 통한 미세 구조 변화에 대한 직접적인 실시간 관찰은 필수적입니다.
입자 분석
입자 분석은 나노 재료 연구 및 품질 관리에 있어 중요한 역할을 합니다. 분말 및 입자의 신속한 특성 분석을 위해 나노미터 규모의 분해능과 전자 현미경법의 우수한 이미지 생성 기능을 특수 소프트웨어와 결합할 수 있습니다.
멀티스케일 분석
새로운 물질은 보다 큰 시료 맥락을 유지하면서 더 높은 분해능으로 분석해야 합니다. 멀티스케일 분석을 사용하면 X선 microCT, DualBeam, 레이저 PFIB, SEM, TEM 등의 다양한 영상 도구 및 영상 기법의 상관 관계를 분석할 수 있습니다.
APW(Automated NanoParticle Workflow)는 나노입자 분석을 위한 투과전자현미경 워크플로우로, 나노 단위에서 대면적, 고분해능 이미징 및 데이터 획득을 즉석으로 처리할 수 있습니다.
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재료 과학을 위한 전자 현미경
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