Thermo Scientific Scios 2 DualBeam은 탁월한 시료 준비 및 자기/비전도성 물질을 포함한 다양한 시료에 대해 3D 특성 분석 성능을 제공하는 초고분해능 집속 이온 빔 주사 전자 현미경(FIB-SEM) 시스템입니다. Scios 2 DualBeam은 처리량, 정밀도 및 사용 편의성을 높이기 위해 고안된 혁신적인 기능을 통해 학술, 정부, 산업 연구 환경 전반의 고급 연구 및 분석 분야에서 과학자와 엔지니어의 요구를 충족할 수 있는 이상적인 솔루션입니다.

고품질 표면 및 3D 정보

시료의 구조와 특성을 더 잘 파악하려면 표면 하부 또는 3차원 특성 분석이 필요한 경우가 많습니다. 옵션인 Thermo Scientific Auto Slice & View 4(AS&V4) 소프트웨어를 갖춘 Scios 2 DualBeam을 사용하면 재료 콘트라스트를 극대화하는 BSE(backscattered electron: 후방 산란 전자) 이미징, 조성 정보를 위한 EDS(energy-dispersive spectroscopy: 에너지 분산 분광법), 미세 구조 및 결정학 정보를 위한 EBSD(전자 후방산란 회절) 등 다중 모드 고품질 3D 데이터 세트를 완전 자동으로 획득할 수 있습니다. Scios 2 DualBeam을 Thermo Scientific Avizo 소프트웨어와 결합하여 고분해능, 고급 3D 특성 분석 및 나노미터 크기의 분석을 위한 고유한 워크플로우 솔루션을 제공합니다.

완벽한 시료 정보를 제공하는 초고분해능

혁신적인 NICol 전자 컬럼은 시스템의 고분해능 이미징 및 검출 기능의 기초를 제공해 줍니다. STEM 모드로 30keV에서 작동하거나(구조 정보에 액세스하기 위해) 낮은 에너지에서 작동할 때(전하 없는 자세한 표면 정보를 얻기 위해), 광범위한 작업 조건에서 탁월한 나노단위 세부 정보를 제공합니다. 고유의 렌즈내(in-lens) Thermo Scientific Trinity 검출 시스템을 갖춘 Scios 2 DualBeam은 각 및 에너지 선택적 2차 전자(SE) 및 BSE 이미징을 동시에 수행할 수 있도록 설계되었습니다. 세밀한 나노단위 정보에 빠르게 접근할 수 있으며, 상하뿐만 아니라 기울어진 검체 또는 횡단면에도 빠르게 접근할 수 있습니다. 렌즈 하부 검출기(옵션)와 전자 빔 감속 모드를 사용하면 모든 신호를 빠르고 쉽게 동시에 수집할 수 있어 물질 표면 또는 단면에서 가장 작은 특성을 보여줄 수 있습니다. 완전한 자동 정렬 기능을 갖춘 고유한 NICol 컬럼 설계로 빠르고 정확하면서 재현성 있는 결과를 얻을 수 있습니다.

고품질 TEM 시료를 신속하고 간편하게 준비할 수 있습니다.

과학자와 엔지니어는 더 작은 특성을 가진 점점 더 복잡해지는 시료에 대한 고도로 국소적인 특성 분석을 수행해야 하는 새로운 과제에 직면해 있습니다. Scios 2 DualBeam의 최신 기술 혁신은 사용이 간편하고 포괄적인 Thermo Scientific AutoTEM 4 소프트웨어 및 Thermo Fisher Scientific의 응용 분야 전문성과 결합하여 다양한 재료에 대한 위치별 고분해능 S/TEM 시료를 빠르고 쉽게 준비할 수 있습니다. 고품질 결과를 얻을 수 있도록 시료의 표면 손상을 최소화하기 위해 저에너지 이온을 통한 최종 폴리싱이 필요합니다. Thermo Scientific Sidewinder HT 집속 이온 빔(FIB) 컬럼은 고전압에서 고분해능 이미징 및 밀링뿐만 아니라 우수한 저전압 성능을 제공하므로 고품질 TEM 라멜라를 생성할 수 있습니다.

주요 특징

사양

*옵션으로 사용할 수 있으며 구성에 따라 달라집니다

리소스

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응용분야

기술