48ab - 응용분야/시료/제품/리소스/문의하기

주사/투과 전자 현미경(S/TEM) 분석을 위한 시료 준비는 물질 특성 분석 실험실에서 가장 중요하면서도 까다롭고 시간이 많이 소요되는 작업 중 하나로 여겨집니다. S/TEM에 필요한 초박층 시료를 준비하는 데 사용되는 기존 기법은 매우 느리며, 숙련된 기술자라고 해도 일반적으로 몇 시간 또는 심지어 며칠이 소요됩니다. 이것은 다양한 물질과 위치별 정보의 필요성 때문에 더욱 복잡해집니다.

Thermo Fisher Scientific은 25년에 걸쳐 DualBeam(FIB-SEM, 집속 이온 빔 주사전자현미경) 기술을 사용하여 축적한 전문지식에 기초하여 정확하고 신뢰할 수 있으며 접근 가능한 최첨단 시료 준비 도구를 고객에게 제공하고 있습니다. 이것은 낮은 전압에서도 탁월한 성능을 제공하는 매우 안정적인 컬럼과 고품질 소스로부터 비롯됩니다. 500V의 낮은 에너지를 사용하는 라멜라(lamella)의 최종 폴리싱은 손상을 크게 줄여주므로, 빔에 민감한 물질의 경우에도 최고의 시료 품질을 제공합니다. Thermo Fisher Scientific에서는 갈륨이 필요없는 시료 준비를 위해 제논, 아르곤, 산소 및 질소 등 네 가지 이온 빔 유형 사이를 신속히 전환할 수 있는 Thermo Scientific Helios Hydra DualBeam을 비롯한 광범위한 플라즈마 FIB 제품을 갖추고 있습니다.

또한, Thermo Scientific SmartAlign 기술은 전자 칼럼의 사용자 정렬 필요성을 없애주므로 유지보수를 최소화할 뿐만 아니라 생산성을 높일 수도 있습니다. 사용자 인터페이스에 내장된 자동 튜닝 도구를 통해 고품질 이미지를 얻을 수 있는 능력을 더욱 높여, 표준 수동 정렬보다 이미지를 최대 10배 더 빠르게 조정할 수 있습니다.

시료 준비를 개선하고 간소화하는 소프트웨어 솔루션 제품군이 고품질 하드웨어를 지원합니다. Thermo Scientific AutoTEM 5 소프트웨어를 사용하면 in situ 라멜라 준비와 들어올리기를 완전히 자동화할 수 있기 때문에 초보 사용자도 고품질 시료를 생산할 수 있습니다. 이를 통해 기기의 접근성이 크게 개선되어 시료 준비가 더 이상 전문적인 작업이 아닌 것이 되므로 처리량이 증가하게 됩니다. 또한 완전 자동화를 통한 야간 무인 작동으로 시스템을 최대한 효율적으로 활용할 수 있어 생산성이 크게 향상됩니다.

DualBeam 기기를 통한 S/TEM 시료 준비

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리소스


Introducing Helios 5 DualBeam

Helios 5 DualBeam 소개

Helios 5 및 AutoTEM 5 소프트웨어의 고급 자동화 기능, 향상된 견고성 및 안정성을 통해 무인 및 야간 작동이 가능하게 함으로써 시료 준비 처리량을 크게 늘릴 수 있는 방법에 대해 알아보십시오.

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Webinar TEM Specimen Preparation

Toward “Damage-Free” TEM specimen preparation by Focused Ion Beam without Gallium

Diminish the challenges associated with focused ion beam (FIB) sample preparation for high resolution transmission electron microscopy (HR-TEM). Dr. Chengge Jiao, Staff Scientist of Applications Development at Thermo Fisher Scientific, explains how to tailor processing conditions and select the right FIB ion species for certain groups of materials to achieve optimized results.

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Introducing Helios 5 DualBeam

Helios 5 DualBeam 소개

Helios 5 및 AutoTEM 5 소프트웨어의 고급 자동화 기능, 향상된 견고성 및 안정성을 통해 무인 및 야간 작동이 가능하게 함으로써 시료 준비 처리량을 크게 늘릴 수 있는 방법에 대해 알아보십시오.

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Toward “Damage-Free” TEM specimen preparation by Focused Ion Beam without Gallium

Diminish the challenges associated with focused ion beam (FIB) sample preparation for high resolution transmission electron microscopy (HR-TEM). Dr. Chengge Jiao, Staff Scientist of Applications Development at Thermo Fisher Scientific, explains how to tailor processing conditions and select the right FIB ion species for certain groups of materials to achieve optimized results.

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응용분야

전자현미경을 사용한 공정 제어

전자현미경을 사용한 공정 제어

오늘날 산업계는 우수한 품질의 높은 처리량과 강력한 공정 제어를 통해 유지되는 균형을 필요로 하고 있습니다. 전용 자동화 소프트웨어를 갖춘 SEM 및 TEM 도구는 공정 모니터링 및 개선을 위한 신속하고 멀티-스케일의 정보를 제공합니다.

 

전자현미경을 사용한 품질 관리 및 불량 분석

품질 관리 및 불량 분석

품질 관리 및 보증은 현대 산업에 있어 필수적입니다. 당사에서는 결함에 대한 멀티 스케일 및 다중 모드 분석을 위한 다양한 EM 및 분광법 도구를 제공함으로써 공정 관리 및 개선을 위해 신뢰할 수 있으며 정보에 기반한 결정을 가능하게 합니다.

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기초 재료 연구

새로운 물질은 물리적 및 화학적 특성을 최대한 제어하기 위해 점점 더 작은 규모로 연구되고 있습니다. 전자현미경은 연구자들에게 마이크로에서 나노 범위에 이르는 광범위한 물질 특성의 핵심이 되는 유용한 정보를 제공합니다.

 


시료


배터리 연구

배터리 개발은 microCT, SEM 및 TEM, Raman 분광법, XPS 및 디지털 3D 시각화 및 분석을 통한 멀티 스케일(multi-scale) 분석에 의해 이루어질 수 있습니다. 이 접근 방식이 더 나은 배터리를 만드는 데 필요한 구조 및 화학 정보를 제공하는 방법에 대해 알아보십시오.

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고분자 연구

고분자 미세 구조는 물질의 벌크 특성 및 성능과 관련이 있습니다. 전자현미경법은 R&D 및 품질 관리 응용 분야의 고분자 형태학 및 구성에 대한 종합적인 마이크로 단위 분석을 가능케 합니다.

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금속 연구

금속을 효과적으로 생산하려면 함유물 및 침전물에 대한 정밀한 제어가 필요합니다. 당사의 자동화 도구를 사용하여 나노 입자 계수, EDS 화학 물질 분석 및 TEM 시료 준비 등 금속 분석에 필수적인 다양한 작업을 수행할 수 있습니다.

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촉매 연구

촉매는 대부분의 현대적인 산업 공정에 있어 대단히 중요합니다. 그 효율은 촉매 입자의 미세 조성 및 형태학에 따라 달라집니다. EDS와 EM은 이러한 속성 연구에 매우 적합합니다.

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em-h2-헤더 등급으로 H2를 p로 변경하기 위한 스타일 시트
Style Sheet for Komodo Tabs

제품

기기 카드 원본 스타일시트

Helios Hydra DualBeam

  • 가장 광범위한 물질에 대한 최적화된 PFIB 처리를 위한 고속 전환가능한 4개의 이온 종(XE, AR, O, N)
  • Ga 없이 TEM 시료 준비
  • 초고분해능 SEM 이미징

Helios 5 DualBeam

  • 완전 자동 고품질 초박형 TEM 시료 준비
  • 높은 처리량의 고분해능 표면 및 3D 특성 분석
  • 고속 나노 프로토타입 제작 기능

Helios 5 PFIB DualBeam

  • 갈륨 없이 STEM 및 TEM 시료 준비
  • 다중 모드 표면 하부 및 3D 정보
  • 차세대 2.5 μA 제논 플라즈마 FIB 컬럼

Helios 5 Laser PFIB 시스템

  • 빠르고, 밀리미터-스케일 단면 절단
  • 통계적으로 유의미한 깊은 표면 하부 및 3D 데이터 분석
  • Helios 5 PFIB 플랫폼의 모든 기능 공유

Spectra 300

  • 원자 수준의 최고 분해능으로 구조적, 화학적 정보 제공
  • 30 ~ 300kV의 유연하고 높은 전압 범위
  • 3 렌즈 콘덴서 시스템

Spectra 200

  • 30 ~ 200kV 가속 전압에서 고분해능 및 콘트라스트 이미지 생성
  • 5.4mm의 wide-gap pole piece 설계에 의한 대칭적 S-TWIN/X-TWIN 대물 렌즈
  • 60kV ~ 200kV에서 Angstrom 미만의 STEM 이미징 분해능

Talos F200i TEM

  • 고품질 S/TEM 이미지 및 정확한 EDS
  • 이중 EDS 기술과 함께 사용 가능
  • 최상의 전방위적인 현장(in situ) 기능
  • 고속으로 대형 관측시야 이미징

Talos F200S TEM

  • 정확한 화학적 조성 데이터
  • 동적 현미경법을 위한 고성능 이미징과 정확한 조성 분석
  • 신속하고 용이한 다중 모드 데이터 획득 및 분석을 위한 Velox 소프트웨어 기능

Talos F200X TEM

  • STEM 세포 이미징과 화학적 분석에서 높은 분해능/처리량
  • 동적 실험을 위해, 현장(in situ) 시료 홀더 추가
  • 신속하고 용이한 다중 모드 데이터 획득 및 분석을 위한 Velox 소프트웨어 기능

Scios 2 DualBeam

  • 자성 및 비전도성 시료에 대한 완벽한 지원
  • 높은 처리량의 표면 하부 및 3D 특성 분석
  • 향상된 사용 편의성 및 자동화 기능

AutoTEM 5

  • 완전 자동 현장(in situ) S/TEM 시료 준비
  • 상-하, 평면, 역 기하학 지원
  • 고도로 구성 가능한 워크플로우
  • 사용이 쉽고 직관적인 사용자 인터페이스

문의하기

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재료 과학을 위한 전자 현미경
서비스

최적의 시스템 성능을 보장하기 위해 세계 수준의 현장 서비스 전문가 네트워크, 기술 지원 및 인증된 예비 부품을 제공해드립니다.