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Helios DualBeam에서 페인트 코팅 긁힘 테스트 이미징
Helios G4 PFIB DualBeam에서 수행한
긁힘 테스트 및 페인트 코팅의 접착을 위한 위치 특이적 단면.

재료의 구조 및 물리적 특성을 보다 종합적으로 이해하기 위해 오늘날의 재료 특성 분석은 표면 하부 특성 분석에 점점 더 의존하고 있습니다. DualBeam 기기를 이용한 단면 절단은 DualBeam 기기와 주사전자현미경을 결합하여 FIB로 재료를 밀링하고 나노미터 크기의 고해상도 SEM 이미징을 수행할 수 있게 해 줍니다. 예를 들어, 실패 분석 시 표면 아래의 결함을 찾을 수 있으므로 DualBeams 장비는 실패의 근본 원인을 식별하는 데 이상적입니다.

고분해능 SEM 이미징과 함께 DualBeam의 단면 특성 분석은 최대 재료 대비를 위한 후방 산란 전자(BSE) 이미징, 조성 정보를 위한 에너지 분산 X선 분광법(EDS), 미세구조 및 결정학적 정보에 대한 전자 후방 산란 회절(EBSD)을 사용하여 확장할 수 있습니다.

또한 Thermo Scientific Helios 5 Hydra DualBeam이 출시됨에 따라 이제 당사는 한 기기에 아르곤, 산소, 제논 및 질소 이온 종의 유연성을 제공하여 각 실험에서 최고의 FIB 유형을 선택할 수 있게 되었습니다. 제논 이온은 금속 및 세라믹과 같은 다양한 재료의 고처리량 제거에 적합하며 산소 이온은 탄소 기반 시료에서 뛰어난 밀링 품질을 제공합니다. 매우 큰 부피 특성 분석이 필요한 경우 Thermo Scientific Helios 5 Laser PFIB System은 추가 솔루션입니다. 이 제품을 사용하면 최대 밀리미터 규모로 고처리량 단면 절단이 가능하며 이온 빔에 가장 까다로운 재료(예: 충전 또는 빔에 민감한 시료)도 처리할 수 있습니다. 당사는 이러한 특별한 DualBeam 기능을 당사의 다용도 소프트웨어 솔루션과 결합하여 나노미터 크기의 고급 3D 특성 분석 및 고분해능 분석을 위한 다양한 워크플로우를 제공합니다.


리소스

응용분야

전자현미경을 사용한 공정 제어

전자현미경을 사용한 공정 제어

오늘날 산업계는 우수한 품질의 높은 처리량과 강력한 공정 제어를 통해 유지되는 균형을 필요로 하고 있습니다. 전용 자동화 소프트웨어를 갖춘 SEM 및 TEM 도구는 공정 모니터링 및 개선을 위한 신속하고 멀티-스케일의 정보를 제공합니다.

 

전자현미경을 사용한 품질 관리 및 불량 분석

품질 관리 및 불량 분석

품질 관리 및 보증은 현대 산업에 있어 필수적입니다. 당사에서는 결함에 대한 멀티 스케일 및 다중 모드 분석을 위한 다양한 EM 및 분광법 도구를 제공함으로써 공정 관리 및 개선을 위해 신뢰할 수 있으며 정보에 기반한 결정을 가능하게 합니다.

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기초 재료 연구

새로운 물질은 물리적 및 화학적 특성을 최대한 제어하기 위해 점점 더 작은 규모로 연구되고 있습니다. 전자현미경은 연구자들에게 마이크로에서 나노 범위에 이르는 광범위한 물질 특성의 핵심이 되는 유용한 정보를 제공합니다.

 


시료


배터리 연구

배터리 개발은 microCT, SEM 및 TEM, Raman 분광법, XPS 및 디지털 3D 시각화 및 분석을 통한 멀티 스케일(multi-scale) 분석에 의해 이루어질 수 있습니다. 이 접근 방식이 더 나은 배터리를 만드는 데 필요한 구조 및 화학 정보를 제공하는 방법에 대해 알아보십시오.

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오일 및 가스

오일 및 가스에 대한 수요가 지속됨에 따라, 탄화수소를 효율적이고 효과적으로 추출해야 할 필요성이 계속해서 증가하고 있습니다. Thermo Fisher Scientific은 다양한 석유 과학 응용 분야를 위한 다양한 현미경법 및 분광학 솔루션을 제공합니다.

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금속 연구

금속을 효과적으로 생산하려면 함유물 및 침전물에 대한 정밀한 제어가 필요합니다. 당사의 자동화 도구를 사용하여 나노 입자 계수, EDS 화학 물질 분석 및 TEM 시료 준비 등 금속 분석에 필수적인 다양한 작업을 수행할 수 있습니다.

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촉매 연구

촉매는 대부분의 현대적인 산업 공정에 있어 대단히 중요합니다. 그 효율은 촉매 입자의 미세 조성 및 형태학에 따라 달라집니다. EDS와 EM은 이러한 속성 연구에 매우 적합합니다.

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고분자 연구

고분자 미세 구조는 물질의 벌크 특성 및 성능과 관련이 있습니다. 전자현미경법은 R&D 및 품질 관리 응용 분야의 고분자 형태학 및 구성에 대한 종합적인 마이크로 단위 분석을 가능케 합니다.

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지질학 연구

지구과학은 암석 시료 내 특징을 일정하고 정확하게 멀티 스케일(multi-scale)로 관찰합니다. SEM-EDS는 자동화 소프트웨어와 결합하여 암석학 및 광물학 연구를 위한 텍스처 및 광물 구성의 직접적인 대규모 분석을 가능하게 합니다.

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제품

기기 카드 원본 스타일시트

Helios Hydra DualBeam

  • 가장 광범위한 물질에 대한 최적화된 PFIB 처리를 위한 고속 전환가능한 4개의 이온 종(XE, AR, O, N)
  • Ga 없이 TEM 시료 준비
  • 초고분해능 SEM 이미징

Helios 5 DualBeam

  • 완전 자동 고품질 초박형 TEM 시료 준비
  • 높은 처리량의 고분해능 표면 및 3D 특성 분석
  • 고속 나노 프로토타입 제작 기능

Helios 5 PFIB DualBeam

  • 갈륨 없이 STEM 및 TEM 시료 준비
  • 다중 모드 표면 하부 및 3D 정보
  • 차세대 2.5 μA 제논 플라즈마 FIB 컬럼

Scios 2 DualBeam

  • 자성 및 비전도성 시료에 대한 완벽한 지원
  • 높은 처리량의 표면 하부 및 3D 특성 분석
  • 향상된 사용 편의성 및 자동화 기능

Auto Slice and View 4.0 소프트웨어

  • DualBeam을 위한 자동 연속 절편
  • 다중 모드 데이터 수집(SEM, EDS, EBSD)
  • 즉각적인 편집 기능
  • 모서리 기반 절단 배치

AutoTEM 5

  • 완전 자동 현장(in situ) S/TEM 시료 준비
  • 상-하, 평면, 역 기하학 지원
  • 고도로 구성 가능한 워크플로우
  • 사용이 쉽고 직관적인 사용자 인터페이스

AutoScript 4

  • 개선된 재현성 및 정확도
  • 무인 조건에서 고처리량 이미지 생성 및 패턴 작업
  • Python 3.5 기반 스크립팅 환경에 의한 지원
Style Sheet for Komodo Tabs

em-h2-헤더 등급으로 H2를 p로 변경하기 위한 스타일 시트

문의하기

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Style Sheet for Fonts
Style Sheet for Cards

재료 과학을 위한 전자 현미경
서비스

최적의 시스템 성능을 보장하기 위해 세계 수준의 현장 서비스 전문가 네트워크, 기술 지원 및 인증된 예비 부품을 제공해드립니다.